Оптический дефектоскоп

 

Класс 42h, 3501

_#_> 104902

СССР! - гг> ",1;, ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Д. В. Гаврилов

ОПТИЧЕСКИЙ ДЕФЕКТОСКОП

Заявлено 22 нюня 1954 г. за М 082i2 453860.

Предметом изобретения является оптический дефектоскоп для обнаружения дефектов обработки поверхностей и внутренних пороков прозрачного листового материала, например, пластин из стекла и зеркальных пластин толщиной до 15 льи.

Особенностью предлагаемого дефектоскопа, обеспечивающей вход лучей от осветителя в проверяемый матсриал под углами ббльшими, чем угол полного внутреннего отражения, является конструктивное выполнение оптической системы, конденсор которой состоит из сферического зеркального отражателя, усеченного конического зеркала, полусферического отражателя и двояковыпуклои линзы, склеенных в один блок.

На черте>ке предлагаемый оптический дефектоскоп показан в вертикальном разрезе.

Патрон электрической лампы 1 закреплен во втулке 2, снабженной наружной ленточной резьбой и служащей для установки лампы 1 по высоте. Направляющей для втулки 2 служит центральная втулка 3, на которой укреплена гайка 4 с наруж-.

HbDt кольцевым вырезом B нижней части и внутренней резьбой.

В наружньш кольцевой вырез гайки 4 BXOQHT Bk(HThI 5, I10380. t I,11( ей свооодно вращаться вокруг оси прибора.

В продольный вырез по наружной резьбе втулки 2 входит винт 6, позьоляк>щий ей при вращении гайки

4 перемещаться, не проворачиваясь, вдоль осн прибора вверх и вниз. Для крепления всей системы лампового держателя на ко>кухе прибора служит зажимное кольцо 7 с внутренней резьбой.

Ограничение вср|пкального перемещения втулкн 2 вниз осуществ ляется гайкой 8, которая крепится на ней с помощью стопорного винта 9.

Оптическая система 10 крепится и металлическом кожухе 11 и удерживается в нем с помощью конического кольца 12.

Оптическая система 10 составл ll» из сферического зеркального отражателя а, усеченного конического отражателя (зеркала) б с вклеенным в него полусферическим зеркалом (отражателем) в, и двояковыпуклой

_#_o 1 "4909 линзочки а; все четыре детали склеены вместе и образуют один блок.

IIII>I(нЯЯ II0BP.I>. (HocTb деф(.ктоскоп11 сыачиlзается соотвстству10щсп и 1мерсионной жидкостью и накладывается на полированную повер>;ность проверяемой детали (;п(ста).

Луч света от л-Iìïû 1 направляется Внутрь исследуемого ли(та Ilo углами ббльшнми, чем предельный угол полного внутреннего отражеliHH, вследствие чего он не мо>ксг вь!йти из тела листа ".II исключением

,!ест, где имеются какие-лиоо I.IIK Tренине пороки пузыри, и1н1родшяс вк. почения и т. и.), и.ш >ке мсс1 на

110вер> 1!Ости стоf(,1;1, где ID1010тсн,тефекты обработки (нсдопо !ировка, царапины, трещины и т. п. !. Поэто.,1у проверяемый материал всюду кажется темным, в !еста(жс с дефектами обработки и пороками свет рассеивается и г!опадает B глаз наблюдателя, вследствие чего все дефекты

С I rlIIOIIHТСH lff(;fIDII>I;(I II.

Предмет изобретения

Оптическии де(1!ектоскоп для просмотра дефектов обработки и внутренних пороков прозрачного листового матерна:I>I, отл и ч à Io щи ис я тем, что, с i!(:T!üIO и:(ода лучей от

«свети геля в«исн1 1 г!.1в<1смый 1 1атерпал 110;f, угл DIH, б(1лынимн, чем угол пол!!ого внутрен(него отражения, и обсспсчени1! тем самым обнаруж(.ния дсф f(TOI Обработки, Оп снабжен конденсором, состоящим пз сфсрии ского з(.ркального отрая(ателя, усе!сивого конического зеркала, по, !усфср11чсского Отра>катс !я и двояI(0!3 bl l1! 7(Л О И, 111П:1Ы, С КЛ С СI I I I I;1 (В один блок, прнч(м полусфер!нивский отражате,.п> расположен и сферической выработк(! усе н нного кош(чсСКОГО ЗЕРКH.!а, <1 ДГ>051К011ЫIIX КЛая .!1пlза — в llс111 1(. по, I CÑф(.1)11!ССкого

0 Т) ) а Ж

Оптический дефектоскоп Оптический дефектоскоп Оптический дефектоскоп 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к медицинской промышленности, в частности, к способу получения реактива для определения активированного парциального тромбопластинового времени (АПТВ) из отходов производства соевого лецитина

Изобретение относится к технике измерения и может быть использовано для контроля выпуска продукции с регламентированными параметрами шероховатости и волнистости в металлургической, машиностроительной, электронной, оптической, полиграфической промышленности, в самолетостроении, в технологиях нанесения покрытий

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройству для измерения поверхностей и профилей с помощью интерферометрии

Изобретение относится к области оптических измерений, прежде всего шероховатости поверхностей

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к измерительной технике с помощью оптоэлектронных приборов, и может быть использовано при производстве и эксплуатации деталей и устройств, имеющих наружную резьбу

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к измерительной технике с помощью оптоэлектронных приборов, и может быть использовано при производстве и эксплуатации деталей и устройств, имеющих внутреннюю резьбу
Наверх