Прибор для спектрального анализа света, отраженного от рудных минералов, углей и т.п. объектов

 

¹ 134048

Класс 42й 20oi ссср

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Подписная группа М 170

М. Н. Пономарева, В. И, Марьенко, П. А. Ионин и А. И. Лукин

ПРИБОР ДЛЯ СПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА СВЕТА, ОТРАЖЕННОГО ОТ РУДНЫХ МИНЕРАЛОВ, УГЛЕЙ и т, и. ОБЪЕКТОВ

Заявлено 4 декабря 1958 г. за № 613193/26 в Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Опубликовано в «Бюллетене изобретений» М 23 за 1960 г.

Предмет пзооретецця

l. Прибор для спектрального анализа света, отраженного от рудцы. минералов, углей и т. п. объектов, содер>кащий осветитель, црецИзвестны приборы для спектрального анализа света, отраженного от рудных минералов, углей и т. п. объектов, содержащие осветитель., предметный столик, систему направляющих свет 1ризм, диспергируюшую систсму и фотоумножитель. Недостаток подобных устройств заключается в том, что в них отсутствует визуальный периодический контроль поступающего в диспергирующую систему света и в том, что невозмо>кно выделение из спектра отраженного света нужных участков требуемой ширины.

В описываемом приборе эти недостатки устранены тем, что перед щелью диспергирующей системы установлен откидной окуляр. Кроме того, за диспергируюшей системой перед фотоумножителем установлен"-. подвижная окулярная рамка со щелями требуемых размеров.

Основные детали конструкции прибора показаны на чертеже. Здесь.

1 — осветительное устройство; 2 — нижняя часть поляризационного микроскопа; 3 — подви>кный столик; 4 — Г-образный тубус; 5 — откидной окуляр; 6 — — диспергирующая система и 7 — фотоумножитель.

Нижняя 93cTh 2 поляризационного MHIcpocl<0!13 закапчиваеTcB диафрагмой (не показано на чертеже) и откидным окуляром 5, установленным перед щелью дпспсргирующей системы 6, что 1юзволяет вести п" риодцческий визуальныи контроль поступающсго в дцспсргпрующую систему света. За диспсргируюшей системой 6 перед фотоумножителем 7 в приборе установлена подвижная окулярная рамка (нс показана и i чертеже) с передвигаемой в ней пластинкой со щелями требуемых размеров, выделяющими из спектра света, отраженного от поверхности исследуемого образца, заданный участок требуемой ширины.

Редактор Н. С. Кутафина Текред А, А. Камышникова Корректор И. П. Бронштейн

Формат бум. 70) 108 /цв

Тираж 650

ЦБТИ при Комитете по делам изобретений при Совете Министров СССР

Москва, Центр, М. Черкасский пер., Поди. к печ. 18.1-61 г .3ак. 17о

Объем 0,17 тсл. и..!

Цена 3 коп и открытий д. 2/6

Типография ЦБТИ Комитета по делам изобретений и открыгнй при Совете Министров СССР, !Чосква, Петровка, 14. метный столик, систему направля1ощик свет призм, д!нснсрп!рующую с IСТЕМ1 Н ФОТО,:МНОЖ!!ТОЛЬ О Т Л И Ч а !О Щ И И С и ТЕМ 1!то С IIP IЬЮ ВО31!ОЖности визуального периодического контроля поступающе о в дг!с: е;! гирующую систему света, перед щелью диспергирующей аисте.;!ы уст» новлсн откидной окуляр.

2. Прибор по и. 1, о тл и ч I ю щ и и с;! тем, !то, с нелью вы", л. и!гя из спектра нужного участка трсбуе1иой ширины, за диснергнру!ощеи с!1стемой перед фотоумноткнте;!ем установлена подвигкная окулярна I рамка со щелями трсбуемык размеров.

Прибор для спектрального анализа света, отраженного от рудных минералов, углей и т.п. объектов Прибор для спектрального анализа света, отраженного от рудных минералов, углей и т.п. объектов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области физической органической химии, к разделу спектрофотометрии растворов, находящихся при повышенном давлении, и используется для научных исследований

Изобретение относится к измерительному устройству (14), содержащему датчик (16) для определения, по меньшей мере, одного компонента и/или, по меньшей мере, одного из свойств материала (4), причем датчик (16) содержит, по меньшей мере, один источник (18) освещения, который направляет, по меньшей мере, один световой луч (20) на подлежащий исследованию материал (4), а измерительное устройство (14) содержит, по меньшей мере, один эталонный объект (34, 32, 33) для калибровки измерительного устройства (14), при этом часть светового луча (20) источника (18) освещения отклоняется на эталонный объект (34, 32, 33) так, что устраняется необходимость в попеременном переходе с исследуемого материала на эталонный объект

 // 162339
Наверх