Устройство для контроля радиодеталей по внешнему виду

 

н — сс-А".%в

< о767871

„бi TCtf

Союз Советскнк

Социалистических

Республик

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (Ь1) Дополнительное к авт. свид-ву « (22) Заявлено 260678 (21) 2635623/18-21 с присоединением заявки ¹ (23) Приоритет

Опубликовано 30,09,80, Бюллетень Мо 36 (51)М. Кл З

H 01 L 21/70

Государственный комитет

СССР оо делам изобретений и открытий (53) УАК 621. 382. .002(088.8) Дата опубликования описания 300980 (72) Авторы изобретения . Naxaea, В.И. Миненков, -Л.Д. Ожерельева и B.И. Кононов з (71) Заявитель

{54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ РАДИОДЕТАЛЕЙ ПО ВНИЩВМУ

ВИДУ

Изобретение относится к полупроводниковой технике, в частности к оборудованию для контроля внешнего вида интегральных микросхем в корпусах ДИП.

Известно устройство для радиодета-5 лей, содержащее механизмы загрузки и выгрузки и корпус с транспортными каналами в виде струн, натянутых между роликами и соединенных с приводом 11) . tO

Однако такое устройство не обеспечивает всестороннего осмотра изделий и группового вращения изделий с возможностью остановки и их возврата для более тщательного осмотра. 15

Цель изобретения — повышение производительности работы и улучшение эксплуатационных воэможностей. устройства.

Это достигается тем, что в устрой-20 стве для контроля радиодеталей по внешнему виду, преимущественно интегральных микросхем, содержащем механизмы загрузки и выгрузки и корпус с транспортными каналами в виде 25 струн, натянутых между роликами, соединенными с приводом,,ролики выполнены в виде шестерен с отверстиями для прохода интегральных микросхем, закрепленных на противоположных ЗО

2 сторонах корпуса, а струны транспорт.ных каналов закреплены на шестернях с возможностью совместного вращения с микросхемой; механизмы загрузки и выгрузки снабжены гнездами, расположенными на каждой шестерне по сторонам каждого транспортного канала, кроме того, устройство снабжено установленным под транспортными каналами сменным экраном, выполненным по цвету, контрастно отличным от цвета микросхемы.

На фиг. 1 показано предлагаемое устройство, общий вид, на фиг. 2 корпус с транспортными каналами и двуплечим рычагом; на фиг. 3 — транспортные каналы в разрезе; на фиг.4 схема расположения изделия в струнах транспортного канала.

Устройство содержит корпус 1, на противоположных сторонах 2 которого крепятся шестерни 3 с отверстиями 4 для входа и выхода микросхем 5, находящиеся в одновременном зацеплении с реечным приводом 6, вращающим транспортные каналы 7., образованные тремя струнами 8. На шестернях 3 со- осно с транспортными каналами 7 крепятся загрузочные гнезда 9 с фиксатором 10 и межоперационной тарой в виJ

767871 це загрузочных лотков 11. Устройстso установлено на соединенных шарнирно двуплечих рычагах 12 с возможнос тью вертикального перемещения корпуса 1. Под транспортными каналами 7 расположен сменный экран 13 иэ непрозрачного материала с цветом,, контрастно отличающимся от цвета койтролируемах интегральных микросхем 5. Для. пополнения транспортных каналов 7 заведомо годными схемами 5 (взамен ьтбракованных) устройство имеет дозагрузочные гнезда 14 с фиксаторами 10 и дозагрузочными лотками 15.

Устройство работает следующим образом.

Лотки 11 .с интегральными схемами 15

5 вставляются в загрузочные гнез -" да 9, которые крепятся на шестернях 3 с отверстиями 4 для входа и выхода интегральных схем 5, находящихся на торцовой стороне 2 корпуса 1 уст- 20 ройства. Загрузочные гнезда 9 выполняются соосно с транспортными каналами 7. Транспортные каналы 7 интегральных схем 5 в корпусе ДИП образованы тремя струнами 8, имеющими общий механизм натяжения. Затем при помощи двуплечего шарнирного рычага 12 осуществляется подъем стороны устройства на угол 25-30о от горизонтальной плоскости. Так как загрузочные гнезда 9 лотков 11 и транспорт-ЭО ные каналы 7 выполнены соосно, интегральные схемы 5 беспрепятственно поступают из лотков 11 в струнные транспортные каналы 7. Емкость транспортных каналов 7 соответствует емкости лотков 11, и поэтому последние полностью освобождаются от"интегральных схем 5. После перегрузки интегральных схем 5 нз лотков 11 в транспортные каналы 7 устройство 4О возвращается в .горизонтальное (исходное) положение. Под транспортными каналами 7 находится сменный экран 13 из непрозрачного материала, цвет которого контрастно отличается от цвета корпуса проверяемой схемы 5. В случае темного цвета корпусов интегральных схем 5 ставится светлый сменный экран 13 (и наоборот).

Этим обеспечивается возможность более тщательного контроля интегральных схем 5 по внешнему виду. Оператору легко увидеть любые дефекты внешнего вида схема 5. Это значительно облегчает его работу. При помощи реечного привода 6 осуществляется поворот 55 транспортных каналов 7 на 360О, .при этом производится всесторонний осмотр схем 5. Так как транспортные каналы 7 выполнены струнными, то не остается на интегральной схеме 5 участков, труднодоступных для осмотра оператором. Реечный привод 6 позволяет производить останов и фиксацию транспортных каналов 7 в любой момент, а также по необходимости 65 осуществить обратное вращение. Брако ванные интегральные схема 5 удаляются из транспортных каналов 7 конструктивно простым приспособлением (не показано). Неполные транспортные каналы .7 заполняются заведомо годными интегральными схемами из доэагруэочных JIOTKQB 15, которые находятся с другой торцовой стороны 2 корпуса 1 и установлены в доэагруэочные гнезда 14 устройства также соосно с с транспортными каналами 7. Для проведения дозагрузки убираются фиксаторы 10, закрывающие отверстия входа и выхода интегральных схем 5 в доэагру-. зочные гнезда 14. Для проведения дозагрузки транспортных каналов 7 годными янтегральиыми схемами 5 и загрузки их обратно в лотки 11 осуществляют подъем устройства при помощи дву" плечего шарнирного рычага 12 на угол

25-30оот горизонтальной плоскости в обратном направлении, т.е. левой по чертежу стороны устройства. Затем устройство возвращается в горизонтальное (исходное) положение. Заполненные годными схемами 5 лотки 11 вынимаются из загрузочных гнезд 9 устройства, а оставшиеся интегральные схемы 5 в транс" портных каналах 7 возвращаются s доэагруэочные лотки 15, и отверстия 4 входа и выхода интегральных схем 5 в дозагрузочных гнездах 14 закрывают- ся фиксаторами 10.

Формула из обретения

1. Устройство для контроля радиодеталей по внешнему виду, преимущественно интегральных микросхем, содержащее механизма загрузки и выгрузки и корпус с транспортными каналами в виде струн, натянутых между роликами, соединенными с приводом, о т л ич а ю щ е е с я тем,что, с целью повышения производительности работы и улучшения эксплуатационных возможностей, ролики выполнены в виде шестерен с отверстиями для прохода интегральных микросхем, закрепленных на противоположных сторонах корпуса, аструны транспортных каналов закреплены на шестернях с воэможностью совместного вращения с микросхемой.

2. Устройство по п.1, о т л и ч аю щ е е с я тем,что механизмы загрузки и выгрузки снабжены гнездами, расположенными на кажцой шестерне по обеим сторонам каждого транспортного канала.

3. Устройство по п.i, о т л и ч аю щ е е с я тем, что оно снабжено установленным под транспортными каналами сменным экраном, выполненным .по цвету, контрастно отличным от цвета микросхемы.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Патент CEJA 9 3849859, кл. Н 05 К 13/04, 26.11.74.

767871"

Щг.3

Щг. 9

Составитель 3.Яшина

Редактор E. Караулова Техреду A. Ач Корректор И.Муска

Заказ 7213/49 Тираж 844 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП "Патент", r. Ужгород, ул. Проектная, 4

Устройство для контроля радиодеталей по внешнему виду Устройство для контроля радиодеталей по внешнему виду Устройство для контроля радиодеталей по внешнему виду Устройство для контроля радиодеталей по внешнему виду 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технике контроля параметров полупроводников и предназначено для локального контроля параметров глубоких центров (уровней)

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к полупроводниковой технике и направлено на повышение точности измерения параметров эпитаксиальных слоев на изотипных проводящих подложках и применение стандартных образцов, изготовленных по технологии, обеспечивающей существенно более высокий процент выхода годных и более высокую механическую прочность

Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано для выявления и анализа структурных дефектов (ростовых и технологических микродефектов, частиц второй фазы, дислокаций, дефектов упаковки и др.) в кристаллах кремния на различных этапах изготовления дискретных приборов и интегральных схем

Изобретение относится к области силовой полупроводниковой техники и может быть использовано при изготовлении тиристоров и диодов
Изобретение относится к неразрушающим способам контроля степени однородности строения слоев пористого кремния

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения электрофизических параметров материалов, и может быть использовано для контроля качества полупроводниковых материалов, в частности полупроводниковых пластин
Наверх