Устройство для контроля и сортировки радиодеталей по электрическим параметрам

 

Изобретение предназначено для радиодеталей с односторонним расположением выводов, например диодов типа 2Д 212. Оно содержит механизмы подачи радиодетали транспортирования. 27 Щ (Л

СОЮЗ COBETCHHX

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИК (5ц 4 Н О) L 21/66

KFCAfA3" "4Я

13," 13 ! БИЗЛПО, аК;"

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 4018237/24-21 (22) 19.12.85 (46) 23.09.87. Бюл. Н- 35 (72) В.А. Москвичев (53) 621.382(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

11- 557436, кл. Н 01 L 21/бб, 1975.

„„Я0„„вадя А1 (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ И СОРТИРОВКИ РАДИОДЕТАЛЕЙ ПО ЭЛЕКТРИЧЕСКИМ

ПАРАМЕТРАМ (57) Изобретение предназначено для радиодеталей с односторонним расположением выводов, например диодов типа 2Д 212. Оно содержит механизмы подачи радиодетали транспортирования, 13 подключения радиодеталей к блоку измерения, сортировки. Механизм подключения радиодеталей к блоку измерения выполнен в виде двух взаимно подпружиненных относительно друг друга контактных головок.(КГ) 13, размещенных на одноплечих рычагах 14, имеющих воэможность качания посредствсм кулачков 15, закрепленных на валу 7 °

КГ 13 свободно посажена на ось, жест1

39694 ко связанную с одноплечим рычагом 14.

Фиксация положения каждой КГ 13 относительно направляющей 12 осуществляется регулируемым упором в виде винта с контргайкой. Винт упирается в рычаг 14, обеспечивая необходимое положение КГ 13 относительно направляющей 12, Изобретение повышает производительность и надежность в работе устройства. 1 з.п, ф-лы, 5 ил.

Изобретение относится к оборудованию для производства радиодеталей и может быть использовано в электронной промышленности для контроля па5 раметров и сортировки радиодеталей преимущественно с односторонним расположением выводов, например диодов типа 2Д 212.

Цель изобретения — повышение производительности и надежности в работе.

На фиг. 1 изображена предлагаемое устройство, общий вид; на фиг. 2— то же, вид сбоку; на фиг. 3 — разрез

А-А на фиг. 1 (позиция контроля параметров радиодеталей); на фиг. 4— разрез Б-Б на фиг. 3 (взаимное положение механизма фиксации контактов); на фиг. 5 — разрез В-В на фиг. 3 (взаимное положение контактов в момент определения параметра радиодетали на позиции контроля).

Устройство для контроля и сортировки радиодеталей содержит механизм 2g подачи радиодеталей, механизм транспортирования, механизм подключения радиодеталей к блоку измерения и механизм сортировки.

Механизм подачи радиодеталей выполнен в виде питателя, например вибробункера со спиральной ориентированной дорожкой, снабженной на выходе склиэом 1, который имеет подпружиненный рычаг 2 с регулируемым упором 3.

Рычаг 2 имеет возможность качания под действием возвратно-поступательного перемещающего шибера 4, на который воздействует подпружиненный двуплечий рычаг 5 посредством кулачка 6, закреп-40 ленного на валу 7. Регулируемый упор 3, закрепленный на рычаге 2, имеет возможность при этом воздейст вовать на радиодеталь, расположенную сверху той детали, которая находится на опорной поверхности шибера 4, Последний расположен на торцевой части опорной плиты 8.

Механизм транспортирования радиодеталей выполнен в виде ротора 9 с гнездами 10, расположенными на его цилиндрической поверхности, и имеет воэможность дискретного вращения от общего привода (не показан) пос1 едством шестерни 11. Фиксация радиодеталей в роторе 9 при их перемещении осуществляется, с одной стороны, неподвижной направляющей 12, расположенной по всей траектории перемещения радиодеталей, т.е. от зоны перегрузки из склиза 1 в ротор 9 до зоны сортировки, выгрузки из ротора 9, а с другой стороны, торцевой поверхностью опорной плиты 8.

Механизм переключения радиодеталей выполнен в виде двух вэаимоподпружиненных относительно друг друга контактных головок 13, расположенных на рычагах 14, имеющих воэможность качания посредством кулачков 15, закрепленных на валу 7. Контактная головка 13 свободно посажена на ось 16, которая жестко связана с рычагом 14.

Для обеспечения взаимной фиксации контактных головок !3 относительно измеряемой радиодетали они подпружинены посредством имеющихся кронштейнов 17, которые закреплены на контактных головках 13.

Фиксация положения каждой контактной головки 13 относительно направля35

Формула изобретения

1. Устройство для контроля и сортировки радиодеталей по электрическим параметрам, преимущественно диодов с односторонним расположением выз 13396 ющей 12 осуществляется дополнительным регулируемым упором в виде винта 18 с контргайкой, вкрученного в планку 19, которая связана с кронштейном 17. Винт )8 упирается в рычаг 14, 5 обеспечивая необходимое положение контактной головки 13 относительно направляющей 12.

В зоне контактирования поверхность 10 опорной плиты 8 снабжена изоляцион- . ной накладкой 20.

Внутри контактных головок расположены подпружиненные электроды 21, которые подключены к измерительному блоку.

Для обеспечения надежности работы .контактной головки 13 между электродами 21 расположена изоляционная пластина 22, обеспечивающая изоляцию электродов 21 между собой.

Механизм сортировки измеренных радиодеталей по группам выполнен в виде управляемого электромагнита 23, якорь 24 которого кинематически свя- 25 зан с подпружиненным шибером 25, имеющим возможность продольного пере-. мещения из-под радиодетали на позиции сортировки, обеспечивая попадание в приемник бункера 26. Радиодетали, 30 непо1тавшие в бункер 26, самопроизвольно имеют возможность западать в бункер 27 при перемещении ротора 9.

Устройство работает следующим образом.

Радиодетали, подлежащие контролю и сортировке по электрическим параметрам, загруженные в вибробункер, при его включении устремляются по спиральной дорожке, получив определен-40 ную ориентацию в склиз 1. При включении привода механизма транспортирования ротор 9 начинает дискретно вращаться от шестерни 11, которая кинематически связана с приводом (не по- 45 казан), одновременно начинает вращаться вал 7, делающий один оборот за одно перемещение ротора 9 с одной позиции на другую.

Механизм подачи радиодеталей обес- . печивает передачу радиодеталей из склиза 1 в гнездо 10 ротора 9, Передача радиодеталей происходит следующим образом. Во время выстоя ротора 9 шибер 4 под действием рычага 5 отводится вправо, обеспечивая перемещение вниз, в гнездо 10 ротора 9 радиодетали, при одновременном воз94

4 действии упора 3 на следующую радиодеталь при прекращении воздействия на рычаг 2 шибера 5. При последующем вращении вала 7 рычаг 5, взаимодействуя с кулачком 6, перемещает шибер 5 влево, воздействуя тем самым на рычаг 5, отводит упор 3 от радиодетали и она устремляется вниз на шибер 4.

В это время начинается очередное дискретное вращение ротора 9, перемещая запавшую в гнездо 1О радиодеталь на позицию контроля и подставляя очередное пустое гнездо 10 для принятия-.очередной радиодетали. Таким обобразом, цикл повторяется до полного расхода радиодеталей.

При последующем перемещении радиодетали ротором 9 она, фиксируемая направляющей 12, обеспечивающей раздвижку выводов радиодетали, и торцевой поверхностью плиты 8, попадает на позицию контроля. На позиции контроля радиодеталей во время выстоя происходит смыкание подпружиненных электродов 21, расположенных в контактных головках 13 с двух сторон, при помощи взаимных подпружиненных рычагов 14, которые сводятся и разводятся от постоянно вращающихся кулачков 15, закрепленных на вращающемся валу 7. Измерение происходит сразу на двух позициях спаренными электродами 21, в конкретном исполнении параметров, оьр H 0np

Измеренные радиодетали последовательно перемещаются ротором 9 на позицию сортировки, где от измерительного блока сигнал подается на соответствующий электромагнит 23. При включении электромагнита 23, во время.выстоя ротора 9, якорь 24, перемещаясь вниз, обеспечивает перемещение шибера 25 из-под радиодетали, обеспечивая тем самым его западание

s соответствующий бункер 26. Радио- детали, не вошедшие в бункер 26, при последующем перемещении ротора 9 самопроизвольно западают в бчнкер 27.

Таким образом, происходят контроль и сортировка радиодеталей по электрическим параметрам.

5 )3 водов, содержащее механизм поДачи радиодеталей, механизм транспортирования в виде ротора с гнездами для радиодеталей, механизм ориентации и фиксации в виде направляющей, неподвижно закрепленной около транспортирующего ротора, механизм подключения радиодеталей к блоку измерения, снабженный контактными головками, каждая из которых размещена с одной стороны направляющей, и механизм сортировки радиодеталей, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения производительности и надежности в работе, механизм подключения радиодеталей к блоку измерения выполнен в виде одРа

39694 ноплечих рычагов с осями, каждый из которых размещен с одной стороны направляющей механизма ориентации и

5 фиксации, при этом каждая контактная головка установлена на оси рычага с возможностью поворота.

2. Устройство по п. 1, о т л ич а ю щ е е с я тем, что каждая кон тактная головка снабжена регулируемым упором, выполненным в виде винтов с контргайками, ввернутыми в планку, соединяемую с кронштейном, охватывающим втулку, установленную на оси рычага, при этом винты установлены с возможностью упора в рычаг.

Ради

1339694

1339694

12 22

Составитель В. Титов

Редактор И. Николайчук Техред Л.Сердюкова Корректор Г. Решетник

Заказ 4234/46 Тираж 697 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

ll3035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, у.z. Нроекгная, 4

Устройство для контроля и сортировки радиодеталей по электрическим параметрам Устройство для контроля и сортировки радиодеталей по электрическим параметрам Устройство для контроля и сортировки радиодеталей по электрическим параметрам Устройство для контроля и сортировки радиодеталей по электрическим параметрам Устройство для контроля и сортировки радиодеталей по электрическим параметрам Устройство для контроля и сортировки радиодеталей по электрическим параметрам 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области исследования материалов оптическими методами и может быть использовано для контроля качества полупроводниковых и диэлектрических материалов, используемых в электронной технике

Изобретение относится к механическим испытаниям, а именно к способам контроля долг-овечности полупр оводниковьгх материалов и элементоп на их основе, и может быть использовано для оценки долговечности полупроводниковых кристаллов в микроэлектронных изделиях

Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано для определения параметров легирования полупроводников Целью изобретения является неразрушак)- щее определение параметров объемного легирования полупроводника - концентрации основной легируницей примеси, степени ее компенсации и энергии активации

Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано для определения потенциалов на границах раздела в полупроводниковых структурах

Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано для сор.тировки поликристаплических корундовых подложек, предназначенных для изготовления СВЧ- устройств

Изобретение относится к области полупроводниковой техники и материаловедения и может быть использовано для определения подвижности носителей заряда в металлах, вырожденных полупроводниках, структурах металлдиэлектрик-полупроводник , гетеропереходах , бикристаллах и других действующих устройствах электронной техники

Изобретение относится к метрологии полупроводниковых приборов,, в частности к способам определения параметров МДП-транзисторов

Изобретение относится к технике контроля параметров полупроводников и предназначено для локального контроля параметров глубоких центров (уровней)

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к полупроводниковой технике и направлено на повышение точности измерения параметров эпитаксиальных слоев на изотипных проводящих подложках и применение стандартных образцов, изготовленных по технологии, обеспечивающей существенно более высокий процент выхода годных и более высокую механическую прочность

Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано для выявления и анализа структурных дефектов (ростовых и технологических микродефектов, частиц второй фазы, дислокаций, дефектов упаковки и др.) в кристаллах кремния на различных этапах изготовления дискретных приборов и интегральных схем

Изобретение относится к области силовой полупроводниковой техники и может быть использовано при изготовлении тиристоров и диодов
Изобретение относится к неразрушающим способам контроля степени однородности строения слоев пористого кремния

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения электрофизических параметров материалов, и может быть использовано для контроля качества полупроводниковых материалов, в частности полупроводниковых пластин
Наверх