Устройство для исследования микроструктуры образца при его дефор.мировании

 

ОГ1ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

288379

Союз Свветски1

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства ¹

Заявлено 18Х1!1,1969 (№ 1356260. 25-28) Кл. 42k, 45 02 с присоединением заявки №,ЧПК 6 01b 11. 16

G 01п 306

УДК 620.172.21(088.8) Приоритет

Опубликовано ОЗ.Х11.1970. Бюллетень ¹ 36

Дата опубликования Описания. 28.1.1971

Комитет по делам изобретений н открытий лри Совете Министров

СССР

Авторы изобретения

Д. М. Скоров, А. И, Дашковский, Б. А. Калин и А. Е. Григорьев

Московский инженерно-физический институт

Заявитель

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ МИКРОСТРУКТУРЫ

ОБРАЗЦА ПРИ ЕГО ДЕФОРМИРОВАНИИ

Изобретение относится к области измерительной техники.

Известно устройство для исслсдоваklèkk микроструктуры образца при его деформировании, содержащее нагружавший механизм, микроскоп и механизм перемещения обьсктива микроскопа.

Предлагаемое устройство отличается тем, что его нагру;кающий механизм выполнен в виде нажимного элемента, зуб чатого сектора и штока, соединенного одним концом с нажимным элементом, а другим — с зубчатым сектором, механизм перемещения объектива выполнен в виде зубчатого сектора и штока, соединенного одним концом с зубчатым сектором, а другим — с объективом, и кинсматически связан с нагружающkDI механизмом передаточным устройством, обеспечивающим линейное перемещение объектива, равное линейному перемещению пажимного элемента.

Это создает условия для непрерывного исследования микроструктуры образца при изгибе.

На чертеже иозбражена принципиальная схема предлагаемого устройства.

Оно содержит нагружающий механизм, микроскоп 1 и механизм перемещения объектива микроскопа.

Нагружающий механизм выполнен в виде нажимного элемента 2, зубчатого сектора 8 и штока 4, соединенного одним концом с наи:,имным элементом, а др1 гпм — c зубчатым сектором. Механизм перемещения ооъсктнва выпол:e» в виде зубчатого сектора 5 и штока

6, соединенного одним концом с зубчатым сектором 5, а другим — с объективом микроскопа, и кпнематпческп связан с нагружающим механизмом псрсдаточным устройством 7, обеспечивающим линейное перемещение объектива, равное линейному перемещению на10 ж и много эл ем снта.

Образсп 8 устанавливают на опоры 9 и начинают нагружать нажпмным элементом, перемещаемым прп вращении лимба 10. Прп этом псрсдаточное устройство оосспсчпваст перемещение Ооъектпва микроскопа на BLличину, равную стреле прогиба образца.

Таким образом осуществляется непрерывнаяя фокусировка изображения в процессе деформирования образца изгибом.

Предмет изобретения

Устройство для исследования микроструктурыы образца прн его деформированпп, содержащее нагр1жа10щпи механизм, микроскоп kf

25 механизм перемещения обьектпва микроскопа, отличающееся тем, что, с целью непрерывного исследования микроструктуры образца при изп бе, нагружающий механизм выполнсH в виде нажимного элемента, зубчатого секто30 ра и штока, соединенного одним концом с на288379

Составитель А. Босой

Редактор T. Ф. Гаврикова Техред А. А. Камышникова Корректор Л. Л. Евдонов

Заказ 3995 16 Тираж 480 Подписное

Ц1Л1ЛИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, 7К-35, Раушскаи паб., д. 4 5

Типографии, и р. Са пун ова, 2 жимным элементом, а другим — с зубчатым сектором, а меканизм перемещения объектива выполнен в виде зубчатого сектора и штока, соединенного одним концом с зубчатым сектором, а другим — с объективом, и кинематически связан с нагружающим механизмом передаточным устройством. обсспе ивающим линейное перемещение объектива,. равное линейному перемещению нажнмного, 5 элемента.

Устройство для исследования микроструктуры образца при его дефор.мировании Устройство для исследования микроструктуры образца при его дефор.мировании 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к определению деформаций деталей и образцов оптическими методами
Наверх