Способ анализа парамагнитных образцов

 

<® 870968

Сеюэ Севетеиик

Сецнаииетичесииф

Республик

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. саид-ву— (22)Заявлено 18.09.79 (21) 2819797/18-25 с присоединением заявки,йв— (23) Приоритет— (51.) М. Кл.

G О1 J 3/40

ЕВЮаравеива каеюктет

СССР в дамм взебрвтевн1 к ещипк1

Опубликовано 07,10.81. Бюллетень № 37 (53) УДК 535.34 (088.8) Дата опубликования описания 10.10.81 (72) Авторы изобретения

Н. Н. Куркин и Н. К. Соловар

Казанский физико-технический институт Казанского филиала АН- СССР

l (7I ) Заявитель (54) СПОСОБ АНАЛИЗА ПАРАМАГНИТНЫХ ОБРАЗЦОВ

Изобретение относится к области оптической спектроскопии и может быть использовано для регистрации спектров поглощения веществ, в основ.ном находящихся в парамагнитном состоянии

Известен способ регистрации спектров,поглощения Pl ).

Наиболее близким по технической . сущности является способ анализа пара10 магнитных образцов, включающий пропускание света через исследуемый образец и измерение интенсивности прошедшего оптического излучения.

При этом, в ппектральных участках, соответствующих линиям поглощения

15 исследуемого вещества, происходит уменьшение интенсивности прошедшего света, как правило, по закону Эуге.. ; ра (2

Недостатком данного способа является низкая чувствительность разре. шения спектров, что приводит к не возможности выделения отдельных ли2

t ний поглощения сложного спектра,состоящего из ряда перекрывающихся комс понент. Как правило, регистрируемая линия поглощения парамагнитов представляет собой суперпозицию несколь". ких компонент даже при сверхнизких температурах 1,7 К).

Целью изобретения является увеличение чувствительности разрешения спектров.

Эта цель достигается тем, что в известном способе анализа парамагнитных образцов, включающем пропускание света через исследуемый образец и измерение интенсивности прошедшего оптического излучения, исследуемый образец одновременно помещают в постоянное и переменное высокочастотное магнитные поля, удовлетворяющие условию М =ЯБАН, где Н вЂ” напряженность постоянного магнитного поля 0 — частота переменного высокочастотного магнитного поля

870968

:,сверхвысокого .давления.

Микроволновый резонатор с образцом помещают между полюсами электро магнита, создающего постоянное магнитное поле. Свет от источника, прошедший через образец рубина, регистрируют с помощью монохроматора, ФЭУ и самописца.

На фиг ° 1 а представлен спектр поглощения, полученный по известному способу, на фиг.3 8 — спектр поглощения, полученный по предлагаемому способу.

Величина постоянного магнитного поля составляла 5450 э. Ширина щели монохроматора была такой же, как и эо

I

Q — фактор Спектроскопического р расщепления;

- магнетон Бора 1 - постоянная Планка.

В этих условиях производится выделение отдельных компонент спектра поглощения. Так, например, в окрестности R-линий поглощения рубина дополнительно выделяются две линии, а две имеющиеся проявляются более четко в одних и тех же температурных условиях.

Рассмотрим способ на конкретном примере регистрации спектра поглощения рубина. 15

Образец рубина помещают в микроволновый резонатор, в котором создается высокочастотное переменное магнитное поле, В резонаторе вырезают окна для прохождения излучения источника света через образец. В качестве источника света может быть использована любая лампа,.имеющая широкий спектральный диапазон, например лампа накаливания или ксеноновая лампа при снятии спектра поглощения по стандартной методике.

Сравнение фиг.1, а и 1,б показывает, что при использовании предлагаемого способа в окрестности К-линий поглощения рубина дополнительно выделяются линии V и И, а также более четко проявляются линии 01 и О .

Предлагаемое изобретение позволяет выделить отдельные компоненты спект ров поглощения, т.е. увеличить их разрешение.

Формула изобретения

Способ анализа парамагнитных образцов, включающий пропускание света через исследуемый образец и измерение интенсивности прошедшего оптического излучения, о т л и— ч а ю шийся тем, что, с целью повышения чувствительности, исследуемый образец одновременно помещают в постоянное и переменное высокочастот ное магнитные поля, удовлетворяющие условию

М=ррн, где Н вЂ” напряженность постоянного магнитного поля 9 — частота переменного высокочасToTHoI магнитного поляj

Д - фактор спектроскопического расщепления; — магнетон Бора, Q — постоянная Планка.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1.Лансберг Г,С. Оптика.И., Наука", 1976, с.566.

2. Зайдель А.Н. и др. Техника и практика спектроскопии. M. "Наука, 1972, с.325 (прототип).

870968

ИЛ,4,Л

1УЯ

Фиг. Уа

ФУИА, A

ИЮР

Фиг, ft

Составитель Е. Карманова

Техред М.Рейвес Корректор Г. Реаетник

Редактор О. Филиппова

1 Тираж 910

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам иэобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб, д. 4/5

Фи

Подпис ное

У вЂ” -Г лиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4