Устройство для растяжения объекта в электронном микроскопе

 

О П И С А Н И Е 9 75

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

Союз Советских

Социвлистимеских

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Зависимое от авт. с впдетел ьств я ¹â€”

Заявлено 13.Х.1971 (¹ 1705447/26-25),Ч. Кл. Н 01j 37/26 с присоединением заявки %в

Приоритет—

Опубликовано 29.VI(1.1973. Бюллетень ¹ 36 УДК 621.385.833 (088.8)

Дата опубликования описания 21.1.1974

Государственный комитет

Совета Министров СССР ао делам изобретений и откропий

Ав rop»i изобретения П. П. Бярзилович, В. К. Кононенко, Э. А Шуляк, Л. M Климовицкий и А. H. Мартыненко

Заявитель

УСТРОЙСТВО ДЛЯ РАСТЯЖЕНИЯ ОБЪЕКТА

В ЭЛЕКТРОННОМ МИКРОСКОПЕ

Изобретение относится к узлам и деталям электронно-оптических приборов и может быть использовано в электронных микроскопах и электропографах, Известные устройства для растяжения объекта в электронном микроскопе содержат основание, закрепленное на столике микроскопа, рычаги, выполненные из биметаллических пластин, и башмаки для крепления объекта.

Однако в этих устройствах при одних и тех жс значениях тока электрических подогревателей из-""а недостаточной жесткости биметаллических рычагов величины деформации объекта нсоднозначны; необходимость крепления объекта с помощью клея обуславливает длительную (до 8 час) выдержку объекта перед исследованием, что снижает производительность исследований и значительно затрудняет проведение исследований с быстроокисляющимися объектами.

Цель изобретения — увеличение жесткости устройства для растяжения объектов в электронном микроскопе и увеличение производительности исследований.

Цель достигается путем применения в предлагаемом устройстве двух систем рычагов, каждая из которых содержит балку, выполненную из биметаллической пластины н закрепленную с двух сторон, К середине балкнплястпны прикреплен рычаг, установленньш на шарнирной оси, которая делит рычаг на две неравные части, причем у свободного конца рычага плечо короче. На свободных концах рычагов установлены эксцентриковые зажимы для крепления исследуемого объекта.

На фиг. 1 приведена кинематическая схема предлягае«oro устройства; на фиг, 2 представлено предлагаемое устройство в разрезе.

Устройство содержит нагреватель 1; биметаллические пластины 2; опоры 8; рычаги 4, шарнирно установленные на осях 5; эксцентриковые оси б; зажимы 7 для крепления исследуемого объекта на свободных концах ры15 чягов 4.

Действует пр«длагаемое устройство следующим образом.

При прохождении тока тепло от нагревателей 1 передается биметаллическим пласти2î ням 2, которые, нагреваясь, прогибаются в направлешш сил F> и Г и увлекают за собой прикрепленные к ним рычаги 4. При этом свободные концы рычагов, заоерелленны на шарнирных осях 5, перемещаются в направ25 лениях сил F3 и F< и вызывают растяжение закрепленного на них объекта 8. Объект 8 закрепляют на рычагах 4 и освобождают вращением эксцентриковых осей б в ту или дру ую сторону. Зто позволяет быстро менять исследуемый объект.

396751

Предмет изобретения

Устройство для растяжения объекта в электронном микроскопе, состоящее из биметаллических пластин, нагревателей и рычагов, отлича оцееся тем, что, с целью увеличения жесткости устройства и увеличения производительности исследований, в нем применены две системы рычагов, каждая из которых содержит балку, выполненную из биметаллической пластины, защемленную с двух сторон, к середине которой прикреплен рычаг, установленный на шарнирной оси, причем на свободных концах рычагов установлены эксцентриковые зажимы для крепления объекта.

39675) Составитель И. Ратенберг

Техред Т. Бурилко Корректор В. Федулова

Редактор И, Орлова

Обл. тип. Костромского управления издательств, полиграфии и книжной торговли

Заказ 6510 Изд. М 1901 Тираж 780 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4!5

Устройство для растяжения объекта в электронном микроскопе Устройство для растяжения объекта в электронном микроскопе Устройство для растяжения объекта в электронном микроскопе 

 

Похожие патенты:

Ан ссср // 377922

Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию, к устройствам, обеспечивающим транспортировку и установку зондов и образцов в позиции измерения и функционального воздействия

Изобретение относится к ядерной технике, в частности к исследованию материалов, подвергающихся воздействию радиации

Изобретение относится к способам получения изображений в растровой электронной микроскопии

Изобретение относится к сканирующей туннельной спектроскопии и может быть использовано в зондовых микроскопах и приборах на их основе

Изобретение относится к области научного приборостроения и может быть использовано при выпуске просвечивающих электронных микроскопов

Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию и предназначено для замкнутого цикла производства новых изделий наноэлектроники

Изобретение относится к микробиологии и может применяться при профилактике инфекционных болезней

Изобретение относится к вакуумной технике и предназначено для проведения операций по перемещению объектов внутри вакуумных систем
Наверх