Способ магнитографического контроля изделий

 

Изобретение относится к неразрушающему контролю изделий магнитографическим методом дефектоскопии. Целью изобретения является повышение чувствительности при контроле за счет уменьшения помех, считанных с изделия, на величину полезного сигнала от дефекта и при контроле изделий с фасонными поверхностями за счет уменьшения помех, обусловленных неровностями поверхности. Для этого магнитную ленту предварительно намагничивают в поперечном направлении до состояния насыщения , затем укладывают на контролируемое изделие и намагничивают совместно с изделием полем рабочей напряженности в противоположном направлении. Перед оценкой качества изделия ленту намагничивают по участкам с равными по амплитуде помехами дополнительным полем, поместив ее на поверхность бездефектного контрольного образца, имитирующего контролируемое изделие. Направление дополнительного поля совпадает с направлением поля рабочей напряженности, а величина меньше суммы полей рабочей напряженности и поля от наибольшего допустимого дефекта. Величину напряженности дополнительного поля на каждом участке магнитопрограммы определяют путем постепенного увеличения поля рабочей напряженности до полного исчезновения сигнала от помех, обусловленных шумами от поверхности изделия. 1 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (я)5 G 01 N 27/85

ГОСУДАР СТВ Е ННЫ И КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) 1633349 а (21) 4820723/28 . (22) 03.05,90 (46) 30.06.92. Бюл. ЬЬ 24 (71) Могилевский машиностроительный институт. (72) В.А.Новиков и В.А.Романов (53) 620.179,14(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

ЬЬ 1633349, кл, G 01 N 27/85. (54) СПОСОБ МАГНИТОГРАФИЧЕСКОГО

КОНТРОЛЯ ИЗДЕЛИЙ (57) Изобретение относится к нераэрушающему контролю изделий магнитографическим методом дефектоскопии, Целью изобретения является повышение чувствительности при контроле за счет уменьшения помех, считанных с иэделия, на величину полезного сигнала от дефекта и при контроле изделий с фасонными поверхностями за счет уменьшения помех, обусловленных неровностями поверхности. Для этого магнитИзобретение относится к неразрушающему контролю изделий с фасонными flo верхностями методом магнитографической дефектоскопии и является дополнительным к изобретению по авт. са, М 1633349.

По основному авт. св. М 1633349 известен способ магнитографического контроля изделий, заключающийся в том, что магнитную ленту намагничивают в поперечном направлении до состояния насыщения, укладывают ее на поверхность контролируемого изделия, намагничивают ленту совместно с изделием полем рабочей напряженности противоположного нгправ,;.ЫХ,, 1744630 А2 ную ленту предварительно намагничивают в поперечном направлении дососто ния насыщения, затем укладывают на контролируемое изделие и намагничивают совместно с изделием полем рабочей напряженности в противоположном направлении. Перед оценкой качества изделия ленту намагничивают по участкам с равными по амплитуде помехами дополнительным полем, поместив ее на поверхность бездефектного контрол ьного образца, имитирующего контролируемое изделие, Направление дополнительного поля совпадает с направлением поля рабочей напряженности, а величина меньше суммы полей рабочей напряженности и поля от наибольшего допустимого дефекта. Величину напряженности догол нител ьного поля на каждом участке магнитопрограммы определяют путем постепенно о увеличения поля рабочей напряженности до полного исчезновения сигнала от помех, обусловленных шумами от поверхности изделия. 1 ил, ления, а перед оценкой качества изделия по магнитограмме ленту намагничивают по участкам с равными по амплитуде помехами дополнительным полем, направление которого совпадает с направлением поля рабочей напряженности, а величина меньше суммы полей рабочей напряженности и поля от наибольшего допустимого дефекта, причем величину напряженности дополнительного поля на каждом участке магнитограммы определяют путем постепенного увеличения поля рабочей напряженности до полного исчезновения сигнала от помех, обусловленных шумами от поверхности изделия, 1744630

Составитель В. Новиков

Редактор М. Бандура Техред М.Моргентал Корректор А.Осауленко

Заказ 2395 Тира к Подписное

В г-"ИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР I «13035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", r,, Ужгород, ул.Гагарина, 101

Способ магнитографического контроля изделий Способ магнитографического контроля изделий Способ магнитографического контроля изделий 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к устройствам контроля и выбраковки изношенных участков стальных канатов шахтных машин с целью предотвращения аварий вследствие обрыва канатов

Изобретение относится к магнитной дефектоскопии и может быть использовано для контроля качества из- ,делий из ферромагнитных материалов

Изобретение относится к области магнитной дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества односторонних стыковых сварных соединений , выполненных на съемной подкладке, формирующей обратный валик усиления шва, Целью изобретения является повышение точности имитации дефекта в корне шва одностороннего стыкового соединения

Изобретение относится к магнитной дефектоскопии и может быть использовано при контроле изделий из ферромагнитных материалов на наличие локальных дефектов (пор, шлаковых включений)

Изобретение относится к магнитной дефектоскопии и может быть использовано для контроля качества стыковых сварных соединений из ферромагнитных материалов

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для магнитографической дефектоскопии качества изделий из ферромагнитных материалов

Изобретение относится к магнитной дефектоскопии

Изобретение относится к магнитной дефектоскопии и может быть использовано для обнаружения внутренних дефектов сварных швов магнитографическим методом

Изобретение относится к неразрушающему контролю магнитографическим методом

Изобретение относится к магнитной дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества шва

Изобретение относится к области магнитографической дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества изделий из ферромагнитных материалов, например гибов труб, шеек коленчатых валов, фасонных изделий, несущих конструкций и т.д

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля и может быть использовано для дефектоскопии ферромагнитных лент и пластин

Изобретение относится к области неразрушающего магнитографического контроля труб и изделий трубчатой формы, в частности литых чугунных заготовок гильз цилиндров автомобилей

Изобретение относится к дефектоскопии магнитографическим методом и может быть использовано при контроле качества изделий из ферромагнитных материалов

Изобретение относится к магнитографическому методу неразрушающего контроля стыковых сварных соединений
Изобретение относится к магнитографическому методу неразрушающего контроля

Изобретение относится к магнитографическому методу неразрушающего контроля стыковых сварных швов

Изобретение относится к магнитографическому методу неразрушающего контроля

Изобретение относится к магнитографическому контролю изделий с поверхностью малой кривизны и сварных швов со снятым усилением из магнитомягких сталей (с коэрцитивной силой меньше 10 А/см)
Наверх