Устройство для автоматического измерения отклонений от прямолинейности поверхности

 

О П И С А Н И Е (1цв з245

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

Союз Советских

Социал исти неских

Ресттубвни

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. саид-ву с присоединением эаявки № (23) Приоритет

Гот дарственный квинтет

6оаата Мнннотроа СССР оо делам нзооретеннй н отнрытнй (43) Опубликоваио(о5.05. 76. Бюллетень Х 17

I \ (45) Дата опубликования описаииИ 14.05.76

4 (53) УДК

531.715.27 (O8B.8) (72) Авторы изобретения

В. В. Леонов. Л. Л. Зейгман и Ю. H. Кокни (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ПЛЯ АВТОМАТИЧЕСКОГО ИЗМЕРЕНИЯ

ОТКЛОНЕНИЙ ОТ ПРЯМОЛИНЕЙНОСТИ ПОВЕРХНОСТИ

Изобретение относится к измерительной

;технике, в частности к приборам для иэме-! рения непрямолинейности, и может быть применено в станкостроительной и металло,обрабатывающей промышленности, а также во всех областях науки, техники, где производятся измерения отклонений от прямолинейности.

Известно устройство для автоматического измерения отклонений от прямолинейности поверхности, содержащее последова тельно расположенные источник света, измерительную каретку с установленным на ней оптическим блоком, выполненным а ви,де двух линз, компенсационную пластину, аксикон, позиционно-чувствительный фотоприемник и электронный блок обработки сигнала с фотоприемника, !

Источник света установлен на одном кон це измеряемой поверхности, аксикон на другом. Фотоприемник электрически связан

1 ! с плоскопараллельной пластиной. Любое .отклонение измерительной каретки от оси

1 ,аксикона приводит к смешению изображ эния точечного источника на поверхности.фотоприемника. Выходное напряжение, появляющееся на выходе фотоприемника в ре,зультате этого отклонения, усиливается и подается на сврводвигатель, который управляет угловым перемещением компенсационной пластины таким образом, чтобы изобра,жение оставалось в центре фотоприемника. !

Измеряя угловое положение компенсационной пластины в измеряемых точках судят

10 о величине отклонения от прямолинейности поверхности

Недостатки известного устройства эаклю чаются в наличии механической связи для поворота компенсационной пластины, кото15 рая приводит к большим погрешностям ре-! зультата измерения, а также сложность преобразования измеряемой величины в электрический сигнал.

Цель изобретения - уменьшение погреш20 ности измерения и упрощения преобразования измеряемой величины в электрический

:сигнал, Предлагаемое устройство отличается от известного тем, что оптический блок

И выполнен в виде последовательно установ< (22) аявлеиоС 2 1? 74(21} 080445 5 28 (51) + К

gO1 В 11/ЗО

r 513245 ленных мозаичного модулятора Керра и лин- дя эы, а фотоприемник расположен В фокаль» мо ной плоскости линзы и электрически связан с электродами модулятора Керра.

На чертеже изображено предлагаемое ;гд устройство, общий вид.

6 пр

Устройство содержит источник св.та 1, например лазер, который создает световой п поток, направленный в сторону измерительной каретки 2, перемещающейся вдоль

Измеряемой поверхности. На измерительной каретке расположены мозаичный моду- тр лятор Kepps и линза 3, в фокальной плос кости которой размещен фотоприемник 4.

Световой поток, сформированный источником спета, попадает на мозаичный моду лятор Керра. Мозаичный модулятор состоит из двух ячеек Керра 5 и 6, в которые пр введены электроды 7 и 8 и один общий электрод 9. Ячейки Керра расположены между скрещенными поляроидом 10 и анализатором 11. Мозаичный модулятор Керра установлен таким образом, что часть ра светового потока попадает в ячейку 5, а часть — a ячейку 6. Световой поток, прошедший модулятор, собирается линзой на фотоприемняк 4, сигнал с фотоприемника попадает в электронный блок обработки сит нала с фотоприемника, гдв он усиливается ву усилителем 12 и детектируется фаэовым

39

pаВ детектором 13. Напряжение с фазового де- Рат твктора поступает на генераторы высоковольтныхимпульсов 14 H 15, вырабатывающих поочередно однополярные импульсы одинаковой длительности, причем амплитуда их управляется. напряжением с фазового детекторе таким образом, что если амплитуда импульса с одного генератора уменьшается, то амплитуда импульса с другого тор генератора возрастает на такую же вели- 40 ры чину, t им.

Устрой гво — àáîòàåò следующим обрада эом. раз

Вследствие непрямолинейностн измеря1 вмой поверхности 16, измерительная карет ка " перемещается относительно светового потока, что приводит к перемещению мопод эанчного моцулятора Кврра относительно светового потока.

Так как часть светового потока попадает в ячейку 5, а часть-в ячейку 6,( интенсивности световых потоков, попавших в этн ячейки, определяется положением измерительной каретки 2 относительно луча света, т. е, нвпрямолинвйнастью измеряемой поверхности.

По известному свойству модулятора Кврра последний меняет свою прозрачность в зависимости от приложенного к электродам ячейки напряжения н интенсивность выхощего иэ модулятора светового потока жет быть определена по формуле:

„Э" Эй л Яа, e g - интенсивность светового потока, ошедшего модулятор, - интенсивность светового потока, оступившего в модулятор, Я. - коэффициент, определяемый контруктивными параметрами, Q - напряжение, приложенное к элекодам ячейки.

Таким образом, вследствие того, .что генераторов 14 и 15 поочередно, подаются высоковольтные импульсы на я .вйки и 6, последние поочередно пропускают етовой поток, т, е. когда одна ячейка опускает свет, то другая закрыта, и наборот. Если световые потоки, поп 1вшие ячейки 5 и 6 одинаковы и амплитуды пульсов равны между собой, световой пок на выхое мозаичного модулятора Керне меняется во времени, и на выходе гоприемника 4, который фиксирует интенность светового потока, отсутствует сигan рассогласования. При различной интенности световых потоков, подающих на йкн„ на выходе фотопрнемннка"присутстет сигнал рассогласования с частотой, 4 ной частоте, которую генерируют генеоры высоковольтных импульсов 14 и 15. эа сигнала рассогласования указывает акой из ячеек интенсивность светового ока больше либо меньше, тем самым актеризует направлен re смешения светоо потока.

Сигнал рассогласова .хя усиливается усиелем 12, преобразуется фазовым детвком 13 в постоянные напряжения, котов подаются на генераторы высоковольтных пульсов 14 и 15 и управляю амплитуми высоковольтных импульсов, Таким обом, когда на одну ячейку попадает больая интенсивность светового потока, подая мв, ьшая амплитуда импульса„что уменьет прозрачность ячейки, то на другую ается большая. амплитуда импульса и соетственно ее прозрачность увеличиваетЭто приводит к уменьшению сигнала ошибки. По разности амплитуд импульсов судят о разности интенсивностей световых потоков и о величине отклонения от прямолинейности измеряемой поверхности.

Формула изобретения

Устройство для автоматического измерения отклонений от прямолинейности поверхности, содержащее последовательно расположенные источник света,. измерительную

Составитель Лобзова !

Редактор М. Васильева Техред М. Ликович Корректор И, Гоксич

Заказ 603/29 Тираж 864 Подписнс з

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

1 3035, Москва, 35, Раушская наб„д.4/5

Филиал ППП Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4 каретку с установленным на ней,оптическим блоком, фотоприемник и электронный блок обработки сигнала с фотоприемника, т— л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности;измер ния, оптический блок выполнен в виде последовательно уста новленных мозаичного модулятора Керра н инзы, а фотоприелник расположен в фокаль

oN плоскости линзы и электрически связан электродами модулятора Керра.

Устройство для автоматического измерения отклонений от прямолинейности поверхности Устройство для автоматического измерения отклонений от прямолинейности поверхности Устройство для автоматического измерения отклонений от прямолинейности поверхности 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к медицинской промышленности, в частности, к способу получения реактива для определения активированного парциального тромбопластинового времени (АПТВ) из отходов производства соевого лецитина

Изобретение относится к технике измерения и может быть использовано для контроля выпуска продукции с регламентированными параметрами шероховатости и волнистости в металлургической, машиностроительной, электронной, оптической, полиграфической промышленности, в самолетостроении, в технологиях нанесения покрытий

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройству для измерения поверхностей и профилей с помощью интерферометрии

Изобретение относится к области оптических измерений, прежде всего шероховатости поверхностей

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к измерительной технике с помощью оптоэлектронных приборов, и может быть использовано при производстве и эксплуатации деталей и устройств, имеющих наружную резьбу

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к измерительной технике с помощью оптоэлектронных приборов, и может быть использовано при производстве и эксплуатации деталей и устройств, имеющих внутреннюю резьбу

Изобретение относится к способу детектирования положения линии сгиба или аналогичной неровности на движущемся упаковочном полотне на подобном материале

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при определении шероховатости сверхгладких поверхностей, например плоских зеркал, полированных подложек и т.п

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для контроля шероховатости поверхности изделия
Наверх