Патент ссср 393780

 

Союз Советских

Социалистимеских

Ресвублик

Зависимое от авт. свидетельства №вЂ”

Заявлено 03.! !.1971 (№ 1630581/26-25) с п|рисоединением зая:вки №вЂ”

П риоритет—

Опубликовано 10Х!!!.1973. Бюллетень № 33

Дата опубликования описания 07.XI I.1973

M. Кл. Н Olj 37/26

Государственный комитет

Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

УДК 621.385.83З(088.8) Авторы изобретения

В. И. Афанасьев, Б. И. Левандовский, A. Ф. Михайлов и

И. И. Солошенко

Харьковский Государственный педагогический институт им. Г. Сковороды

Заявитель

УСТРОЙСТВО ДЛЯ АВТОМАТИЧЕСКОЙ СМЕНЫ ОБРАЗЦОВ

В АВТОИОННОМ МИКРОСКОПЕ

Изобретение относится к области автоионной микроскопии.

Известные в практике автоионной микроскопии способы смены образцов требуют либо полной разгерметизации вакуумной камеры 5 прибора, либо сложного устройства шлюза для переноса образца в высоковакуумную камеру, исключающего изменение температуры образца в процессе работы микроскопа.

Целью изобретения является осуществление 10 переключения образца без герметизации и отогрева до комнатной температуры вакуумной камеры микроскопа.

Поставленная цель достигается тем, что устройство для смены образцов в автоионном 15 микроскопе выполнено в виде маятникового подвеса с грузом, в котором закреплены держатели образцов, и снабжено электромагнитным толкателем.

Схема предлагаемого устройства представ- 20 лена на чертеже.

Игольчатые образцы — — эмнттеры, приваренные к проволочным дужкам 1, закрепляются в медных зажимах 2, запрессованных в изоляторах 8, которые перемещаются по направля- 25 ющим 4 между стенками маятникового подвеса 5.

Точность установки образца достигается благодаря пружинам 6, поджимающим изоляторы с зажимами и закрепленными в них об- 30 разцами к одной из стенок маятникового подвеса. Тепловой и электрический контакт зажимов с электродами 7 обеспечивается за счет действия силы тяжести свинцового груза 8.

Для смены образца кратковременно пропускается ток через обмотку электромагнитного толкателя 9. Толкагель перемещает изолятор . с закрепленным образцом в направлении, указанном стрелкой, на расстояние, несколько большее диаметра электрода 7. Поддействием тяжести груза 8 маятниковый подвес начинает двигаться и останавливается в положении, обеспечивающем тепловой и электрический контакт электродов 7 с образцом № 2. Таким же образом производится переключение последующих образцов.

Наблюдение образца в автоионном микроскопе можно производить практически сразу же после переключения, так как температура всех закрепленных в устройстве образцов мало отличается от температуры работающего образца за счет того, что все устройство окружено «рубашкой» 10, охлаждаемой жидким азотом.

Электроды 7 во время работы автоионного микроскопа находятся под высоким положительным потенциалом. В связи с этим они отделены от внутреннего сосуда 11 с жидким азотом изолятором 12 из полиметилметакрилата.

393780

Предмет изобретения

Ретактов В. Фельсов;ан Те.;рек т.:;у к л <о 1(орректор Л. царькова

- о, P:. как в,о в 4о

Тквотра и;а . "- .,,о":о ие.вй::ро,..-о оек-,1, 1210З, ул. Мар:.са — -Рпгел с1> 4

Наличие двух изолированных друг от друга электродов 7 позволяет производить нагрев образцов во время наблюдения пропусканием тока через проволочные дужки, к которым приварены образцы. Количество образцов, которые возможно одновременно закрепить в держателе, определяется рабочим объемом камеры микроскопа. Предлагаемое устройство предназначено в основном для применения в автоионных микроскопах, не требующих для своей работы сверхвысокого вакуума.

Устройство для автоматической смены образцов в автоионном микроскопе, закрепленных в держателях, отличающееся тем, что, с целью осуществления переключения образцов без герметизации и отогрева до комнатной температуры вакуумнои . камеры микроскопа, оно выполнено в виде маятникового подвеса

10 с грузом, в котором закреплены держатели образцов, и снабжено электромагнитным толкателем,

Патент ссср 393780 Патент ссср 393780 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к электронным вакуумным приборам, в частности к эмиссионным микроскопам и видеоусилителям, и раскрывает способ визуализации и увеличения изображений исследуемых объектов

Изобретение относится к области электронной микроскопии

Изобретение относится к области электронных приборов, в частности к эмиссионным видеоустройствам

Изобретение относится к области научного приборостроения и может быть использовано для получения топографии проводящих поверхностей, а также для изучения физико-технологических свойств твердых тел

Изобретение относится к сканирующей туннельной спектроскопии и может быть использовано для получения топографии проводящих поверхностей, а также изучения физико-технологических свойств твердых тел

Изобретение относится к исследованию микрорельефа как проводящих, так и непроводящих поверхностей образцов твердых тел

Изобретение относится к области нанотехнологий, в частности к измерению температуры одной проводящей (металлической или полупроводниковой) наночастицы с помощью сканирующего туннельного микроскопа, работающего в режиме наноконтакта и использование эффекта Зеебека в наноразмерной контактной области

Изобретение относится к эмиссионной электронике и предназначено главным образом для изготовления микроострий-зондов для туннельных микроскопов, а также точечных автоэлектронных источников и образцов для автоэмиссионной микроскопии
Наверх