Способ изготовления образца для исследования методом электронной микроскопии


G01N1/28 - Исследование или анализ материалов путем определения их химических или физических свойств (разделение материалов вообще B01D,B01J,B03,B07; аппараты, полностью охватываемые каким-либо подклассом, см. в соответствующем подклассе, например B01L; измерение или испытание с помощью ферментов или микроорганизмов C12M,C12Q; исследование грунта основания на стройплощадке E02D 1/00;мониторинговые или диагностические устройства для оборудования для обработки выхлопных газов F01N 11/00; определение изменений влажности при компенсационных измерениях других переменных величин или для коррекции показаний приборов при изменении влажности, см. G01D или соответствующий подкласс, относящийся к измеряемой величине; испытание

 

Изобретение относится к области исследования методом просвечивающей электронной микроскопии порошковых материалов, в частности к способу изготовления образца из порошковых материалов для исследований тонкой структуры и фазового состава. Цель изобретения - осуществление возможности исследования на просвет порошковых материалов. Способ включает получение шлифа, травление, напыление слоя углерода (и хрома) и порезку его на квадраты. При этом проводят предварительную подготовку подложки путем разжижения или размягчения ее поверхностного слоя растворителем на глубин 0,5-1 мм, очистку поверхности порошков от окислов, заливку их растворителем подложки и вдавливание их в разжиженный слой подложки, причем толщина слоя порошка в подложке составляет 0,5-1 мм. После порезки напыленного слоя на квадраты, для предотвращения повреждения слоя углерода (и хрома) наносят на него парафин, производят растворение подложки с последующим растворением парафина.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ.

РЕОЪБЛИН

09) (! !) А1 дО G Ol N l /28, 23/225

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К А BTOPCHOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

П З ИЗОБРЕТЕНИЯМ И. ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР (21) 4376843/31-25 (22) 09.02.88 (46) 30.08.90. Бюл. К - 32 (71) Институт электросварки им. Е.О.Патона (72) Э.Н.Дорофеева, В.Г.Самойленко, В.Ф.Хорунов, . .М.Григоренко, Т.Г.Таранова, В.Д.Табелев, А.B.Òàÿíoâñêàÿ, В.И.Швачко, А.Н.Пискарев и В.Я.Кезик (53) 548.302(088.8) (56) Гоулдстейн Дж. и др. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Кн.2, M. Мир, 1984, с.174-175. .Шиммель Г. Методика электронной микроскопии. Пер.с нем. Под ред.

В.Н.Рожанского. М.: Мир, 1972, с.300. (54) СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ОБРАЗЦА ДЛЯ;

ИССЛЕДОВАНИЯ МЕТОДОМ ЭЛЕКТРОННОЙ

МИКРОСКОПИИ (57) Изобретение относится к области . исследования методом просвечивающей электронной микроскопии порошковых материалов, в частности к способу изИзобретение относится к области исследования методом просвечивающей электронной микроскопии порошковых материалов, в частности к способу изготовления образца из порошковых материалов для исследования тонкой структуры. Образец может быть ис- пользован для получения реплик с мик-" .рошлифов частиц порошка.

Целью изобретения является осу" ществление возможности исследования на просвет порошковых материалов.

2 готовления образца из порошковых материалов для исследования тонкой структуры и Фазового состава. Бель изобретения — осуществление возможностй исследования на просвет порош° ковых материалов. Способ включает получение шлифа, травление, напыпение слоя углерода (и крома) и ho-резку его на квадраты. При этом проводят предварительную подготовку подложки путем разжижения или размягчения ее поверхностного слоя растворителем на глубину 0,5-1 мм, очистку поверхности порошков от окислов, заливку их растворителем подложки и вдавливание их в разжиженный слой подложки, причем толщина слоя порошка в подложке составляет 0,5-1 мм.

После порезки напыпенного слоя на квадраты для предотвращения повреждения слоя углерода (и хрома) наносят на него парафин, производят растворение подложки с последующим растворением парафина..

Приготовление образцов для иссле-. . дования порошков на просвет состоит из четырех этапов: I) подготовка подложки, 2) подготовка порошка исследуемого материала, 3) укладка слоя порошка в подложку и изготовление микрошлифа, 4) обработка микрошлиФа и выделение сегментов частиц для исследования на просвет.

Для этого необходимо:

1) выбрать материал подложки и

-растворитепь к ней. Приклеить ручку

1 589109 к подложке или поместить ее в соответствующее приспособление для облегчения в дальнейшем изготовления шлифа. Нанести пипеткой на поверхность подложки слой растворителя и выдержать его до разжижения или р,азмягчения ее поверхности примерно на мм, 2) снять окисную пленку с поверх- 10 ности порошка путем химической полировки или соответствующего травления.

Промыть порошок и залить его растворителем материала подложки до получения сметанообразного состояния. Вы-15 лить смесь порошка.с растворителем подп ожки на чистую гладкую пластину из стекла или металла, 3) легко вдавить слой порошка в разжиженный или размягченный слой З подложки на глубину 0,5-1 мм. Высушить образец. На шлифовальной бумаге снять плохо закрепленные в подложке верхние слои порошка. Изготовить шлиФ, затем — микрошлиф обычным методом и таким образом получить профиль сегментов частиц порошка в поверхностном слое микрошлифа. Остатки сФер и углы сегментов пригодны для исследования на просвет, как обычные 30 фольги

4) для снятия наклепа протравить сегменты или произвести химическую полировку их поверхности. Для закрепления сегментов частиц в плоскости шлифа и создания сплошного электропроводящего слоя на поверхность напыпяют в вакууме углероц или хром.

Порезать напыпенный слой на квадраты (примерно 2х2 мм).. Для предохра- рр кения напыпенного слоя углерода ипи хрома нанести на него слой парафина.

После этого растворить подложку в, соответствующем растворителе, растворить парафин (например, в толуоле). 45

Выловить на сеточку образцы и исследовать их в электронном микроскопе на просвет.

В ряде случаев частицы металлических порошков получаются в виде по- gp лых сфер. Исследования показали, что стенки частиц с внутренней поло. стью неоднородны по толаине. В этих случаях после полировки или протравливания частиц со стороны поверхности, и с внутренней стороны можно проводить исследования образца на просвет по многим участкам сегмента.

Для получения микрошлифов в качестве подложки можно использовать целлулоид, Формальдегидные, аминоформальдегидные, стирольные смолы, поливиниловый спирт, оргстекло и некоторые другие вещества.

Предлагаемый способ подготовки образца позволяет получить тонкие сегменты частиц порошков без нагрева, деформации и каких-либо изменений в состоянии частиц порошка, связанных с диффузионными, пограничными, межфазными эффектами, возникающими в процессе заливки порошков жидкими металлическими расплавами, играющими роль связки-матрицы.

Пример. К небольшим пластинам целлулоида (например 1Ок10 1,5 мм) крепили держатели из оргстекла путем растворения мест соединения. ацетоном.

Затем на противоположную сторону каждой пластины наносили пипеткой ацетон и выдерживали до тех пор, пока поверхностный слой целлулоида не становился полужидким. После этого в него легко вдавливали протравленный, смоченный ацетоном порошок припоя системы медь — марганец — никель †. кремний марки БАК-3 и тщательно высушивали.

В качестве травителя употребляли состав:

Хромовый ангидрид, г 2

Серная кислота, мл 3

Дистиллированная вода, мл 1 00

Насыщенный раствор поваренной соли, мл 4

Затем изготавливали микрошлифы обычным образом. Сначала на каждой заготовке с помощью тонкой наждачной бумаги убирали верхний слой плохо закрепленных частиц .порошка. Затем оставшийся слой доводили на Фетре до получения гладкой поверхности и аккуратно отрезали держатели ножовочным полотном, Таким образом на каждой заготовке получали поверхност" ный слой порошка, частицы которого были срезаны плоскостью шлифа и закреплены в целлулоидной матрице.

После травления в указанном травителе на поверхность микрошлифов в вакууме напыляли токопроводящий и скрепляющий отдельные сегменты частиц слой углерода. Покрытие резали на квадратики везшчиной примерно 2х2 мм и заливали парафином для предохранения его от возможных поверждений в процес109 6 исследуемой его поверхности от окис" лов, напыление слоя углерода или хрома, порезку напыленного слоя на квадраты, нанесение на него парафина, затем его растворение, о т л и ч аю шийся тем, что, с целью осу.— ществления возможности исследования на просвет порошковых материалов, до получения шлифа предварительно готовят подложку путем разжижения или размягчения ее поверхностного слоя растворителем, очищают и заливают частицы образца растворителем подложки

15 и вдавливают порошок .в разжиженный слой подложки, а перед растворением парафина растворяют подложку.

5 1589 се растворения целлулоида. После растворения в ацетоне подложки и в толуоле - слоя парафина получали микрошлифы отдельных сегментов, скрепленных токопроводящим покрытием. Подготовленные таким образом образцы вылавливали *а сеточку и исследовали в электронном микроскопе на просвет.!

Формула и зо бре тения

Способ изготовления образца для исследования методом электронной микроскопии, включающий получение пцтифа образца, травление и очистку

Составитель Т. Владимирова

Техред Л.Сердюкова Корректор B.Гирняк

Редактор А. Маковская

Подписное

Тираж 514

Заказ 2533

ИНИИПИ Государственного комитета по изобретениям к открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул. Гагарина, 101

Способ изготовления образца для исследования методом электронной микроскопии Способ изготовления образца для исследования методом электронной микроскопии Способ изготовления образца для исследования методом электронной микроскопии 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к металлургии, в частности к методам анализа за состоянием вещества и материалов, к методам материаловедческих исследований конструкций и образцов после разрушения последних, и может быть использовано для определения температуры той зоны конструкции, в которой в момент разрушения распространялась магистральная трещина

Изобретение относится к электронной микроскопии, в частности к технике препаривания и приготовления образцов мелкодисперсных частиц

Изобретение относится к электронной микроскопии и может быть использовано для формирования тестового изображения в растровом электронном микроскопе

Изобретение относится к рентгеновскому анализу состава вещества, особенно к микроанализу с возбуждением рентгеновского излучения определяемых элементов пучком ионов

Изобретение относится к устройствам для элементного и химического анализа состава твердых тел, в частности к ионным микрозондовым анализаторам, применяемым для измерения концентрационных профилей распределения примесей по глубине анализируемых образцов, а также для получения на экране электронно-лучевой трубки картины распределения различных элементов по поверхности образца

Изобретение относится к рентгеноспектральному анализу, особенно к определению среднего диаметра микровключения в плоскости шлифа

Изобретение относится к технике приготовления образцов тонких пленок для электронно-микроскопических исследований, в частности пленок, напыленных на кремниевую подложку

Изобретение относится к технике препарирования образцов для электронной микроскопии и может быть использовано при исследованиях тонкой структуры металлов и сплавов

Изобретение относится к области физико-химического анализа состава поверхности твердых тел методами вторичной ионной и электронной эмиссии

Изобретение относится к электронной и ионной микроскопии

Изобретение относится к технике пробоотбора и может быть использовано на установках микробиологического синтеза предприятий медицинской, микробиологической, пищевой и других отраслей промышленности, а также в лабораторной практике

Изобретение относится к технике пробоотбора и может быть использовано при исследовании запыленности газовых потоков в различных отраслях промышленности и техники

Изобретение относится к газовому анализу, к отбору проб газа с целью последующего исследования физических и химических свойств и может быть использовано для определения концентрации вредных веществ в промвыбросах

Изобретение относится к отбору проб твердых порошкообразных материалов, распыленных в пространстве, и может быть использовано при изучении процессов локализации и подавления взрывов газопылевоздушных смесей порошковыми ингибиторами

Изобретение относится к химическому машиностроению и направлено на усовершенствование технологического контроля за содержанием дисперсных жидких частиц в потоке газа, в частности за газоочистным сепаратором

Изобретение относится к устройствам бесконтейнерной доставки проб пульпы для анализов
Наверх