Устройство свч-плазменной обработки материалов

 

Изобретение относится к плазменной технике, а более конкретно к СВЧ - плазмотронам, предназначенным для плазменной обработки материалов при давлениях ниже атмосферного, и может быть использовано для проведения процессов травления, очистки, осаждения, формирования собственных диэлектриков (анодирования) на полупроводниках и металлах. Целью изобретения является повышение эффективности обработки и расширение технологических возможностей, устройств плазменной обработки материалов. Газ, активированный с помощью СВЧ-энергии в газовводе, пронизывающем волновод, поступает в реакционную камеру, где они попадают на обрабатываемое изделие. Регулировкой СВЧ-мощности и осевым перемещением электрода-пьедестала относительно уровня газовводов можно управлять количеством и потоком энергии активных частиц газа, что приводит к увеличению скоростей травления или анодирования. Способствует этому также возможность независимой подачи неактивированного газа или наложения ВЧ-напряжения с помощью электрода-газораспределителя. Использование систем подогрева и охлаждения в электроде-пъедестале улучшает качество осаждаемых на изделие полимерных слоев. 1 з.п. ф-лы, 2 ил.

Изобретение относится к плазменной технике, более конкретно к СВЧ-плазмотронам, предназначенным для плазменной обработки материалов при пониженных давлениях, и может быть использовано для проведения процессов травления, очистки, осаждения, формирования диэлектриков на полупроводниках и металлах. Целью изобретения является повышение эффективности обработки (например, увеличение скорости травления или осаждения) и расширение технологических возможностей устройств плазменной обработки материалов. На фиг.1 схематично представлено устройство, продольный разрез; на фиг.2 то же, поперечный разрез. Устройство содержит реакционную камеру 1, газовводы 2, волноводы 3, короткозамыкающий поршень 4, генератор СВЧ 5, электрод-пьедестал 6, крышку реакционной камеры 7, электромагниты 8, электрод-газораспределитель 9. Устройство СВЧ-плазменной обработки материалов работает следующим образом. Энергия СВЧ от генератора 5 по волноводу 3 подводится в область газовводов 2, в которых поджигается плазма и откуда активированный газ поступает в реакционную камеру 1. Перемещением короткозамыкающего поршня достигается регулировка величины поглощаемой мощности в каждом газовводе и тем самым регулируется количество активных частиц в соответствующем месте реакционной камеры 1. По электроду-газораспределителю 9 подается другой газ или смесь газов в реакционную камеру 1, где происходит его (или их) взаимодействие с газом (или газами), подаваемым по газовводам 2, или с обрабатываемой пластиной и таким образом осуществляется процесс осаждения или травления. В случае, если необходимо повышение качества или скорости процесса травления (осаждения, анодирования), на любой из электродов 6, 9 подают постоянное смещение соответствующего знака (плюс или минус). Для этих же целей предусмотрено осевое перемещение обоих электродов. Изменение расстояния между электродами регулирует энергию потока активных частиц, взаимодействующих с обрабатываемым твердым телом (полупроводником, диэлектриком, металлом). Кроме того, на любой из электродов 6, 9 можно подать ВЧ-энергию, заземлить и таким образом проводить плазменную обработку поверхности твердого тела комбинацией двух типов плазмы ВЧ и СВЧ. Такая комбинация расширяет технологические возможности, так как позволяет изменять состав плазмы в более широких пределах.

Формула изобретения

1. УСТРОЙСТВО СВЧ-ПЛАЗМЕННОЙ ОБРАБОТКИ МАТЕРИАЛОВ, содержащее реакционную камеру, огибающий ее волновод прямоугольного сечения, электромагниты, газовводы, проходящие перпендикулярно оси камеры через волновод, электрод-пьедестал, выполненный с возможностью осевого перемещения, отличающееся тем, что, с целью повышения эффективности обработки за счет увеличения скоростей травления и осаждения, а также регулирования состава плазмы, оно содержит изолированный от корпуса электрод-газораспределитель, размещенный параллельно электроду-пьедесталу и выполненный с возможностью осевого перемещения. 2. Устройство по п.1, отличающееся тем, что, с целью улучшения качества обработки, электрод-пьедестал снабжен элементами подогрева и охлаждения.

РИСУНКИ

Рисунок 1, Рисунок 2



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано при химико-механическом полировании пластин из полупроводниковых и диэлектричес ких материалов, таких,Как арсенид галлия, индия , ниобат лития

Изобретение относится к технологии очистки полупроводниковых пластин , в частности кремниевых подложек, Устройство позволяет производить двухстороннюю очистку пластин и повысить качество обработки

Изобретение относится к полупроводниковой технике и направлено на повышение технологичности процессов механической обработки, выхода годных пластин, в частности, из материалов группы A3B5 в случае получения пластин с допуском диаметра 0,3 мм и менее

Изобретение относится к области микроэлектроники, в частности, к технологии изготовления полупроводниковых структур, являющихся элементной базой функциональной микроэлектроники и может быть использовано в технологии изготовления интегральных газовых датчиков с тонкими мембранами /1- 5 мкм/, а также мембран для рентгеновских фотошаблонов

Изобретение относится к полупроводниковой электронике и может быть использовано в производстве полупроводниковых лазерных диодов и светодиодов

Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано при изготовлении полупроводниковых структур, получаемых:- путем механического утонения структур с нерабочей стороны структур до фиксированной толщины, например до толщины 6-20 мкм;- путем термического соединения (сварки через окисел) двух пластин разной проводимости, легирования и кристаллографической ориентации и механического утонения одной из пластин до фиксированной толщины, например до толщины 6-10 мкм;- путем механической или химико-механической доводки структур для выравнивания планарного рельефа, удаления дефектов с использованием Stop-процесса

Изобретение относится к способам термохимического травления тугоплавких химически стойких материалов, в частности к методам локального травления их поверхности, например, с использованием локального лазерного облучения

Изобретение относится к технике полупроводникового производства и может быть использовано для формирования многоуровневых межсоединений СБИС, в частности, для планаризации поверхности межслойного диэлектрика, межуровневого диэлектрика, для получения вертикальных проводников, диффузионно-барьерных слоев и адгезионных слоев на операциях подготовки поверхности пластин, например, при химико-механической полировке с последующей отмывкой их (гидромеханической, мегазвуковой и др.)

Изобретение относится к электронной промышленности, а именно к фотошаблонным заготовкам (ФШЗ), предназначенным для формирования рисунка микроизображения при изготовлении интегральных схем

Изобретение относится к области оптоэлектроники и может быть использовано при изготовлении пластин из слитков или булей монокристаллов, например, сапфиров

Изобретение относится к производству изделий электронной техники и может быть использовано, например, на операциях очистки полупроводниковых пластин с помощью щеток и мегазвука
Наверх