Фотоэлектрический микроскоп для контроля положения штриха меры
.Взаман,.ранее изданного
Ъ
33Ж ..
Сова Советскив
Социалистическиа
Республик
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Зависимое от авт. свидетельстга №
М. Кл. G 01Ь 11 02
Заявлено 11.VI.1970 (№ 1449281/25-28) с присоединением заявки №
Приоритет
Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров
СССР
Опубликовано 10.Xl!1971. Бюллетень N 1 за 1972
Дата опубликования описания 7.1Х.1972
УД К 531.715 (088.8 ) Авторы изобретения
А. В. Высоцкий и А. В. Ляховский
Заявитель
ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ МИКРОСКОП ДЛЯ КОНТРОЛЯ
ПОЛОЖЕНИЯ ШТРИХА MEPbl
Предлагаемое устройство относится к области измерительной техники, а именно, к приборам для проверки штрихового измерительного инструмента, содержащего шкалу и индекс (нониус).
Известен фотоэлектрический микроскоп для контроля положения штриха меры, содержащий оптическую систему наведения на штрих и отсчетиое устройство.
Микроскоп перестанавливают для последовательного наведения»а штрих шкалы и штрих-индекс с отсчетом несовпадения штрихов по перемещению самого микроскопа.
Работа с помощью известного устройства является малопроизводительной, и, кроме того, в измерение вносятся погрешности за счет установки, Предлагаемый микроскоп позво.пяет измерять величину несовпадения штриха и ш триха-индекса (нониуса) за одну установку микроскопа, что обеспечивает автоматизацию контроля.
Предлагаемый микроскоп отпичается от известного тем, что оптическая система снабжена элементом, обеспечивающим смещение изображения в поле зрения микроскопа вдоль направления штриха и выполненным, наприллельной пластины, оворачиваться вокруг льной оси меры.
На чертеже представлена принципиальная схема предлагаемого микроскопа. Микроскоп содержит оптическую систему наведения на штрих, состоящую из осветителя 1, объектива
2, окуляра 8, сканатора 4, фотоприемника 5, преобразующий блок б с отсчетным устройством, плоскопараллельную пластину 7. Контролируемая мера, например, шкала 8 с индексом 9, изображена также на чертеже.
Работает микроскоп следующим образом.
Свет от осветителя 1 освещает меру — шкалу
8 с иидсксом (130Hti) co%1) 9. Отражаясь шкалы, свет проходит через плоскопараллель15 ную пластину 7, которая может поворачиваться вокруг оси, параллельной оси шкалы.
Пройдя пластину, свет попадает в объектив 2 микроскопа и образует в плоскости сканатора 4 (если таковой имеется) изображение
20 штриха, затем свет проходит через окуляр 8, который образует уве.пиченное изображение штриха в фотоприемнике 5. Положение штриха указывается преобразующим блоком 6 с отсчетным устройством. Место, на которое наведен микроскоп, зависит от угла поворота пластины 7.
Угол поворота выбирается так, чтобы в крайних положениях пластины в поле зрения микроскопа попадали штрихи только основной
Зо шкалы или штрих-индекса (нониуса). Кои323646
Предмет изобретения
Составитель А. Лобзова
Техред Л. Богданова
Корректор С. Сатагулова
Редактор Л. Дьяконова
Заказ 2695/2 Изд. № 1190 Тираж 448 Подписное
ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР
Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5
Типография, пр. Сапунова, 2 тролируемый прибор со шкалой 8 и индексом
9 (нониусом) настраивается на измерение образцового перемещения, например, концевой меры длины. Микроскоп наводится на соответствующий штрих шкалы 8 так, чтобы отсчегное устройство показало нуль. Поворотом пластинки, не смещая микроскоп, производится наводка па индекс нониуса 9, который должен совпадать с указанным штрихом шкалы, и по отсчетному устройству определяется величина несовпадения штриха и индекса, т. е. комплексная погрешность измерительного прибора.
Фотоэлектрический микроскоп для контроля положения штриха меры, содержащий оптичсскую систему наведения на штрих и отсчетпос устройство, отличаю цийся тем, что, с целью автоматизации контроля, оптическая система снабжена элементом, обеспечивающим смещение изображения в поле зрения
10 микроскопа вдоль направлсния штриха, и выполиегипям, например, в виде плоскопараллельной пластины, имеющей возможность поворачиваться вокруг оси, параллельной продольной оси меры.
