Устройство для отбраковки полупроводниковых приборов

 

Союэ Советских

Социалистических

Республик

О П И С А Н И Е ()980025

ИЗОВЕИТИНИя

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. саид-ву(22)Заявлено 19.06.81 (2!). 3303634/18-21 с присоединением заявки %в (23) Приоритет (51) М. Кл.

G 01 R 31/26

9еударстваивй кемктет

СССР ав дмам взобретекк11 н открытий

Опубликовано 0 7. 12 . .82 . Бюллетень 4" 45

Дата опубликования описания 07 . 12 .82 (5З) УДК 621.382. .3(088.8) В.М.Бардин, A.Á.Áàðòàíoa и В.A.Áàðíàøîâ (72) Авторы изобретения

Мордовский государственный университет им. Н.П;Огарева (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОТБРАКОВКИ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ

ПРИБОРОВ

Изобретение относится к электронной технике и может быть использова но при контроле качества полупроводниковых приборов °

Известно устройство для разбраков. ки полупроводниковых приборов по нестабильности обратных токов, содержащее датчик-преобразователь, схемы сравнения, реле времени, схему коммутации и индикации11).

Недостатком устройства является невозможность отбраковывания потенциально ненадежных полупроводниковых приборов.

Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности является устройство для отбраковки полупроводниковых приборов, содержащее блок преобразования обратного тока, реле времени, соединенное с первым входом ключа, выход которого соединен с неинвертирующим входом операционного усилителя, выход которого через

2 фильтр низких частот соединен с первой схемой сравнения, блок опорных напряжений, выходы которого соединены с входами первой и второй схем сравнения, выходы которйх соединены

5 с первым и вторым входами блока индикации, третий вход которого соединен с реле времени, схему управления, выход которой соединен с входом реле времени. и элемент памяти 1 21.

Устройство не позволяет за период наблюдений отбраковывать приборы, обладающие длительным монотонным дрейфом обратного тока, который может привести к отказу прибора при эксплуатации его на интервале времени, превышающем период наблюдения.

Кроме того, в схеме не предусмотрено устройство защиты при превышении то2о ка до окончания периода наблюдения .заданного уровня, что может привести к повреждению испытуемого прибора из-за явления теплового саморазогре ва.

4 обратного тока. На испытуемый прибор подается испытательное напряжение.

На выходе преобразователя 3 формируется напряжение, Пропорциональное току через испытуемый прибор 2. С некоторой задержкой на время окончания переходных процессов сигнал со схемы

5 управления через реле 6 времени открывает ключ 7. На неинвертирующий вход операционного усилителя 4 поступает сигнал, пропорциональный текущему значению тока через Испытуемый прибор, а на инвертирующий постоянное напряжение, пропорциональное начальному значению тока через испытуемый прибор, запомненное элементом 8 памяти. Вторая схема 11 сравнения осуществляет сравнение текущего значения тока, а первая 10 - его приращения с величинами допустимых уровней, формируемых блоком 12 опорных напряжений. Низкочастотный фильтр 9 служит для исключения флуктуационной составляющей. Если за время наблюдения,определяемое реле 6 времени, текущее значение тока превысит установленную норму, то сигнал с выхода схемы

11 сравнения через схему 5 управления отключает напряжение с испытуемого прибора, а блок 13 индикации выдает сигнал "Брак". Сигнал "Брак" выдается также по сигналу окончания интервала наблюдения с реле 6 времени, если на интервале наблюдения срабатывает схема 10 сравнения. Одновременно информация о начальном значении и приращении обратного тока анализируется решающим блоком и в зависимости от выходного решения испытуемый прибор бракуется или признается годным, о чем сигнализирует блок 13 индикации. Правило, позволяющее классифицировать приборы по ресурсным показателям на годные и потенциально надежные, находится на основании предварительных испытаний статистически представительной партии приборов с последующей обработкой результатов методами теории распознавания образов.

3 980025

Цель изобретения — достоверность конт роля.

Поставленная цель достигается тем, что в устройство, содержащее блок преобразования обратного тока, реле времени, соединенное с первым входом ключа, выход которого соединен с неинвертирующим входом операционного усилителя, выход которого через фильтр низких частот соединен 10 с первой схемой сравнения, блок опорных напряжений, выходы которого соединены с входами первой и второй схем сравнения, выходы которых соединены с первым и вторым входами 15 блока индикации, третий вход которого соединен с реле времени, схему управления, выход которой соединен с входом реле времени, и элемент памяти, введен решающий блок, выход 20 которого соединен с четвертым входом блока индикации, первый вход — с выходом фильтра низких частот, второй вход соединен с выходом элемента памяти и инвертирующим входом опера- 2s ционного усилителя, причем вход элемента памяти соединен с входом второй схемы сравнения и выходом ключа,второй вход которого соединен с выходом блока преобразования обратного тока, щ при этом первый вход схемы управления соединен с выходом реле времени, второй — с выходом второй схемы сравнения, а выход схемы управления соединен с входом блока преобразования обратного тока.

На чертеже изображена блок-схема устройства.

Устройство для отбраковки полупроводниковых приборов содержит блок преобразования обратного тока, в который входят источник 1 питания, подключенный к клеммам испытуемого прибора 2, преобразователь 3 обратного тока испытуемого прибора в

45 напряжение, операционный усилитель

4, схему 5 управления, реле 6 времени, ключ 7, элемент 8 памяти, фильтр

9 низких частот, первую и вторую схемы 10 и 11 сравнения, блок l2 опор- о ных напряжений, блок 13 индикации, решающий блок l4.

Устройство для отбраковки полупроводниковых приборов работает следующим образом.

По сигналу "Пуск", поступающему .на схему управления происходит включение источника 1 питания, находящегocR в блоке преобразования

В результате того, что вход второй схемы сравнения подключен не непосредственно к выходу датчика то" ка, а к выходу ключа, управляемого через реле времени, исключена составляющая погрешности, обусловленная переходными процессами в момент подачи

9800

Формула изобретения

Устройство для отбраковки полупроводниковых приборов, содержащее блок gp преобразования обратного тока, реле времени, соединенное с первым входом ключа, выход которого соединен с неинвертирующим входом операционного усилителя, выход которого через 25 фильтр низких частот соединен с первой схемой сравнения, блок опорных напряжений, выходы которого соединены с входами первой и второй схем сравнения, выходы которых соединены с первым и вторым входами блока индикации, третий вход которого сое5 напряжения на испытуемый прибор, а также ложные срабатывания второй схемы сравнения,и следовательно, необоснованное бракование испытуемого прибора. Подключение выхода второй схемы сравнения к входу схемы управления позволяет исключить разрушение испытуемого прибора во время контроля. Наличие решающего блока позволяет осуществлять отбраковку потен- 1ю циально ненадежных образцов по результатам наблюдений временной нестабильности обратного тока за сравнительно небольшой интервал времени.

25 6 динен с реле времени, схему управления, выход которой соединен с входом реле времени, и элемент памяти, отличающееся тем, что,с целью повышения достоверности контроля, в него введен решающий блок, выход которого соединен с четвертым входом блока индикации, первый вход - с выходом фильтра низких частот, второй вход - с выходом элемента памяти и инвертирующим входом операционного усилителя, причем вход элемента памяти соединен с входом второй схемы сравнения и выходом ключа, второй вход которого соединен с выходом блока преобразования обратного тока, при этом первый вход схемы управления соединен с выходом реле времени, второй -- с выходом второй схемы сравнения, а выход схемы управления соединен с входом блока преобразования обратного тока.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Авторское свидетельство СССР

М 397859, кл. G 01 R 31/26, 25.01.72.

2. Авторское свидетельство СССР

И 446851, кл. G 01 R 31/26, 01. 08. 73 (прототип).

Составитель В. Буланов

Редактор Н. Кешеля Техред И. Гергель Корректор Л. Бокшан

Заказ 9352/35 Тираж 717 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Иосква, Ж-35, Раувская наб., д. 4/5

Филиал ППП "Патент", r. Ужгород, ул. Проектная, 4

Устройство для отбраковки полупроводниковых приборов Устройство для отбраковки полупроводниковых приборов Устройство для отбраковки полупроводниковых приборов Устройство для отбраковки полупроводниковых приборов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может найти применение в электронной технике для измерения напряжений на диэлектрике и полупроводнике, а также их временного изменения в МДПДМ-структурах

Изобретение относится к технике контроля параметров полупроводников и предназначено для локального контроля параметров глубоких центров (уровней)

Изобретение относится к электронике и при использовании позволяет повысить точность контроля заданной величины отрицательного дифференциального сопротивления за счет изменения соотношения глубины положительных и отрицательных обратных связей в элементе с регулируемыми напряжениями и токами включения и выключения

Изобретение относится к области электротехники и может быть использовано при конструировании и производстве тиристоров

Изобретение относится к радиационной испытательной технике и может быть использовано при проведении испытаний полупроводниковых приборов (ППП) и интегральных схем (ИС) на стойкость к воздействию импульсного ионизирующего излучения (ИИИ)

Изобретение относится к области измерения и контроля электрофизических параметров и может быть использовано для оценки качества технологического процесса при производстве твердотельных микросхем и приборов на основе МДП-структур

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения электрофизических параметров материалов, и может быть использовано для контроля качества полупроводниковых материалов, в частности полупроводниковых пластин

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для контроля полярности выводов светодиодов

Изобретение относится к области теплового неразрушающего контроля силовой электротехники, в частности тиристоров тиристорных преобразователей, и предназначено для своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода изделия в целом в специальный контрольный режим
Наверх