Контактное устройство для свч-микросхем

 

А. А. Шабанов, Л. И. Ilepex и И. B. Викторова- --. —, (72) Авторы изобретения (54) КОНТАКТНОЕ УСТРОЙСТВО ДХИ СВЧ-МИКРОСХЕМ

Изобретение относится к радиотехнике, в частности к устройствам для.измерения параметров СВЧ-микросхем.

Известно устройство для контактирования СВЧ-микросхем при их контроле, содержащее равное упругое кольцо, которое входит в канавки, выполненные в основании корпуса разъема и в хвостовике основания, Кольцо обеспечивает подвижное . соединение между основанием и хвостовиком Cl2. зо

Конструкция разъема существенно снижает потери СВЧ- нергии в переходе, однако наличие разьбы на основании и хвостовике не обеспечивает цроизводительного подключения гнездовых и штыревых частей (вывода с разъемом).

Это устройство может быть использовано в основном для разового контроля ю одного типоразмера СВЧ-микросхем, так как многократное подключение к контролируемым СВЧ-микросхемам связано с большими трудностями.

Известно также контактное устройство для СВЧ-микросхем, содержащее непод вижное основание, на котором расположен столик с закрепленной на нем контролируемой микросхемой, а также привод взаимодействующий с упором. Привод . обеспечивает многократное подключение к контролируемому тракту.

Конструкция известного контактного устройства позволяет осуществлять надежное контактирование СВЧ-микросхем с внешними проводниками и обеспечивает многократное подключение к контролируемому тракту временным подключением высокочастотнйх. выводов и контактов, :расположенных с произвольными шагами по периметру корпуса, имекяцего раз,личные геометрические размеры f.23, Цель изобретения — расширейие функциональных возможнос тей.

Эта цель достигается тем, что контакт4 ное ус тройство цля СВЧ-микросхем, содержащее подвижный столик для размещения. микрссхем, неподвижное основание с

3 99153 направляющими, приводом и упором, высокочасгогные разъемы, снабжено контактами в виде упругих стержней и кронштейнами, киноматически соединенными с приводом, на которых закреплены вы5 сокочастотные разъемы и одни концы упругих стержней контактов, другие концы которых закреплены на подвижном основании, На фиг. 1 изображена кинемагическая схема контактного устройства; на фиг. 2конструкция устройства; на фиг. 3 — высокочастотный разъем; на фиг. 4 — контакты.

Контактное устройство для СВЧ-микросхем содержит корпус l, в котором установлено неподвижное основание 2, в стенках которого закреплены поворотная ось 3 с рукояткой 4 привода высокочастотного разъема 5» контакты 6, полуоси gp

7 и направляющие 8. На полуосях 7 и поворотной оси 3 закреплены регулируемые кулачковые приводы 9, связанные с кронштейнами 10, расположенными на направляющих 8. На поворотной оси 3 раэмешен эксцентриковый механизм 11 привода, кинематически связанный с подвижным основанием 12. На подвижных кронштейнах 13 закреплены высокочастотные разъемы 5 и контакты 6. На непод- 5р вижном основании 2 установлен блокировочный механизм 14, обеспечивающий подачу СВЧ-энергии только после установки контролируемой микросхемы. Высоко— частотный разъем 5 имеет пазы, в кото35 рых закреплены контактные пружины 15, между.регулировочными; гайками и кронштейном 13 на разъеме 5 установлена торированная цилиндрическая пружина 16.

В контакте 6 (фиг. 4) внутри упругой

4О оболочки размещаются гибкие изолированные стержни 17, с противоположной стороны к которым с помощью пайки закреплен металлический наконечник 18, снаружи наконечника установлена изоляционная

45 втулка 19, которая совместно с металлической втулкой 20 закреплена в подвижном кронштейне 13. Оболочка контакта закреплена ни неподвижном основании 2 к изоляционной колодке 21, а гибкие упругие стержни 17 жестко закрепляют50 ся к подвижному основанию 12 посредством изоляционной колодки 22.

Контактное устройство переналаживается для работы следующим образом.

Контакты 6 и разъемы 5 устанавливаются иа кронштейне 13 на расстояниях, соответствующих шагу расположения частей контролируемого изделия. Регулируе3 4 мые кулачковые втулки привода 9 совместно с роликом, связанным с кронштейном 13, устанавливаются на расстоянии

l обеспечивающим свободную установку контролируемого изделия, после этого втулки кулачкового привода жес.тко скрепляются с поворотной осью 3 и полуосями

7. Проверяется замыкание микропереключателя блокировочного механизма 14. Контактное устройство работаег следующим образом, Контролиру мое изделие устанавливает- . ся на съемный столик, в котором оно фиксируется по корпусу, выводами и контактам. Съемный столик ориентируется по блокировочному механизму 14 и закрепляется к неподвижному основанию 2.

Поворотом рукоятки 4 подвижные кронштейны 13 перемещаются ог периферии

:к центру, вступают в соприкосновение с контактами и высококачественными разъемами контролируемого изделия. Движение продолжается до момента создания контактного усилия, которое осуществляется для высокочастотного разъема за счет, деформации пружины 16, при этом контактные пружины 15 схватывают наружную резьбовую втулку высокочастотного вывода контролируемого изделия, обеспечивая надежную экранизацию. Одновременно с поворотом рукоятки 4 вращается эксцентриковая втулка механизма 11, поднимая подвижное основание 12. При этом стержни 17, жестко скрепленные с годвижным основанием, перемешаются совместно с -контактным наконечником

l8 до обеспечения контакта с разночастогными выводами контролируемого изделия. Контактное усилие на наконечник

18 передается за счет деформации стержней L7, расположенных внутри упругой пружинной бболочки контакта 6. Отключение в съем контролируемого изделия производится в обратном порядке при повороте рукоятки 4 в противоположную сторону.

Формула изоор егения

Контактное устройство для СВЧ-микросхем, содержащее подвижный столик для размещения микросхем, неподвижное основание с направляющими, приводом и упором, высокочастотные разъемы, о т— л и ч а ю ш е е с я тем, что, с целью расширения функциональных возможностей, оно снабжено контактами в виде упругих стержней и кронштейнами, кинематически соединенными с приводом, на которых

2, Авторское свидетельстве СССР

Ph 438153, кл. Н 05 К 7/12;. 1973 (прототип) .

5 991533 6 закреплены высокочастотные разъемы и 1, Патент США _#_9 4046052, одни концы упругих стержнеИ контактов, кл. 85/61, 1979. другие концы которых закреплены на подвижном основании.

Источники информации, принятые во внимание цри эксцертизе.

991533

Оонтрилуруемоа сцдвлсе

Составитель Jl. Прокопенко

Редактор Л. Филиппова .. Техред О. Неце корректор У. Пономаренко

Заказ 156/73 .Тираж 701 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раупк:кая наб., д. 4/5

Филиал ППП Патент», г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Контактное устройство для свч-микросхем Контактное устройство для свч-микросхем Контактное устройство для свч-микросхем Контактное устройство для свч-микросхем Контактное устройство для свч-микросхем Контактное устройство для свч-микросхем 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технике контроля параметров полупроводников и предназначено для локального контроля параметров глубоких центров (уровней)

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к полупроводниковой технике и направлено на повышение точности измерения параметров эпитаксиальных слоев на изотипных проводящих подложках и применение стандартных образцов, изготовленных по технологии, обеспечивающей существенно более высокий процент выхода годных и более высокую механическую прочность

Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано для выявления и анализа структурных дефектов (ростовых и технологических микродефектов, частиц второй фазы, дислокаций, дефектов упаковки и др.) в кристаллах кремния на различных этапах изготовления дискретных приборов и интегральных схем

Изобретение относится к области силовой полупроводниковой техники и может быть использовано при изготовлении тиристоров и диодов
Изобретение относится к неразрушающим способам контроля степени однородности строения слоев пористого кремния

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения электрофизических параметров материалов, и может быть использовано для контроля качества полупроводниковых материалов, в частности полупроводниковых пластин
Наверх