Способ определения динамических параметров термисторов косвенного подогрева

 

Класс 21е, 36

¹ 110849

СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСНОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

М. Ф. Сорокин

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДИНАМИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ

ТЕРМИСТОРОВ КОСВЕН НОГО ПОДОГРЕВА

Заявлено 25 февраля 1957 г. за Ле 567679 в Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Термисторы косвенного подогрева широко используются в системах автоматического регулирования, например, для регулирования уровня передачи токов высокой частоты на кабельных линиях связи. Устойчивость и качество работы системы автоматического регулирования (АРУ) определяются, главным образом, динамическими параметрами терм истор а.

Известные способы определения динамических параметров термисторов основаны на графических или аналитических методах расчета по кривым монотонного переходного процесса, возникающего в цепи, содержащей испытуемый термистор, при воздействии единичного скачкообразного электрического импульса.

Эти способы не пригодны для непосредственного измерения динамических параметров и поэтому не могут быть использованы для целей массового производственного контроля.

Описываемый ниже способ разрешает задачу непосредственного измерения динамических параметров термисторов по показаниям стрелочных приборов. Способ состоит в том, что испытуемый термистор включается в цепь безынерционного усилителя, охваченного жесткой отрицательной обратной связью. В результате этого при воздействии единичного скачкообразного электрического импульса свойственный терм истору монотонный переходный процесс преобразуется в колебательный, показатели которого однозначно связаны с его динамическими параметрами. Например, такие показатели переходного колебательного процесса, как максимальный выброс выходного напряжения и время первого перехода

его через нуль (изменение полярности) связаны простыми зависимостями с динамическими параметрами. Эти показатели переходного процесса легко могут быть измерены с помощью стрелочных приборов. Динамические же параметры № 110849 измеряемый термистор могут быть непосредственно определены, если стрелочные приборы отградуированы в значениях этик параметровв.

На фиг..1 приведена схема, поясняющая предлагаемый способ измерения динамических параметров термисторов. На фиг. 2 — кривая переходного колебательного процесса, у которого максимальный выброс выходного напряжения U,„ и время первого перехода его через о — f определяют динамические параметры термистора.

Предмет изобретения

Способ определения динамических параметров термисторов косвенного подогрева, отлич ающийся тем, что, с целью непосредственного определения параметров по показаниям стрелочных приборов, термистор включают в цепь безынерционного усилителя, охваченного жесткой отрицательной обратной связью, а показатели переходного колебательного процесса, возникающего при воздействии скачкообразного единичного напряжения, используют для определения динамических параметров по шкале стрелочного прибора, градуированного в показателях определяемых параметров терм истора. № 110849

Фиг. 2

Отв. редактор Л. П. Ситников

Стаидартгиз. Иодп. к печ. 11/VI 1958 r. Объем 0,34 п. л. Тир. 1150. Цена 50 кон.

Типография ЦБТИ Мосгорсовнархоза

Москва, Неглинная, д. 23. Зак. 3473

Способ определения динамических параметров термисторов косвенного подогрева Способ определения динамических параметров термисторов косвенного подогрева Способ определения динамических параметров термисторов косвенного подогрева 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может найти применение в электронной технике для измерения напряжений на диэлектрике и полупроводнике, а также их временного изменения в МДПДМ-структурах

Изобретение относится к технике контроля параметров полупроводников и предназначено для локального контроля параметров глубоких центров (уровней)

Изобретение относится к электронике и при использовании позволяет повысить точность контроля заданной величины отрицательного дифференциального сопротивления за счет изменения соотношения глубины положительных и отрицательных обратных связей в элементе с регулируемыми напряжениями и токами включения и выключения

Изобретение относится к области электротехники и может быть использовано при конструировании и производстве тиристоров

Изобретение относится к радиационной испытательной технике и может быть использовано при проведении испытаний полупроводниковых приборов (ППП) и интегральных схем (ИС) на стойкость к воздействию импульсного ионизирующего излучения (ИИИ)

Изобретение относится к области измерения и контроля электрофизических параметров и может быть использовано для оценки качества технологического процесса при производстве твердотельных микросхем и приборов на основе МДП-структур

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения электрофизических параметров материалов, и может быть использовано для контроля качества полупроводниковых материалов, в частности полупроводниковых пластин

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для контроля полярности выводов светодиодов

Изобретение относится к области теплового неразрушающего контроля силовой электротехники, в частности тиристоров тиристорных преобразователей, и предназначено для своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода изделия в целом в специальный контрольный режим
Наверх