Устройство для проверки полупроводниковыхдиодов

 

ОП ИСАНИ Е

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

277954

Союз Саветскит

Сопиалистическит

Респуйлик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Зависимое от авт. свидетельства №,—

Кл. 21g, 11/02

Заявлено 07.1Ч.!969 (М 1324263/26-25) с присоединением заявки №вЂ”

Приоритет—

Комитет по аеламивоеретеиий и атирмтий ори Совете Министров

СССР

МПК G Olr 31/26

УДК 621.382.3 (088.8) Опубликовано 05.Ч111Л970 Бюллетень М 25

Дата опубликования описания 24.Х1.1970

1 I

Н . А. Андреев, В. Т,. Петров и А. В. Семенов

Авторы изобретения

Заявитель

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПРОВЕРКИ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ

ДИОДОВ

Изобретение относится к устройствам для проверки полупроводниковых диодов и может быть использовано на предприятиях, производящих полупроводниковые диоды или применяющих их.

Известны устройства для проверки полупроводниковых диодов, содержащие блок литания, блок эталонного напряжения, блок регистрации кратковременных коротких замыканий и кратковременных обрывов, состоящий из импульсного усилителя, триггера и исполнительного органа, блок регистрации постоянных коротких замыканий, состоящий из диодно-рсгенеративной схемы сравнения, триггера, исполнительного устройства; блок регистрации постоянных обрывов, состоящий из диодно-рсгенеративной схемы сравнения, триггера и исполнительного устройства.

Недостатками таких устройств являются большое количество блоков, низкая помехоустойчивость, сложность настройки, необходимость иметь источник эталонного напряжения.

Целью изобретения является повышение помехоустойчивости и надежности устройства при сокращении количества элементов схемы.

Для этого в предлагаемом устройстве блок обнаружения постоянных коротких замыканий и постоянных обрывов выполнен по мостовой схеме, входная диагональ которой подсоединена к источнику постоянного напряжения, а в выходную диагональ включено поляризованное реле со средним положением якоря последовательно двум ограничительным диодам, соединенным между собой встречно-параллельно. Проверяемый диод включен в прямом направлении в одно из плеч моста, а в качсстве эталонного элемента соответствующего пле5 ча в прямом направлении включен диод. Вход импульсного усилителя подсоединен параллельно клеммам для включения проверяемого диода.

Параметры мостовой схемы выбраны таки)p ми, чтобы разность между напряжением на диоде, используемом в качестве эталонного элемента, и прямым падением напряжения на ограничительном диоде, включенном в одном направлении с проверяемым диодом, была

15 больше напряжения срабатывания реле на величину наименьшего падения напряжения на проверяемом диоде, а сумма напряжения на диоде, используемом в качестве эталонного элемента, и прямого падения напряжения на

2О ограничительном диоде, включенном встречно проверяемому диоду, была больше напряжения срабатывания реле на величину наибольшего падения напряжения на проверяемом диоде.

25 На чертеже представлена блок-схема предлагаемого устройства, содержащая стабилизированный источник питания 1, блок 2 регистрации кратковременных коротких замыканий и кратковременных обрывов, усилитель 3, зО триггер 4, исполнительное устройство 5, реле б, блок 7, регистрации постоянных коротких замыканий и постоянных обрывов, диоды 8 — 11, испытуемый диод 12, реле 18, переменное со277954

l !

1 !

1

11 !! ! ! !

Заказ 2239/16

Тираж 480

ПОЛПИСНОГ

Типография ВДНХ СССР лротивление 14, ограничительное сопротивление 15.

При кратковременном коротком замыкании и кратковременнсм обрыве в испытуемом диоде 12 импульс напряжения снимается непосредственно с этого диода, чем достигается помехоустойчивость со стороны питания, так как динамическое сопротивление испытуемого диода 12 значительно меньше сопротивления 14, подключенного последовательно с ним. Напряжение подается на вход импульсного усилителя 3, где усиливается и поступает на вход триггера 4. Через опорный диод 10 напряжение с выхода триггера 4 поступает на исполнительное устройство 5. Реле 6 срабатывает, и включается сигнальная лампа, указывающая на кратковременные замыкания или кратковременные обрывы.

При постоянном коротком замыкании напряжение на испытуемом диоде 12 равно нулю. Ток проходит через диод 8, срабатывает поляризованное реле И, включается сигнальная лампа, показывающая постоянное короткое замыкание.

При пос1оянном обрыве в диоде 12 ток пройдет через диод 9, обмотку поляризованного реле И, которое включит сигнальную лампочку, показывающую обрыв в диоде 12.

Применение описываемого устройства позволяет использовать один источник питания, повышает помехоустойчивость устройства со стороны питания, значительно сокращает количество элементов схемы.

Предмет изобретения

5 Устройство для проверки полупроводниковых диодов, содержащее источник постоянного напряжения, блок обнаружения кратковременных коротких замыканий и кратковременных обрывов, выполненный в виде после=

lo довательно соединенных между собой импульсного усилителя, триггера и исполнительного органа; блок обнаружения постоянных коротких замыканий и постоянных обрывов, отличающееся тем, что, с целью повышения поме-!

5 хоустойчивости и надежности работы устройства, блок обнаружения постоянных коротких замыканий и постоянных обрывов выполнен по схеме моста, входная диагональ которого подсоединена к источнику постоянного напря20 жения, а в выходную диагональ включена обмотка поляризованного реле со средним положением якоря последовательно двум ограничительным диодам, соединенным между собой встречно-параллельно, при этом одно из плеч

28 моста имеет клеммы для включения проверяемого диода в прямом направлении, а в качестве эталонного элемента соответствующего плеча в прямом направлении включен диод, кроме того, вход импульсного усилителя подсое8О динен параллельно клеммам для включения проверяемого диода.

Устройство для проверки полупроводниковыхдиодов Устройство для проверки полупроводниковыхдиодов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может найти применение в электронной технике для измерения напряжений на диэлектрике и полупроводнике, а также их временного изменения в МДПДМ-структурах

Изобретение относится к технике контроля параметров полупроводников и предназначено для локального контроля параметров глубоких центров (уровней)

Изобретение относится к электронике и при использовании позволяет повысить точность контроля заданной величины отрицательного дифференциального сопротивления за счет изменения соотношения глубины положительных и отрицательных обратных связей в элементе с регулируемыми напряжениями и токами включения и выключения

Изобретение относится к области электротехники и может быть использовано при конструировании и производстве тиристоров

Изобретение относится к радиационной испытательной технике и может быть использовано при проведении испытаний полупроводниковых приборов (ППП) и интегральных схем (ИС) на стойкость к воздействию импульсного ионизирующего излучения (ИИИ)

Изобретение относится к области измерения и контроля электрофизических параметров и может быть использовано для оценки качества технологического процесса при производстве твердотельных микросхем и приборов на основе МДП-структур

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения электрофизических параметров материалов, и может быть использовано для контроля качества полупроводниковых материалов, в частности полупроводниковых пластин

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для контроля полярности выводов светодиодов

Изобретение относится к области теплового неразрушающего контроля силовой электротехники, в частности тиристоров тиристорных преобразователей, и предназначено для своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода изделия в целом в специальный контрольный режим
Наверх