Запоминающее устройство с идентификацией ошибок

 

Изобретение относится к вычис.чительной технике, может быть иснользовано при )азраб()тке :(аи()минаюн1и. устройств ЦВ. и устройств передачи информации с коррекцией мио1 ократны ошибок и является соперн1енств)иа11ием известного запомипак - И1его устройства с идентификацией он1Ибок по а. с. № 1189264. Цель изобретения повьинение надежности устройства. Уст- poiicTBO содержит накопитель 1, первый 2, второй 3 и третий 4 блоки кодирования, первый 6, второй 7 и третий 8 формирователи синдромов, блок 9 анализа синдромов , блок 10 сравнения и блок I1 постоянной памяти. Устройство помимо основной функции, заключающейся в идентификации ошибки, возникающей в накопителе, обпаруживает блоков кодирования , формирователей синдромов, блока анализа, т.е. локализует неисправность с точностью до груниы блоков. Достоверная локализация обеспечивается при 1- и 2-кратпь11х оц ибках в блоке анализа и формирователей синдромов. 1 ил.. 1 таб, 1. i 12 i (Л со ю сг Го

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК Д)) 4 (-I ! С 29< 00

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К ABTOPCKOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ

19

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (61) 1189264 (21 ) 38716 6, 24-24 (22) 08.02.85 (46) 23.05.87<. Бк)л. ¹ 19 (72) A. К. Култыгии и H. И. Вариес (53) 681.32 (088.8) (56) Авторское свидетельство С(СР .№ 118!)264, кл. <.3 1! С 29<00, 1984. (54) ЗЛ11ОМИ)-1ЛЮ1ЦЕ..13 УСТРО!"!СТВО

С ИДГ11ТИФИКЛЦИЕИ ОШИБОК (57) Изобретение относится к вычислительII<)II TC < II II E

2-кр<)т(<ы); ошибкак н блоке анализа и формирователей сиидромон. 1 ил.. табл.

1312647

S = е, с(эеОМ, Формула изобретения

Изобретение относится к вычислительной технике, может быть использовано при разработке запоминающих устройств

1(ВМ и устройств передачи информации с коррекцией многократных ошибок и является усовершенствованием известного ваном и нающего устройства с идентификашгс ошибок по авт. св. ¹ 1189264.

l сель изобретения — повышение надежности устройства.

На чертеже представлена структурная схсма предложенного устройства.

Устройство содержит накопитель 1, идентичные первый 2, второй 3 и третий 4 блоки кодирования, блок 5 декодирования, идентичные первый 6, второй 7 и третий 8 формирователи си ндро rl a, блок 9 а нализа

<.H«:Ip<>v<)n, блок О сравнения и блок 11 постоянной памяти, имеюгций управляющий

nx<>д !2 и выходы 13 и !4.

В <>д устройства представляет собой совокупность К шин (лля К-разрядных слов, записываемых в накопитель 1). Накопитель

1 может быть построен на любых запоминак>щих элементах, в частности на полуIl()<)n<) lIIHK<)Bhl>; интегральных схемах памяти (цепи управления записью и считыванием, а также адресные цепи накопителя

1 не п<>казаны). Блоки 2 -4 выполнены ли6<) п виде совокупности цепочек полусумматоров, <)cvllleствляющих суммирование

«lI<) модулю <ва» тех разрядов входного ко.(а, позициям которыi соответствуют единицы в соогвстствую<цей строке проверочной матрицы корректирующего кода, либо в виде блоков постоянной памяти (БПП), 11ослелнее предпочтительнее. В

nH.a< БГ1П целесообразно выполнить и блок

5 декодирования. при этом он аналогичен г> II)I av 2 -4, а отличается от них только записанной в БПП информацией. Для рассматриваемогоого случая К- i l, емкость каж:I<>l <) из блоков 2- — 5 равна 2" 11-разрядных слов. Формирователи 6 8 состоят из

К полусумматоров и выполняют операцию

«сложения Ilo модулю два» лвух К-разрядных слон, полаваемых на их входы.

Блок 9 анализа синдромов, в отличие от известного устройства. выполнен в виде двух блоков постоянных накопителей: адресные входы одного из них соединены с выходами другого, адресные входы котороп> соединены с выходами второго 7 формирователя синдрома, управляющие входы обоих БПП ш>дключены к шинам разрешающих потенциалов (не показаны), а их выходы являются выходами блока 9.

В режимах записи, хранения и считывания как информационные, так и контрольные разряды устройства могут быть искажены. Это эквивалентно прибавлению к ним «по модулю два помех»,"соответственно

I>

e, H e» Если в накопитель 1 записывались сигналы Х и XOM то при считывании на

50 выходах накопителя получим соответственно сигналы Х<эе,. и ХоМ ®е,. Эти сигналы поступают на входы блоков 3 и 5, на выходах которых соответственно возникают сигналы (Хс(эе, )ОМ и (X<:>M сТэе )ОМ= Х®с ОМ., где М вЂ” — матрица, на основе которой построен блок 5 декодирования.

На выходе формирователя 6 получим сигнал на выходе формирователя 7

S, =е (+)е,ОМ

Сигналы синдромов S u S поступают на входы блока 9 анализа синдромов. Рассмотрим далее работу устройства при конкретном значении К-11 и конкретных матрицах М и М, представляющих собой матрицы инцидентности неполных сбалансированных симметричных блок-схем (11, 5, 2)

Значения синдромов S u S в зависимости от кратности ошибок накопителя j, и значений помех е, и е, приведены в таблице.

П римеча ние. Матрица-строка, состоящая из единиц и нулей и содержащая ровно j единиц, расположенных на произвольных позициях, обозначена через (j).

j=0, 1,2,3.

В соответствии с таблицей, информация записана в два БГ1П, входящих в состав блока 9 анализа синдромов.

Таким образом, после поступления с выходов первого 6 и второго 7 формирователей синдрома сигналов на входы блока 9 на его выходах появляются сигналы е, и е, которые поступают на входы третьего блока 4 кодирования и третьего формирователя 8 синдрома, на выходе последнего сигнал равен е, О М e е„т.е. S . Этот сигнал поступает на один из в одов блока 10 сравнения, на другой вход которого подан сигнал S, с выхода второго 7 формирователя синдрома. При правильной работе блоков

3 — 10 сигнал на выходе блока 10 равен (О), что свидетельствует об отсутствии ошибок в блоках 3 - 10. Если хотя бы олин из них работает неправильно вследствие отказов отдельных элементов, сбоев, помех то, очевидно, сигнал на выходе блока 10 не будет равен (О). Сигнал на выходе блока 10 имеет структуру синдрома Е, Ф Есэ М так, что с помощью блока 11 можно не только обнаружить ошибку, но и идентифицировать ее составляющие Е, и F, 3а пом инающее устройство с идентификацией ошибок по авт. св. ¹ 1189264, отличаюи4ееся тем, что. с целью повышения надежности устройства, в него введены третий формирователь синдрома, блок срав312647

1 з нения, блок постоянной памяти и третий блок кодирования, вход которого подключен к одному из выходов блока анализа синдромов, выход — к первому входу третьего формирователя синдрома, второй вход которого соединен с другим выходом блока анализа синдромов, входы блока сравнения подключены соответственно к выходам второго и третьего форм и рователей синдрома, а выход соединен с одним из входов блока постоянной памяти. другой вход и выходы которого являются соответственно управляюгпим входом и выходами устройства.

S, Е2 е, Составитель В. Рудаков

Редактор В. Данко Текред И. Верес Корректор Г. Регнетник

Заказ 1S47/51 Тираж 590 Г!одп исное

BHHHIlH Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж вЂ” 35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 (о)

t11 (о) (2) (1) (o) (з) (2 ) (11 (о ) (о ) (о) () (о) (1) )е (2 J (о ) (i j 1 (3) (о) () (1 )зМ (2 J

10M 1® (2 ) 0 М (з) (2 )М(1) 0 М

1 Е2 ОМ (з)о м (О J (1)ом (1) (2)oM (1)0М (2) (з)ом (1 )9(2) 0 М (2 )6(1) 0 М (з j

Запоминающее устройство с идентификацией ошибок Запоминающее устройство с идентификацией ошибок Запоминающее устройство с идентификацией ошибок 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к вычислительной технике и может быть применено для контроля блоков постоянной памяти в динамическом режиме на рабочей частоте, в том числе для контроля адресных цепей

Изобретение относится к запоминающим устройствам, в частности к техническим средствам их контроля, и предназначено для автоматизации производства накопителей ЗУ

Изобретение относится к вычислительной технике, в частности к запоминаюпрм устройствам, выполненным из интегральных микросхем памяти

Изобретение относится к вычислительной технике, .а именно к полунроводниковым заноминающим устройствам

Изобретение относится к вычислительной технике, в частности к запоминающим устройствам

Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано для построения надежных запоминающих устройств с возможностью локализации модульных однонаправленных ошибок

Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано для самоконтроля запоминающих устройств путем обнаружения модульных однонаправленных ошибок в двух модулях памяти и исправления таких ошибок в одном модуле памяти

Изобретение относится к вычислительной технике и может быть применено в запоминающих устройствах, выполненных из интегральных микросхем памяти

Изобретение относится к вычислительной .технике, в частности к устройствам для контроля оперативных запоминающих устройств (ОЗУ) с произвольной выборкой

Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано для построения оперативных запоминающих устройств с частичным резервированием блоков памяти

Изобретение относится к импульсной технике и может быть использовано в устройствах вычислительной техники и системах управления

Изобретение относится к вычислительной технике, в частности, к устройствам хранения информации, и может найти приме нение в специализированных системах хранения и обработки изображений, в ассоциативных параллельных процессорах при решении информационно-логических задач, задач поиска и сортировки данных, в устройствах обработки сигналов в реальном масштабе времени

Изобретение относится к полупроводниковому запоминающему устройству, содержащему схему обнаружения и исправления множественных ошибок

Изобретение относится к способам записи в энергонезависимую память и может быть использовано в приборах, осуществляющих хранение и обновление оперативной информации в процессе своей работы

Изобретение относится к устройствам тестирования электронных элементарных схем и групповых линий соединений

Изобретение относится к средствам для программирования/стирания электрически стираемых программируемых полупроводниковых постоянных запоминающих устройств

Изобретение относится к области автоматики и вычислительной техники

Изобретение относится к электронным запоминающим устройствам (ЗУ) с электрически программируемыми ячейками
Наверх