Способ регистрации дифракционной картины

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства ¹â€”

М. Кл. Н 01j 37!26

Заявлено 31 V.1971 (М 1661899/26-25) с присоединением заявки №вЂ”

Приоритет

Опубликовано ОЗ.Х.1973. Бюллетень № 39

Дата опубликования описания 14.II.1974

Государственный комитет

Совета Министров СССР но делам иаооретеннй и открытий

УДК 621.385.833 (088.8) Авторы изобретения

Д. В. Иремашвили и В. М. Артемов

Заявитель «ч 11

СПОСОБ РЕГИСТРАЦИИ

ДИФРАКЦИОННОй КАРТИНЫ

Изобретение относится к технике электронно-структурного исследования твердых тел методом медленных электронов.

Известен способ регистрации дифракцпонной картины, состоящий из качественного визуального наблюдения дифракционной картины и количественного измерения интенсивности дифракционных рефлексов и фона.

Однако известный способ не обеспечиваег непрерывное наблюдение электронограммы и одновременное измерение в любой анализируемой точке:дифракционного,поля.

Целью изобретения является обеспечение непрерывного наблюдения .электроногpBMMbl и одновременного измерения интенсивности в любой анализируемой точке дифракционного поля.

Для этого вращают полусферический флуоресцирующий экран вокруг оси пушки медленных электронов, а коллектор электронов, например цилиндр Фарадея, перемещают вдоль оси, проходящей от середины к краю экрана, до совмещения с анализируемой точкой дифракционного поля.

На чертеже приведена схема устройства, позволяющего реализовать предложенный способ.

Устройство содержит поворотный сферический .флуоресцирующий экран 1 со щелью, против которой помещен коллектор 2. Коллектор, электрически изолированный от экрана 1, поворачивается вместе с экраном и, кроме того, перемещается вдоль щели. Исследуемый кристалл 3 бомбардируется пучком мед5 ленных электронов, формируемых пушкой 4.

Стрелками показаны направления вращения экрана и перемещения коллектора 2.

Для абсолютного измерения интенсивности анализируемой области наблюдаемой диф10 ракционной картины флуоресцирующий экран

1 .поворачивают вокруг осп пушки 4 медленных электронов до совмещения этой области со щелью в экране 1, а затем в эту область помещают коллектор 2.

Предмет изобретения

20 Способ регистрации дифракционной картины, например в электронографе медленных электронов. включающий визуальное наблюдение дифракционной картины на флуоресцирующем экране и количественное измерение

25 интенсивности дифракционного,поля, отличающийся тем, что, с целью обеспечения непрерывного наблюдения электронограммы и одновременного измерения интенсивности в л.обой анализируемой точке дифракционного по30 ля, вращают полусферический флуоресцирую399936

Составитель И. Ратенберг

Техред Л. Богданова Корректор В. Федулова

Редактор А. Зиньковский

Заказ 20б, 10 Изд. ¹ 45 Тираж 780 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

Москва, )K-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2 щий экран вокруг оси пушки медленных электронов, а коллектор электронов, например цилиндр Фарадея, перемещают вдоль оси, проходящей от середины к краю экрана, до совмещения с анализируемой точкой дифракционного поля.

Способ регистрации дифракционной картины Способ регистрации дифракционной картины 

 

Похожие патенты:

Ан ссср // 377922

Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию, к устройствам, обеспечивающим транспортировку и установку зондов и образцов в позиции измерения и функционального воздействия

Изобретение относится к ядерной технике, в частности к исследованию материалов, подвергающихся воздействию радиации

Изобретение относится к способам получения изображений в растровой электронной микроскопии

Изобретение относится к сканирующей туннельной спектроскопии и может быть использовано в зондовых микроскопах и приборах на их основе

Изобретение относится к области научного приборостроения и может быть использовано при выпуске просвечивающих электронных микроскопов

Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию и предназначено для замкнутого цикла производства новых изделий наноэлектроники

Изобретение относится к микробиологии и может применяться при профилактике инфекционных болезней

Изобретение относится к вакуумной технике и предназначено для проведения операций по перемещению объектов внутри вакуумных систем
Наверх