Зондовая головка

 

««- «о-«щл н, ri.,-ñ . Ф- ° c;. n. .-„"""" a e

Союз Советских

Социалистииеских

Республик

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН Ия

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

«16694 (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 21.11.77 (21) 2544346/18-21 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет— (51) М. Кл

Н 01 L 21/66

Государственный комитет

СССР пп делам нзабретвннй н открытий (53) УДК 621.315..684 (088.8) Опубликовано 25.06.79. Бюллетень № 23

Дата опубликования описания 03.07.79 (72) Авторы изобретения

В. Ф. Бородзюля и В. В. Голубев (71) Заявитель Ленинградский политехнический институт им. М. И. Калинина (54) ЗОНДОВАЯ ГОЛОВКА

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для исследования однородности распределения электрофизических свойств по поверхности полупроводниковых и диэлектрических материалов, а также для оценки качества технологического процесса при производстве различных элементов интегральных микросхем.

Известен зонд для измерения характеристик полу п роводниковых и диэлектрических материалов, который измеряет параметры образца на малых участках его поверхности, содержащий корпус и контактный элемент, выполненный из твердого или жидкого металла (1) .

Недостатками данных устройств является то, что после проведения измерений в определенной точке образца, зонд надо поднять и передвинуть на другое место, т. е. можно осуществлять только дискретное сканирование поверхности образца. Кроме того, точность измерения такими зондами низка.

Наиболее близкой к предлагаемой является зондовая головка, содержащая корпус, металлический зонд и соединенный с ним электроконтактный вывод (2) .

К недостаткам данного устройства относятся невысокая точность измерения и ограниченные функциональные возможности.

Цель изобретения — расширение функциональных возможностей и повышение точности измерений.

Это достигается тем, что зондовая головка, содержащая корпус. зонд и соединенный с ним электроконтактный вывод, снабжена размещенным на корпусе ограничительным кольцом с внутренней полостью, заполненной жидким диэлектриком, причем на поверхность корпуса нанесен электроизоляционный слой, на котором расположен зонд, причем корпус и ограничительное кольцо выполнены из упругого материала. В качестве упругого материала использован материал с коэффициентом Пуассона, равным нулю, à B качестве жидкого диэлектрика использовано силиконовое масло.

На чертеже изображена предлагаемая зондовая головка.

20 Она содержит корпус 1 с нанесенным на его контактную часть электроизоляционным слоем 2, на котором расположен металлический зонд 3, соединенный с электроконтактным выводом 4.

669430

Формула изобретения

Составитель Н. Сменов

Техред О. Луговая Корректор М. Пожо

Тираж 922 Подписное

ЦИ ИИ ПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений н открытий

1 I 3035, Москва, Ж вЂ” 35, Раушская наб., д. 4!5

Филиал ППП «Патент», г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Редактор М. Рогова

Заказ 365 OI44

На корпусе зогровой гловки расположено ограничительное кольцо 5, выполненное из 1рббки с внутренней полостью 6, заполненной жидким диэлектриком, например силиконовым маслом.

Тонкий слой жидкого диэлектрика сма- s чивает рабочую поверхность зондовой го ловки, у)мен ьшает коэффициент трения скольжения зондаi по образцу и предотвращает стирание контактной площадки зонда. Тол1цина слоя жидкого диэлектрика мала (порядка нескольких нанометров) и не влияет

1О на прохождение в измерительную цепь тестового электрического сигнала.

Работа с зондовой головкой осуществляется путем наложения ее на образец, сканирования зондовой головки при помощи механизма перемещения зонда (на чертеже не показан) и регистрации сигнала на измерительном устройстве.

Данная конструкция зондовой головки позволяет изготовить и более сложную топологию электропроводящего рисунка на рабочей поверхности корпуса, что расширяет функциональные возможности, например, может быть изготовлен зонд с охранным кольцом с зазором 10 мкм или зонд с несколькими контактными площадками, например, для измерений по методу четырехзондового контроля (на чертеже варианты изготовления зонда не показаны).

Применение предлагаемой зондовой оловки позволяет также повысить точность зо измерений, так как в данном случае площадь металлического контакта фиксирована и не зависит от давления прижимающего зондовую головку, причем контактные площадки могут быть выполнены небольшого размера (30 мкм) .

Данная зондовая головка позволяет расширить класс исследуемых полупроводниковых и диэлектрических образцов.

l. Зондовая головка, содержащая корпус, зонд и соединенный с ним электроконтактный вывод, отличающийся тем, что, с целью расширения функциональных возможностей и повышения точности измерений, она снабжена размещенным на корпусе ограничительным кольцом с внутренней полостью, заполненной жидким диэлектриком, причем на поверхность корпуса нанесен электроизоляционный слой, на котором расположен зонд.

2. Зондовая головка по п. 1, отличающаяся тем, что корпус и ограничительное кольцо, выполнены из упругого материала

3. Зондовая головка по пп. 1 и 2, orëèuav a cs тем, что в качестве упругого материала использован материал с коэффициентом Пуассона, равным нулю.

4. Зондовая головка по и. 1, отличающаяся тем, что в качестве жидкого диэлектрика использовано силиконовое масло.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Патент CIIIA ¹ 3794912, кл. 324 — 62

1973.

2. Патент ФРГ «№ 2440305, кл. Ci 01 R 31, 26, 1976.

Зондовая головка Зондовая головка 

 

Похожие патенты:
Изобретение относится к методам контроля микродефектов и может быть использовано в производстве полупроводниковых приборов для контроля слоев прозрачных пленок

Изобретение относится к технике контроля параметров полупроводников и предназначено для локального контроля параметров глубоких центров (уровней)

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к полупроводниковой технике и направлено на повышение точности измерения параметров эпитаксиальных слоев на изотипных проводящих подложках и применение стандартных образцов, изготовленных по технологии, обеспечивающей существенно более высокий процент выхода годных и более высокую механическую прочность

Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано для выявления и анализа структурных дефектов (ростовых и технологических микродефектов, частиц второй фазы, дислокаций, дефектов упаковки и др.) в кристаллах кремния на различных этапах изготовления дискретных приборов и интегральных схем

Изобретение относится к области силовой полупроводниковой техники и может быть использовано при изготовлении тиристоров и диодов
Изобретение относится к неразрушающим способам контроля степени однородности строения слоев пористого кремния

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения электрофизических параметров материалов, и может быть использовано для контроля качества полупроводниковых материалов, в частности полупроводниковых пластин
Наверх