Способ масс-спектрометрического изотопного анализа компонентов смеси элементов, имеющих изобары

 

Способ масс-спектрометрического изотопного анализа компонентов смеси элементов, имеющих изобары, включающий нанесение рабочего вещества на термоионный эмиттер, получение положительных ионов при нагревании эмиттера в масс-спектрометре и регистрацию масс-спектра при фиксированном значении температуры эмиттера, отличающийся тем, что, с целью упрощения анализа, сокращения его длительности и уменьшения навески образца, рабочее вещество, взятое в виде смеси анализируемых элементов, наносят на термоионный эмиттер, регистрируют масс-спектр смеси при первом фиксированном значении температуры эмиттера, соответствующем началу ионизации компонентов смеси, затем увеличивают температуру эмиттера до второго фиксированного значения, при котором имеет место максимальное изменение отношения ионных токов элементов смеси по сравнению с первым значением температуры, снова регистрируют масс-спектр смеси и по полученным масс-спектрам рассчитывают изотопный состав каждого из компонентов.



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к приборостроению, в частности - к масс-спектрометрам, и может быть использовано для газового анализа в металлургии, экологии, медицине, электронной промышленности и других отраслях

Изобретение относится к электрофизике, в частности к системам, служащим для разделения изотопов, например, для разделения тяжелых изотопов

Изобретение относится к приборостроению, в частности к масс-спектрометрии, и может быть использовано для контроля процессов, протекающих с выделением газовой фазы, например, в черной и цветной металлургии

Изобретение относится к ядерной технике, а более конкретно касается разделения заряженных частиц и выделения изотопов из их естественной смеси

Изобретение относится к вакуумной технике

Изобретение относится к разделению частиц (кластеров) по их массам на фракции газодинамическими силами c последующим их улавливанием на выходе сверхзвукового сопла

Изобретение относится к электрофизике, в частности к системам, служащим для разделения изотопов, например для разделения тяжелых изотопов (атомная масса А>>1)

Изобретение относится к аналитическому приборостроению, а именно к многоколлекторным магнитным масс-спектрометрам, предназначенным для качественного и количественного анализа примесей в матрицах сложного состава, в частности в качестве детектора газового хроматографа с высокоэффективными капиллярными колонками
Наверх