Способ определения поверхностной и объемной однородности материалов

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

Сова Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства ¹â€”

3 аявлсно 21,Л1.1967 (№ 1177958/25-28) с присоединением заявки №вЂ”

Приоритет

Опубликовано 05.Vill.1969. Бюллетень ¹ 25

Дата опубликования описания 24.XII,1969

Кл. 42k, 46/06

МП1i G 01n

УДК 620.179.16 (088.8) комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

Автор изобретения

П. К. Янышев

Заявитель

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОВЕРХНОСТНОЙ И ОБЪЕМНОЙ

ОДНОРОДНОСТИ МАТЕРИАЛОВ

Настоящее изобретение мо. кет быть использовано в металлургии, металлообрабатывающей промышленности и приборостроении при разработке технологии изготовления механических резонаторов, электромеханических фильтров, применяемых в радиотехнике, автоматике и т. п.

Известные способы определения однородности, заключающиеся в возбуждении образца и замере частот собственных колебаний в двух взаимно перпендикулярных направлениях, недостаточно точны.

Цель изобретения — повышение .разрешающей способности и точности определения однородности материалов.

Для определения однородности материалов берут брусок, пластину, поковку или любой образец, предназначенный для испытания и имеющий материал и режимы обработки, одинаковые с деталью, возбуждают любым способом колебания в нем и замеряют частоту собственных колебаний. Затем уменьшают толщину ооразца, например, путем двусторонней симметричной шлифовки, и несколько раз повторяют описанные операции, после чего строят график зависимости частоты собствен5 ных колебаний от изменения толщины образца и по прямолинейности полученной характеристики судят об однородности материала.

Предмет изобретения

10 Способ определения поверхностной и объемной однородности материалов после различных видов обработки, заключающийся в том, что возбуждают образец и замеряют частоту собственных колебаний, отлича ощийся

15 тем, что, с целью .повышения точности, возбуждение колебаний и замер частот собственных колеоаний производят при последовательном уменьшении толщины образца, строят график зависимости частоты собствен20 ных колебаний от изменения толщины образца и по прямолинейности полученной характеристики судят об однородности материала.

Способ определения поверхностной и объемной однородности материалов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к, микроэлектронным датчикам - химическим и биосенсорам, предназначенным для одновременных акустических на поверхностно-акустических волнах (ПАВ) и оптических исследований физико-химических и (или) медико-биологических свойств тонких порядка 0.1 мкм (100 нм) и менее нанопленок

Изобретение относится к методам неразрушающего контроля и может быть использовано для диагностики объектов при сборке по параметрам их механических колебаний, например, серийных изделий устройств контроля схода подвижного состава (УКСПС)

Изобретение относится к кампанологии (колоколоведению - науке о колоколах) и имеет целью определение возраста наиболее ценных для истории колоколов
Изобретение относится к дефектоскопии и предназначено для обнаружения дефектов типа трещин, изломов, несвязанных границ главным образом в изделиях из необожженной керамики, но может быть использовано для дефектоскопии изделий из обожженной керамики, стекла, металла и других материалов

Изобретение относится к акустической технике и может быть использовано при проектировании приборов для исследования упругих свойств образцов и физико-химических процессов

Изобретение относится к ультразвуковой технике, позволяет осуществлять ультразвуковой контроль за структурным состоянием поверхностей в гетерофазных средах и может найти применение в научных исследованиях, а также в химической, нефтехимической и фармацевтической отраслях промышленности
Наверх