Устройство для отбраковки полупроводниковых приборов

 

Саюэ Севетскнк

Сецнапнстнчжкна

Реснубпнк

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

r»i 642653 (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 23.04.76 (21) 2351162/18-25 с присоединением заявки № (23} Приоритет—

Опубликовано 1501.79. Бюллетень № 2 (51) М. Кл.

G01 и 31/26

Государственный комитет

СССР но делам изобретений и открытий (53) УДК 621.382 (088.8) Дата опубликования описания 1501.79 (72) Авторы изобретения

В.И,Масленников и В.П.Романов (71) Заявитель (54) УСТРОИСТВО ДЛЯ ОТБРАКОВКИ

ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ

Изобретение относится к электроизмерительной технике, в частности к устройствам для определения отпирающих тока и напряжения управления тиристоров и симисторов в производ- о ственных условиях.

Известно устройство для отбраковки полупроводниковых приборов по параметрам цепи управления, содержащее генератор испытующих импульсов, счет-10 чик, преобразователь испытующих импульсов, счетчик, преобразователь код-напряжение, усилитель, диод, конденсатор (1).

Известно также устройство для отбраковки полупроводниковых приборов по параметрам цепи управления, содержащее источник анодного питания, источник постоянного напряжения управ ления, испытуемый прибор, амперметр, измеряющий величину анодного тока, амперметр, измеряющий ток управления, и вольтметр, измеряющий напряжение на управляющем электроде испытуемого прибора (21.

Недостатками известных устройств является применение источника постоянного напряжения управления с .ручной регулировкой, что ограничивает производительность при контрольных испытаниях в условиях серийного производства управляемых полупроводниковых приборов. Влияние анодного тока на цепь управления в момент включения испытуемого прибора, а также применение для измерения тока и напряжения управления стрелочных приборов не обеспечивает достаточной точности измеряемых параметров.

Известно, что при контрольных испытаниях управляемых полупроводниковых приборов отбраковка производится по граничным значениям тока и напряжения управления, что позволяет исключить измерения абсолютных величин тока и напряжения управления.

Целью изобретения является повышение производительности процесса отбраковки.

Это достигается тем, что предлагаемое устройство содержит два спусковых устройства, два сигнальных устройства, резисторы, два нуль-органа, генератор пилообразного сигнала, причем резисторы включены последовательно: один в анодную цепь, другой — в цепь управления испытуемого прибора, нуль-органы присоедннены параллельно: один-к управляющему электроду испытуемого прибора, другой — к резистору, вклю6426

Формула изобретения

ЦНИИПИ Заказ 7751/43 Тираж 69/

Подписное

Филиал ППП Патент, r.Óæãîðoä, ул.Проектная,4

3 ченному в цепь управления, спусковые устройства соединены между собой, каждое из них соединено с сигнальным устройством, и одно из спусковых устройств соединено с источником анодного напряжения и генератором пилообразного сигнала, а другое с обоими нуль-органами, 5

На чертеже представлена схема описываемого устройства.

На схеме показаны генератор 1 одиночного пилообразного импульса, нульорган 2 и нуль-орган 3, представляю- 10 щие собой диодно-регенеративные пороговые устройства с дискретно регулируемым порогом срабатывания, порог срабатывания которых устанавливается на уровне граничных значений отпирающих тока и напряжения управления, спусковые устройства 4 и 5, сигнальное устройство 6 брак, сигнальное устройство 7 годен, резисторы 8 и 9, источник 10 анодного напряжения и испытуемый прибор 11.

Устройство работает следующим образом.

В момент включения генератора 1 в цепи управления испытуемого прибора 11 начинает увеличиваться ток.

Прн достижении током управления значения,отпирающего тока, не превышающЕго граничной величины, испытуемый прибор 11, включенный в цепь источника 10 анодного напряжения, открывается. Сигнал с резистора 8 посту пает на вход спускового устройства 4, с выхода которого сигнал поступает на вход сигнального устройства 7 годен . Одновременно с другого выхода спускового устройства 4 сигнал поступает на вход генератора 1, ток в цепи управления испытуемого прибора 11 прекращается.

В случае, если ток управления или 40 напряжение управления достигает величины граничного значения, то, соответственно,,срабатывает нуль-орган

2 или нуль-орган 3., с выхода которого сигнал поступает на спусковое устройство 5. С одного выхода спус53

4 кового устройства 5 сигнал поступает на сигнальное устройство 6 брак, а с другого — на вход генератора 1, ток в цепи управления испытуемого прибора 11 прекращается.

Устройство позволяет автоматизировать и за счет этого повысить производительность процесса отбраковки управляемых полупроводниковых приборов по граничным значениям отпирающих тока и напряжения управления прн контрольных испытаниях управляемых полупроводниковых приборов в условиях серийного производства.

Устройство для отбраковки полупроводниковых приборов по параметрам цепи управления, содержащее источник анодного питания, о т л и ч а ю щ е еся тем, что, с целью повышения производительности отбраковки, оно cgдержит два спусковых устройства, два сигнальных устройства, резисторы, два нуль-органа, генератор пилообразного сигнала, причем резисторы включены последовательно: один — в анодную цепь, другой — в цепь управления испытуемого прибора, нуль-органы присоединены параллельно: один — к управляющему электроду испытуемого прибора, другой . — к резистору, включенному в цепь управления, спусковые устройства соединены между собой, каждое из них соединено с сигнальным устройством, и одно.иэ спусковых устройств соединено с источником анодного напряжения и генератором пилообразного сигнала, а другое с обоими нуль-органами.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Авторское свидетельство СССР

9 275233, кл, (301 к 31/26,13.10,1970, 2. Вардин. В.М, и др, Аппаратура и методы контроля параметров силовых полупроводниковых вентилей, М.Э.

1971, с.66.

Устройство для отбраковки полупроводниковых приборов Устройство для отбраковки полупроводниковых приборов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может найти применение в электронной технике для измерения напряжений на диэлектрике и полупроводнике, а также их временного изменения в МДПДМ-структурах

Изобретение относится к технике контроля параметров полупроводников и предназначено для локального контроля параметров глубоких центров (уровней)

Изобретение относится к электронике и при использовании позволяет повысить точность контроля заданной величины отрицательного дифференциального сопротивления за счет изменения соотношения глубины положительных и отрицательных обратных связей в элементе с регулируемыми напряжениями и токами включения и выключения

Изобретение относится к области электротехники и может быть использовано при конструировании и производстве тиристоров

Изобретение относится к радиационной испытательной технике и может быть использовано при проведении испытаний полупроводниковых приборов (ППП) и интегральных схем (ИС) на стойкость к воздействию импульсного ионизирующего излучения (ИИИ)

Изобретение относится к области измерения и контроля электрофизических параметров и может быть использовано для оценки качества технологического процесса при производстве твердотельных микросхем и приборов на основе МДП-структур

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения электрофизических параметров материалов, и может быть использовано для контроля качества полупроводниковых материалов, в частности полупроводниковых пластин

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для контроля полярности выводов светодиодов

Изобретение относится к области теплового неразрушающего контроля силовой электротехники, в частности тиристоров тиристорных преобразователей, и предназначено для своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода изделия в целом в специальный контрольный режим
Наверх