Устройство для контроля параметров линейных интегральных микросхем

 

О П И СА НМ

ИЗОБРЕТЕНИЯ i ц 777604

Союз Советских

Социалистических

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву № 661439 (22) Заявлено 28.12.78 (21) 2704678/18-25 с присоединением заявки № (23) Приоритет (43) Опубликовано 07.11.80. Бюллетень № 41 (45) Дата опубликования описания 07.11.80 (51) М. К .

G 01R 31/26

Государственный комитет

СССР по делам изобретений и открытий (53) УДК 621.382.3 (088.8) (72) Авторы изобретения

В. М. Дубовис и Ю. Н. Чернышев (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПАРАМЕТРОВ

ЛИНЕЙНЫХ ИНТЕГРАЛЪНЪ|Х МИКРОСХЕМ вх 5 ./ „= К выход вых, 30

Изобретение относится к электронной технике и может быть использовано для контроля параметров усилителей в интегральном исполнении при их серийном производстве и испытаниях. 5

По основному авт. св. № 661439 известно устройство для контроля параметров линейных интегральных микросхем, содержащее первый и второй операционные усилители, генератор испытующего сигнала, два 10 резисторных делителя напряжения, резистор, конденсатор, причем один вход первого операционного усилителя подключен к генератору, другой через конденсатор — к входу испытуемой микросхемы, выход пер- 15 ного усилителя через резисторный делитель соединен с одним входом второго усилителя, другой вход которого через резистор — с генератором (1).

Это устройство единовременно формирует тестовые измерительные схемы для измерения коэффициента усиления и входного сопротивления и повышает быстродействие при контроле параметров микросхем.

Величины входного сопротивления испытуемой микросхемы определяются по формуле где U» — напряжение генератора; /выхз — напряжение на выходе второго операционного усилителя;

Лз — сопротивление резистора обратной связи первого операционного усилителя.

Недостатком известного устройства является дополнительная погрешность измерения, связанная с температурой и временной нестабильностью выходного напряжения генератора испытующего сигнала, неудобством вычисления величины входного сопротивления при величине входного сигнала, некратного 10.

Цель изобретения — повышение точности измерения входного сопротивления линейных интегральных микросхем.

Поставленная цель достигается тем, что в устройство введены первый и второй детекторы эффективного напряжения, источник опорного напряжения, схема сравнения, усилитель постоянного тока, масштабный усилитель, первый и второй регулируемые усилители, при этом вход первого регулируемого усилителя подключен к выходу второго операционного усилителя, а выход через последовательно соединенные первый детектор эффективного напряжения, схему сравнения и усилитель постоянного тока — к объединенным управляющим

777604 подключен к выходу генератора испытующего сигнала, а выход — к входу второго -.,5 детектора эффективного напряжения, второй вход схемы сравнения соединен с выходом источника опорного напряжения.

На черте>ке дана структурная схема предлагаемого устройства. 10

Устройство для контроля параметров ли55

У У 1 + 8 x /

Входам первого и второго регулируемых усилителей, вход второго регулируемого усилителя через масштабный усилитель нейных интегральных микросхем содержит генератор испытующего сигнала 1, операционные усилители 2 и 3, конденсатор 4, резисторы 5 — 9, первый регулируемый усилитель 10, первый детектор эффективного напряжения 11, схему сравнения 12, источник опорного напряжения 13, усилитель постоянного тока 14, второй регулируемый усилитель 15, масштабный усилитель 16 и второй детектор эффективного напряжения 17.

Вход первого регулируемого усилителя

10 подключен к выходу второго операционного усилителя 3, а выход через первый детектор эффективного напря>кения 11, схему сравнения 12 и усилитель постоянного тока 14 — к объединенным управляющим входам первого и второго регулируемых усилителей. Вход второго регулируемого усилителя 15 через масштабный усилитель

16 подключен к выходу генератора испытующего сигнала 1, а выход — к входу второго детектора эффективного напряжения 17, причем второй вход схемы сравнения 12 соединен с выходом источника опорного напряжения 13.

Устройство раоотает следующим образом.

При измерении параметров микросхем, например коэффициента усиления и входного сопротивления, выходной сигнал с генератора испытующего сигнала одновременно поступает на неинвертирующий вход операционного усилителя 2 и через резистор 8 на вход операционного усилителя 3.

На инвертирующем входе операционного усилителя 2 действует напряжение, равное по величине напряжению генератора испытующего сигнала 1. При этом через конденсатор 4 протекает переменный ток, определяемый величиной входного сопротивления испытуемой микросхемы, и на выходе операционного усилителя 2 действует сигнал где R5 — величина сопротивления резистора 5;

Rx — величина входного сопротивления микросхемы.

С выхода операционного усилителя 2выходной сигнал поступает на делитель на резисторах 6 и 7, подключенный к инвертирующему входу операционного усилителя 3.

Последний осуществляет алгебраическое сложение сигналов, т. с. выходное напря>кение равно где Увх — ВЕЛИЧИНа ВЫХОДНОГО Напряжения генератора;

Л8, Ra и R8 — сопротивление резисторов5,8и9.

Выбрав Rz — — Rg, получим

1 8 выхз:: вх хх

Выходной сигнал с операционного усилителя 3 поступает на вход первого регулируемого усилителя 10 и равен ,1

ВХы „ ВЫХЗ VSXR8

Далее выходной сигнал усилителя 10 детектируется первым детектором эффективного напряжения 11, сравнивается схемой сравнения 12 с величиной выходного напряжения источника опорного напряжения

13, полученный сигнал рассогласования усиливается усилителем постоянного тока

14 и подается на управляющий вход регулируемого усилителя 10. Величина выходного напряжения последнего равна величине напряжения источника опорного напряжения 13. Коэффициент усиления регулируемого усилителя равен и.ы„, и,ы„, и,„К„ вых, вых, U вх где Up< — выходное напряжение источника опорного напряжения, Кд> — коэффициент передачи детектора эффективного напряжения 11.

На вход второго регулируемого усилителя 15 с генератора 1 поступает выходной сигнал, величина которого масштабируется усилителем 16 и равна

U„x„= U„„.Ê„, где KM — коэффициент передачи масштабного усилителя 16.

Выходное напряжение усилителя 15 измеряется вторым детектором эффективного напряжения 17. Коэффициент усиления регулируемого усилителя 15 следующий:

ВЫХ)б дх

К16 у у(е где К вЂ” коэффициент передачи детектора эффективного напряжения 17.

Так как регулируемые усилители 10 и 15 идентичны и согласованы по своим параметрам, то коэффициент К1О и К|5 усиления усилителей равны при подаче на их входы управляющего напряжения одинакового уровня: б Ъ"

1 *

777604

Формула изобретения

Составитель 3. Челнокова

Редактор M. Стрельникова Техред А. Камышникова Корректор Л. Орлова

Заказ 2418/1б Изд, № 558 Тираж 1033 Подписное

НПО «Поиск» Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, К-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография пр, Сапунова, 2 10 151 г>оп. Кб> г1вб>х„Кл, С>ОХ R»,, ЬХ УОХ К„

R„- 5 >х (/Оп К f(ì Вых>ь КХ2 > л> так как 1б

«с/, К К вЂ” К = сопз1> тто / х=P U

Предлагаемое устройство повышает точность измерения входного сопротивления интегральных микросхем за счет исключения дополнительной погрешности, определяемой временной и температурной песта- 15 бильностью величины выходного напряжения генератора испытующих сигналов и единовременно измеряет коэффициент усиления микросхем.

Устройство для контроля параметров линейных интегральных микросхем по авт. св. № бб1439, отл ич а ющееся тем, что, с 25 целью повышения точности измерения входного сопротивления линейных интегральных микросхем, в него введены первый и второй детекторы эффективного напряжения, источник опорного напряжения, схема сравнения, усилитель постоянного тока, масштабный усилитель, первый и второй регулируемые усилители, при этом вход первого регулируемого усилителя подключен к выходу второго операционного усилителя, а выход через последовательно соединенные первый детектор эффективного напряжения, схему сравнения и усилитель постоянного тока — к объединенным управляющим входам первого и второго регулируемых усплитей, вход второго регулируемого усилителя через масштабньш усилитель подключен к выходу генератора испытующего сигнала, а его выход — к входу второго детектора эффективного напряжения, второй вход схемы сравнения соединен с выходом источника опорного напряжения.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Лвторское свидетельство СССР № б61439, кл. G 01R 31/26, 1977 (прототип) .

Устройство для контроля параметров линейных интегральных микросхем Устройство для контроля параметров линейных интегральных микросхем Устройство для контроля параметров линейных интегральных микросхем 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к классу устройств для контроля и диагностики параметров тиристорных преобразователей, управление которыми осуществляется на базе микропроцессорной техники

Изобретение относится к области теплового неразрушающего контроля силовой электротехники, в частности тиристоров тиристорных преобразователей, и предназначено для своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода изделия в целом в специальный контрольный режим
Изобретение относится к области диагностирования силовой электротехники, в частности тиристорных преобразователей, и предназначено для поддержания надежности тиристорного преобразователя на требуемом уровне и своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода последних в специальный контрольный режим

Изобретение относится к импульсной технике и может быть использовано в качестве устройства диагностики при проведении пусконаладочных работ, эксплуатации и ремонте устройств автоматики и вычислительной техники на микросхемах эмиттерно-связанной логики (ЭСЛ)

Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике для диагностики состояния объекта по результатам преобразования детерминированных и случайных сигналов и может быть использовано в телеметрических системах с эвакуируемыми накопителями информации ("черный ящик") и радиоканалом для передачи катастрофических отказов

Изобретение относится к области электронной техники и может быть использовано для диагностирования разветвленных электронных цепей

Изобретение относится к способам электрического контроля и испытаний на постоянном и переменном токе с последующей отбраковкой подложек из диэлектрика или полупроводника, содержащих изделия электронной техники и электротехники (электрорадиоизделия), содержащих плоские и объемные проводящие области, содержащих активные и пассивные функциональные элементы в виде полупроводниковых приборов, многослойных трехмерных структур, пленок с различным типом электрической проводимости, жидкокристаллических панелей и др

Изобретение относится к автоматике и контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля и поиска неисправностей в цифровых электронных устройствах

Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может быть использовано для контроля работоспособности цифровых блоков и схем, поиска и локализации в них неисправностей как в процессе регулировки, так и в процессе эксплуатации
Наверх