Способ определения неисправных узлов сложных электронных схем

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

Союз Советскик

Социалистических

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (6I) дополнительное к авт. свил-вум486290 (22) Заявлено 061276 (21) 2425900 j18-21

2 (5%) М. Кл, Ст 01 М 31/28 с присоединением заявки №

Гээфдафэтэвээь4% аваэтэт

Вээвта Маяяатуав 006Р ээ далям эаэбрэтвэяй э атаркТяй (23) Приоритет (43) Опубликовано 250378.6толлетень ¹ 11 (53) УДК

621.317.79 (088.8) (45) Дата опубликования описания 100378 () . — Р H.Å. Бобков, В,И. Велильников и В.А. Гудковский изобретения

Pl) Заявитель (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ НЕИСПРАВНЫХ УЗЛОВ

СЛОЖНЫХ ЭЛЕКТРОННЫХ СХЕМ

Изобретете относится к электроизмерительной технике и предназначено для . определения неисправных узлов сложных электронных схем.

Известно устройство для построения теста проверки комбинационных схем,в котором в определенной последовательности подают входные наборы на входы модели с последующим выделением на каждом из таких наборов с помсщью опреде- g лителя каждой ячейки модели тех элементов проверяемой структуры,для которых выполняется хотя бы.одно условие прояв-ления неисправности на выходе элемента для еще непроверенных неисправнОстей Т5

И. .Недостаток известного устройства— сложность реализации, Известный способ определения неисправных узлов сложных электронных схем, состоящих из к узлов, каждый из которых содержит несколько элементов, основанный на использовании набора из t кKо нH тTрpоoл ь нHы х сcи81г нHа л о в, подаваемых на вход испытуемой схемы, фиксации 28 положительных 0 или отрицательных 1 откликов схемы на тестовые сигналы и на составлении матрицы размером к 4 „ элементы которой Тн; получают суммированием числа отрицатель- 30 ных исходов при воздействии на эталонную схему ) -го контрольного сигнала и имитации неисправностей всех элементов < — - го узла при наихудшем значении параметров элементов в остальных узлах схемы 2 .

Недостаток известного способа — использование только наихудшего значения параметров элементов схем при моделировании неисправностей, не учитывая вероятностного распределения параметров схемы, что уменьшает достоверность определения неисправных узлов.

Цель изобретения — увеличение достоверности диаГноза неисправных узлов схемы.

Поставленная цель достигается тем, в способе по авт. св. ТТ 486290 элементы щ матрицы W размером К.т определяют путем суммирования всех

Элементов 1Лв каждой дополнительной матрицы фт,составленной для каждого элемента пи,элементы которой являются значениями вероятностей,Ть -ой неисправности в т -ом узле, влияющей на исход

-го набора контрольных сигналов в

f --ой группе схем (c одинаковыми проявлениями неисправностей узла)1 причем матрицу Чl ьнэдифицируют в QL вычитанием элементов НТ; -ых столбцов из

599235 единицы при положительных исходах -ых

1 наборов контрольных сигналов, а за неисправный при33имают узел схемы, соответствующий строке с Наибольшим значением вероятности, полученной перемножением элементов модифицированной матрицы % по строкам.

Способ осуществляется следующим образом. для каждого 3— - ого узла проверяемой электронной схемы составляют пе- 1 3 речень возможных неисправностей, каждой h -9й неисправности ставят в соответствие вероятность возникнЬвеиия б33 в узле. Поскольку, в общем случае, каждое из.проверяемых" устройств 35 может отличаться по влиян3но неисправностей на исход набора контрольных сигналов, то выделяют 33()групп.; устройств, влияние неиспраЪностей внутри каждой группы которых на исход j.-ого: 29 контрольного набора сигналов одинаково. Относительные размеры каждой груп.пы характеризуют вероятность e являющуюся вероятностью принадлежности про-. веряемой схемы к той или иной группе. щ

Затем имитируют Неисправности в каждом узле схемы,.при этом, фиксируя исход каждого набора- контрольных сигналов3 вычисляют вероятность обнаружения 33- ой неисправности в узле схемы, ЗО принадлежащей 0 - ой группе 3, = 3. „. и„е 1«если И "ая неисправность вызывает отрицательный исход j -ого набора контрольных сигналов в P - ой групгде 33 „o

0 — если h -ая неиспавность вызывает положительный исход j -ai"o набОра КонтролЬНых сиг-Р налов в 3-ой группе.

Вероятность обнаружения неисправности 3,р вычисляют для всех групп схем и составляют дополнительные матрицыМ„3

" 45 3 = 3 3"3 т т " ь"" 3 " 1 Д п.3; ° если Г3 -I., если 3 3 = 0

Формула изобретения

° ° I ° 4 °

Затем вычисляют вероятность обнаружения неисправности в а -ом узле j -ым набором контрольных сигналов

33 33 33 H3 . и составляют матрицу

ti 12 33

3 3Д .33333, 21 И

° НЗЙ

ltfÊ3 H133i ° а HÈÌ3 333к3 где 4 †. количество наборов контрольных 1сигналов;

33 — количество узлов.

Модифицир ют матрицу 9/ по правилу и1; — если j -ый набор кон- трольных сигналов имел отрицательный исход3

<3 1-3п »если j -йй набор контрольных сигналов имел положительный исход.

Из модифицированной матрицы находят

V =П 333, Зс3

За неисправный принимается т -ый узел с

V; - макс

Алгоритм поиска неисправного узла состоит в выполнении следующих операций .

Реализация элементарных проверок, получение набора исходов

1 где 1-если 3 -ая проверка имела отрицательный ис"

3. ход;

О-если 3 -ая проверка имела положительный исход.

Модификация матрицы 9/ по правилу

Перемножение элементов матрицы, получение результатов диагноза

V3 3П М33

Поиск максимального значения V3

МОКС(Ч4) ЧЙ3

За неисправный принимается 3 узел.

Способ определения неисправных узлов сложных электронных схем по авт.св. 33 496290. о т л и ч а ю щ и йс я тем, что, с целью увеличения достоверности диагноза, элементы 333 матрицы размером 33 т. определяют путем суммирования всех элементов 1 каждой дополнительной.. матрицы М, составленной для каждого элемента 3333)р элементы которой являются. значениями вероятностей h -той неисправности в

-ом узле, влияющей на исход 3 -го набора контрольных сигналов в Г -ой группе схем (с одинаковыми проявлениями неисправностей узла), причем матРицу N модифицируют в Ф путем вычитания элементов 3И; J-ых столбцов

65 из единицы при положйтельных исходах

599235

Составитель A. Рассмотров

ТехРед 3. Фанта КоРРектоР Й.Ковалева

Редактор T. Иванова

Заказ 1404/37 Тираж 1112 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб;4 д; 4/5

Филиал ППП Патент, r. Ужгород, ул. Проектная, 4

-ых наборов, контрольных сигналов, а за неисправный принимают узел схемы, соответствункций строке с наибольшим значением вероятности, полученной путем перемножения элементов модифициI рованной матрицы Э по строкам.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе:

1. Авторское свидетельство СССР

9 341039, 2 Q 06 V 15/46, 1969.

6 2. Авторское свидетельство СССР

В 486290, 2 4 01 Я 31/28, 1973.