Электронный микроскоп

 

.% 7175

Клясс 21<, 17е всгсощд;д

«стен<);о.

TEXtflf)ffg(д :" "ИОт)Р(х (ЯЯ ! <. .< г( »

В. h. Вер))нер

ЭЛЕКТРОННЫЙ )) ИКРОГКОП. :аяа)ено Bj а к >cl»! I l ": >а !) Ч<1 3«c<((H«!JHH ((:(!, <) <) (!77t"> э 9 !. )1!3<(! >к за«3<, 3<> (LJ«!Я

Предметом настояшег< !! «:брсггНИЯ ЯВ )ЯЕТСЯ КОНСТРХ K!Iilя Э -)(КТ ) ОИ !

lого

Таадиять пять тысяч раз, i примеicTI1Ic:)T магиитиы i ..I;iíç;<.;)Ил<ррагмы, распо10же:)Пой иа пути электрон-;0!0 луча от элс-;трочноц ихшкц

ДО КОИДЕНСОО;)Ой Л;«ЦЗЫ.

fl(. > lL ),l;! М )Я! и<" Эт<>й И !0( кости.

Коне? Р1 КЦ )Я Рлз ) 3»H(00!I .1;)лфра« мы, рлс?)Оло?кси?101! ?!(рс,) кочДЕНСО,)НОИ IИНЗОЙ, .103!30?IЯГ! И.l;1!3Н 0 И 3 М С и 3! Т B C il i l Bi!I Y (>, !! <. p (. т и 51 и 1

0,1 )О > 3!,3< 11,Г?«Тp!!!!h!! Iil!!(j!I)!ll >1)>1 про?!заог? !1(и при .1(ч«<.1 (l! ):> Гх гибК И Х С I и "I Ьф О Н 0 B Ы Х <". () (, (i l i l (Н И,: I, >3 .3 ()ляюших зз;)ли;: l l> )1«лфрлгxl(hj)(сто ь«е и,>Pile!))p«) я

На исзерхцость ли<иррл)мы 1 >, оби)Л I (!(! I!IТ:(> li э, ICктч<ч< )?Г)! . I»1! I К(.

Наliс 3)ТСH ф. !(Орссиllр < )Опiilll <., I<>й.

I lpè иом<иии icph! Г:I(Гс»1,! 1, ) чер 3 i >1(.I.po !

>, м Ож и <3 ил бл 1(>.1„.11 1, 3 л

ИУ"(1 КОМ, БЫХ(>ДЯIИИ М i!.3 ИМ!11 КИ р «и 1< и ь< I и с 1?:)и?) (1) р <) I. Ll ) I («!J j) <)» i .

17 ц 1<8 U<)(:3)IHЧ liû р»к(;Ятк;)»il );1!3

7ЕИИЯ:)1)ЛГ)"„ :Г «0)! 13 (11, ll фоц.

После к"н,зе) <гг<;рц<)й i;lí3», ! фl!Г. 1 ) !1<3 .! Гll 1»чл Il?! ходlIT<. )l !iекта, 33 к<>торо)1 ирс;)уГмГтр(1! ))«>к 4 л, TЯ с >!(>иi>! Об()«)3Ц(13

I I p C .7» C T l l 1 1!! C T (,. I I! h М:, I!(I) O C!i O! l Л, НЛХО:(ЯИ)И И С Я !3 КЛ М(Pi) <>, 3 !;It. .1:)И !

10>Л «ОС !! Ь)С «! «) КОН ("(! Ill !iil 0() Ь(! 1 il!3!1() I

7BfI3«>1 D 1I .103i3O1!lCT ) ГТЩГС1)37HI !) перемещение ооъphT;i !3 п)ух н,il1P«7B7PНИЯХ Ilj)i3 ПОМОИ? 1;)УiiOHTOh.

Наблюдение прох!((жуточио!.о»!30бражения произ!зодит(я через лк)к <).

19(!

О(Сбеи?!О(T! «I<)CT< H11I< T() IIBOApP< ЕИИ 5! ЗЛК I)i!!I!ЛС1 СЯ f3 КОИСТР1 h!T!I?l раздпижной диафрагмы, позноля«ошей облегчить ! Y«)H i(c)lie I РУкция позволяет тл кж(.!змеи)1 гь и широких T)pp;I(. 1;! i;J!1("!) Г1 01 <) нетитсль

H O i j (И Г Т(» 1:,!

Г (I II H

ГО микроскопа; н а ф и . (J;! 3 д 13 I I ж! л ?1,1 и d ф р а Г м а:

Hа фиг. 3 . xLi!H коцде горной лин31>l .

Ос()етитсль!!«)31 сис1 »d микроскопd CC>СIОИГ il:3 Э.l(КТР. «)НОИ И > ШКИ и ко«)деисорной линзы 2. Электрон«!Ляя пуlи кл !31!?1(!ли сна тл к, что нить

hBTO T<) При II041т <)blTT> точис уcTBHoBг!Сна oTllccliтс,1ь!!o Отнсрстия, тпра13ля!още< о электрода, как вдоль плоскости МОГО От))ерстия, так и по лиОПИСАНИК ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКС}МУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Хо 73758

Проекционная лшlçii т аналоги« на ооъектнвной л)шзе «о конструктивному выполнен«к) и несет на себе флюоресциру)о)ц.1й экр;«1. «зображение на котором рассматр;1нае) ся в люк 6. Набл1одение окончательной картины производится рез л)ок 9, центральная часть последнего экрана имеет вреза»lyl<> призму полного внутре)1«его отражения.

Изображение, получаемое Ia эгом участке, может быть рассмотрено через оптический мнкр1)скон

Лк) к 10 служит лл я смены фо гонл;:.

cтинок

Малый объем всего микроскопа жесткое соед)шение его частей позволили ооойтись без вакуумных

:«люзов.

Вакуумное раснределительш)е устройство 11 «насос 12 компактно рас«олож IIbI1:1 нижней части мик1) Ос к() Il а .

1Ipc,i»ci «11)брс fåí«я

Эл fcfp0! IIII III микроскоп с диафрагмой, ряспол1)жс «1«;й перед конде«сорной л:1нзой на пути электронного луча от электронной пу!LIYII, конструкция которой обесне 1«ваез возможность изменения положеши осн луча относительно оси микроскопа, о т л и ч а ю гц и и с я тем, чт1) для облегчения юстировки микроскопа путем изменения наклона оси

-лек)ронн1)г1> луча относительн1; ()c«м«1.росно«а диафрагма выполнена раздвихкной с тем, чтобы прн юстировке можно было увелич;1ть отверстие диафрагмы до максимума и тем ооеспечить 1)озможность прохождения электронного луча к конденсорной л)шзе независимо ог и а клона его ос«.

Электронный микроскоп Электронный микроскоп 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к электронным вакуумным приборам, в частности к эмиссионным микроскопам и видеоусилителям, и раскрывает способ визуализации и увеличения изображений исследуемых объектов

Изобретение относится к области электронной микроскопии

Изобретение относится к области электронных приборов, в частности к эмиссионным видеоустройствам

Изобретение относится к области научного приборостроения и может быть использовано для получения топографии проводящих поверхностей, а также для изучения физико-технологических свойств твердых тел

Изобретение относится к сканирующей туннельной спектроскопии и может быть использовано для получения топографии проводящих поверхностей, а также изучения физико-технологических свойств твердых тел

Изобретение относится к исследованию микрорельефа как проводящих, так и непроводящих поверхностей образцов твердых тел

Изобретение относится к области нанотехнологий, в частности к измерению температуры одной проводящей (металлической или полупроводниковой) наночастицы с помощью сканирующего туннельного микроскопа, работающего в режиме наноконтакта и использование эффекта Зеебека в наноразмерной контактной области

Изобретение относится к эмиссионной электронике и предназначено главным образом для изготовления микроострий-зондов для туннельных микроскопов, а также точечных автоэлектронных источников и образцов для автоэмиссионной микроскопии
Наверх