Электростатический электронный микроскоп

 

«>)!а 79645

Класс 21», 35

СССР

Д. В. Фетисов

ЭЛЕКТРОСТАТИЧЕСКИЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП

Заявлено 12 февраля 194(! года в Ко)!Ятет !К> ивопретеииям и ot>(ðitT>>H)t ири Совете Чииистров CCC1);(¹ 3!11734

Нас) о!1Нгим 1!Зоорстснисхl предла гастся элсктростлтически!! электронный микроскоп, имеющий одно вакуумное соединение. Оптика микp0c1 uItH монтирует(.я на металлическом тубус« и точно центрируется при помощи Оптических методов.

Тубус смещен в колонне; это позвоIIipT подвес! и питани(Вн) т1)и колОHHЫ и 110«!х"lить пpcдсльный Вакуум во всем сс 00 ьсме.

1-!с.!0« атком существующих электронных микроскопов !Вг!Яется необходимость многих вводов высоко!.0 напряжения ll «1)явннтсльно низкий предельный вакуу)t системы. ПОслсднее 00 ь!1с)tя(T(я ttрсждс

ВСЕГО (ЮЛЬШИМ СОПРО)ИВЧЕПИЕМ KOлонпы с ес сложны)i внутренним профилем, что t:oäòâ(.ðæ Jåíî просчетом этих систем. Кроме того, имеет значспис большое количество вакуумных вводов.

Отличи гсльной (>«обеппостью предлагаемого микроскопа является эксцснтри !нос расположение тубуса с электронной оптикой в колонне, позволгпощее получить предельный вакуум во всем объеме колонны и

Осу щсстви гь o()HI HII НОДВОД JIHIIpHit((ппя внутри колонны.

OtiH«ывлсмый микроскоп изображен пл прилагаемом чертеже.

Злсктроны, выделяемые накалени ы )! 1(!1 то 10)! 1, форм и1)Уют«я в

t f ), ч О и I l у с к 01) я ю тс )1 п р и и О. 0 щи упрявляк)щег0 электрода 2 и аноднс>!г! 1!tяф1>лгмы . > . Перед ooьектом

10 установлена осветительная диафрл!.ма 4, вырезающля тонкий ny tol() >ек 1)Онов, t(oTQPbltI па дл(г чя объект, частично рас(с ива т(я Б пс)! и, фиксирч)1«ь л и11иами ), 6 и 7. дает изображение Hл эк1)л>!с 8 H«HI фотог!ластинкс . Все элсктpof! Но-,)учевые элементы установлен ы на металлическом тубус(9. При работе прибора необхоIt!i!(> р«гулv!ровaт!> только положение H»(H катода винтом 1) и rte))()!с!Ис1ть ОО ьект 10 и(.p(3, пок 10 д. IЯ

fJhIO0j) <1 t I) )KНОГО 4 1(1(ТКя рлССмо

1РСПИЯ.

Тубус устанавливается эксцентри IHo в металлический кожух 11, представляющий собой корпус. микро; YÎIIH. Зазор между тубусом и корпусом может быть легко доведен до «с чсния, у.говлетворяющсго

¹ 79645 выбранной скорости отка IKH насоса. Эксцснтри Гное располо>кение тубуса позволяет получить необхо;),ИМ ОС МССТО Д I H Рс(ЗЫСП(СН I>I Н РО

B0;t0B высокого напряжения к ОсВСTHT! 7hHE)II HC TE.".!(. П а (с К. РО-(а il

ЛШ(З ) 2. Так!!3! ОбрсКIÑ)Ì, ВСС II)>0вод(1 B I>I(!)KO! l! (!i! )) 5!ЖС11И я р а(ПОЛЯ ГBIOT E H BHET)>H !с((Т(1 ° If) BEE)!<01 E)

КОРИ\ С сl и BB0 (I Hт(,1 В ОДНО(! М ССТС, 1ик))оскОП, !1м(и ОДиl(1)во,t ;ысокО

ГО П i! П Р и Ж С 1(И)1, ) I 0>КСТ ()! IТЬ Сл10Н I !I))0B

I3hI(E>K()! 0 нIE(!Ill)I 1> 3!0>к>(0 р(((пос!0>{си l ь под с(0,!Ом 1/ через фотокамеру с >.

Предмет изобретения

Электро(т>!тичс(кий 3:!сктс)онный микроскоп, о Tл и l а 10 и(и и с я тем, ЧТО, (. НСЛ1>10 ПО, 1! с!С!!liH Ii))OÄÑ,7fçi)OÃO

13 (к> уMII Во 130 M обbB)(0 н осуп(сств,:!ения подвода напряжения внутри колонны, тубус с элекT)) 0HHGH «ПТИКОЙ С:с!Е!НЕII O I )IOE. Hтельно Оси 1 Олонны, Ол(!ГОдаря !(.— му откачка колонны может произВОД(!ТЬСЯ НРH ОДНОМ B!IK ) УМНос1(ВВО» сс Е

Электростатический электронный микроскоп Электростатический электронный микроскоп Электростатический электронный микроскоп 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к сварке, в частности к устройствам для электронно-лучевой сварки, и может быть использовано при сварке тугоплавких и жаропрочных материалов в различных отраслях машиностроения

Изобретение относится к устройствам для электронно-лучевой сварки и может быть использовано для сварки тугоплавких и жаропрочных материалов в различных отраслях машиностроения

Изобретение относится к устройствам для электронно-лучевой сварки и может быть применено при сварке жаропрочных и тугоплавких изделий в различных отраслях машиностроения

Изобретение относится к электронно-лучевой сварке плавлением, тугоплавких и жаропрочных материалов и может найти применение в различных отраслях машиностроения

Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию, к устройствам, обеспечивающим транспортировку и установку зондов и образцов в позиции измерения и функционального воздействия

Изобретение относится к ядерной технике, в частности к исследованию материалов, подвергающихся воздействию радиации

Изобретение относится к способам получения изображений в растровой электронной микроскопии

Изобретение относится к сканирующей туннельной спектроскопии и может быть использовано в зондовых микроскопах и приборах на их основе

Изобретение относится к области научного приборостроения и может быть использовано при выпуске просвечивающих электронных микроскопов

Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию и предназначено для замкнутого цикла производства новых изделий наноэлектроники

Изобретение относится к микробиологии и может применяться при профилактике инфекционных болезней

Изобретение относится к вакуумной технике и предназначено для проведения операций по перемещению объектов внутри вакуумных систем
Наверх