Эталон для определения чувствительности систем радиоационного контроля

 

ОПИСАН"ИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

Сова Советских

Социалистических

Республик

< >6999I5

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 21.07.78 (12) 2649403/18-25 (51) М.Кл. G 01 N 23/18 с присоединением заявки— (23) Приорытет—

Государственный комитет по делам изобретений и открытий (43) Опубликовано 30.12.81. Бюллетень № 48 (53) УДК 621.039 (088.8) (45) Дата опубликования описания 30.12.81 (72) Авторы изобретения

В. А. Троицкий, А. А. Адаменко, М. И. Валевич, В. С. Гром, В. Г. Демидко и И. Г. Ростковский (71) Заявитель Ордена Ленина и ордена Трудового Красного Знамени институт электросварки им. E. О. Патона (54) ЭТАЛОН ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ

ЧУВСТВИТЕЛЪНОСТИ СИСТЕМ РАДИАЦИОННОГО

КОНТРОЛЯ

Изобретение относится к неразрушаю щему контролю материалов и изделий, в частности к радиационному контролю, и может использоваться для оценки чув. ствительности систем радиационного кон. троля.

Известны эталоны чувствительности, применяемые при просвечивании контро лируемого,изделия пучком ионизирующего излучения, состоящие из набора прово. 1о лочек, расположенных параллельно друг другу на определенном расстоянии 11).

Однако такие эталоны не могут быть использованы для определения реальных ,дефектов, поскольку расположение эталон Is ных дефектов заранее известно оператору.

Наиболее близким к изобретению тех ническим решением является эталон для определения чувствительности систем ра диационного контроля, содержащий пла- 20 стину с набором случайно расположенных дефектов (2).

Недостатком данного эталона являются ограниченные функциональные возможно. 25 сти, что обусловлено отсутствием возможности изменения расположения эталонных дефектов.

Цель изобретения — расширение функцион ал ьн ых воз мои ностей. 30

Это достигается тем, что эталон для определения чувствительности систем ра диационного контроля, содержащий пластину с набором случайно расположенных эталонных дефектов, снабжен дополни тельными пластинами с разным набором случайно расположенных дефектов, установленными параллельно друг другу с возможностью вращения вокруг общей оси.

На чертеже изображены два вида эталона.

Эталон содержит пластины 1, установленные на оси 2 вращения. Эталонные дефекты 3, 4 и 5, выполненные в виде свер. лений, находятся на верхней, средней и нижней пластине, соответственно. Эталон изготавливается из того же материала, что и контролируемое изделие. Размеры эталонных дефектов приравниваются к размерам предельно допустимых дефектов. Координаты эталонных дефектов на пластине выбраны из таблицы случайных чисел.

Эталон для определения чувствительности применяется по следующей методике.

Пластины 1 перед просвечиванием уста. навливаются в произвольном положении друг относительно друга путем поворота каждой пластины на произвольный угол

699915

Формула изобретения

Составитель Н. Валуев

Техред Л. Куклина Корректор И. Осиповская

Редактор И. Марголис

Заказ 1624/1229 Изд. № 604 Тираж 915 Подписное

НПО <Поиск» Государственного комитета СССР по делам изобретений н открытий

113035, Москва, 7К-35, Раушская наб., д. 4/5

Тип. Харьк. фил. пред. <Патент» вокруг общей оси 2. При этом расположение дефектов 3, 4 и 5 друг относительно друга приобретает случайный характер.

Дефекты определяют по снимку как относительное число обнаруженных дефектов, При последующем просвечивании пластины 1 вновь устанавливаются в произвольном положении друг относительно друга путем поворота на различные углы вокруг оси 2 вращения. При этом реализуется новый вариант случайного распределения эталонных дефектов, но их общее число постоянно.

Эталон для определения чувствительности систем радиационного контроля, содержащий пластину с набором случайно расположенных эталонных дефектов, о тличающийся тем, что, с целью расширения функциональных возможностей, 5 он снабжен дополнительными пластинами с разным набором случайно расположенных дефектов, установленными параллель но друг другу с возможностью вращения вокруг общей оси.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе:

1. Румянцев С. В. Радиационная дефектоскопия. М., Атомиздат, 1974, с. 164.

2. Там же, с. 169 (прототип).