Способ формирования изображения объекта в растровом электронном микроскопе

 

— — . * ЮФВ Ы

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Свез Советския

Социапистическик

Республик ))) 661648 (61) Дополнительное к авт. санд=ау (22) Заявлено 200677(2) ) 2497587/18-25 (51)M. Кл.2

Н 01 7 37/28 с присоединением заявки Nо

Государственный комитет

СССР но делам изобретений и открытий (23) Приоритет

Опубликовано 050579. Б)оллетень М 17

Дата опубликования описания 050579 (53) УДК 537.533.35 (088.8) (723 Авторы изобретения

В.П. Голубев и В.Д. Трифонов (71) Заявитель (54) СПОСОБ ФОРМИРОВАНИЯ ИЗОБРАЖЕНИЯ ООЬЕКТА

В РАСТРОВОМ ЭЛЕКТРОННОМ МИКРОСКОПЕ

Изобретение относится к области электроннооптического приборостроения, в частности, к способам форми- " рования иэображения исследуемого объекта. 5

Известны способы формирования изображения в растровом электронном микроскопе (РЭМ), заключающиеся в модуляции интенсивности электронного зонда с последующим синхронным детек-1О тированием сигнала с объекта и передачей его на вйдеоконтрольное устройство (ВКУ) (1) . В приведенном способе качество изображения получается не достаточно высоким из- за 15 влияния нестабильности питающего напряжения и флуктуации тока электронной пушки, приводящих к снижению отношения сигнал/ шум и как следствие к сниженйю разрешающей спо- 20 собности и качества изображения.

Другим недостатком является то, что фокусировка изображения на экране

ВКУ осуществляется оператором визуально, что вносит субъективизацию в оценку качества фокусировки изображения.

Известен способ формирования изображения объекта в растровом электронном микроскопе 2, заключающий- 30 ся и сканировании исследуемого участка объекта периодически расфокусируемым электронным зондом, регистрации сигнала с объекта от расфокусированного и сфокусированного зойда, суммирования этих сигналов в противофазе и подаче суммарного сигнала на

ВКУ микроскопа для получения иэображения. Способ позволяет уменьшить влияние нестабильности тока электронной пушки на качество иэображения, но имеет существенный недостаток при этом в 2 раза ухудшается отношение сигнал/ шум, что снижает качество изображения ° Кроме того, оценкакачества фокусировки изображения в данном случае также осуществляется визуально цель настоящего изобретения является повышение качества изображения при его автоматической фокусировке.

Указанная цель достигается тем, что расфокусировку зонда осуществляют переменным сигналом с периодом, меньшим времени развертки одного элемента изображения, после регистрации сигнала с объекта выделяют иэ него составляющую, модулированную удвоенной по отношению к сигналу расфокусировки частотой, разделяют

66 16

3 полученный сигнал на участки, на границах которых происходит скачкообразное изменение фазы, формируют из выделенных участков новый сигнал путем фиксации участков синфазных и противофазных по отношению к сигналу расфокусировки по разные стороны 5 одного и того же уровня, после фильтрации суммируют этот сигнал с сигналом,полученным после подавления в исходном сигнале с объекта модулированной составляющей и результирующий 10 сигнал подают на видеоконтрольное устройство микроскопа для получения

Иэображения.

Качество изображения исследуемого участка объекта повышается вследствие 15 улучшения отношения сигнал/ шум за счет выделения из общего сигнала с объекта высокочастотной части этого сигнала, несущей основную информацию о мелкой структуре объекта. Кроме того, при осуществлении способа дос20 тигается полная апертурная коррекция, что также улучшает качество изображения за счет уменьщения искажений изображения, связанных с конечными размерами электронного зонда. При этом фокусировка изображения исследуемого участка объекта осуществляется автоматически, т.к. при модуляции фокусировки электронный зонд дважды в течение одного периода модуляции воздействует на объект в условиях его {зонда) наилучшей фокусировки, а сигнал с объекта обрабатывается таким образом, что на видеоконтрольное устройство постоянно 35 поступает сигнал, соответствующий наилучшей Фокусировке зонда.

Йа фиг.1 представлена блок-схема устройства для осуществления сйособа) где 1- электронная пушка; 2 — фокусирующая система; 3 — исследуемый объект; 4 .- отклоняющая системами

5 — синхрогенератор; 6, - делитель частоты, 7 - усилитель тока модуляции фокусировки, 8 - модулятор фокусировки, 9 --детектор вторичного излучения, 10 - резонансный усилйтель,:

11 — фильтр, 12, 13 — фазовые детекторы,l4, 15 - фиксирующие устройства, 16 - сумматор, 17, — фильтр, 50

18 - сумматор, 19 — видеоконтрольное . устройство.

На Фиг.2 показаны эпюры, иллюстрирующие отдельные этапы формирования и обработки сигнала с объекта, где: 55 а - эпюры сигнала модулирующего Фокусировкуу б — эпюра сигнала, зарегистрированного с.объекта при воздействии на него периодически расФокусируемым электронным зондом; в — эпюра сигнала, представленного на эпюре б после подавления в нем модулированной составляющей; г-эпюра сигнала, представленного на эпюре б после выделения составляющей, модулированной удвоенной по 65

48 отношению к сигналу расфокусировки частотой; д- зпюра сигнала, полученного после фиксации различных участков фазомодулированного сигнала, представленного на эпюре r no разные стороны одного и того же уровня, штрих-пунктирной линией ïîказан тот же сигнал после фильтрации; е †. эпюра сигнала, полученного при суммировании сигнала, представленного на эпюре в с сигналом, представленным на эпюре д штрих-пунктирной линией.

Ва фиг.З показан фронт импульсного сигнала ат какого-либо элемента поверхности объекта при сканировании

его периодически расфокусируемым электронным зондом, гдето S — результирующий сигнал с объекта при воздействии,на него периодически расфокусируемым электронным зондом; Р сигнал с объекта при воздействии на него сфокусированным зондом; R сигнал с объекта при воздействии на него расфокусированного зонда.

Электронная пушка 1 имитирует пучок электронов, который формируется системой 2 в электронный зонд малого диаметра и фокусируется на поверхность объекта 3. Сканирование зонда на поверхности объекта осуществляется с помощью отклоняющей системы 4. Переменный сигнал с выхода синхрогенератора 5 поступает на вход делителя частоты 6, вдвое уменьшающего частоту этого сигнала, который после усиления усилителем тока 7 поступает на вход модулятора фокусировки 8. Модулятор фокусировки формирует в колонне переменное поле, которое накладывается,на постоянное фокусирующее поле, формируемое системой 2, вызывает периодическую расфокусировку зонда. При модуляции фокусировки диаметр зонда в плоскости объекта будет изменяться в пределах

+Э до -Р, проходя через свое минимальное значение. При периоде расФокусировки зонда, значительно меньшем времени развертки одного элемента изображения, результирующий сигнал с объекта представляет собой сумму немодулированного среднего между сигналами, соответствующими воздействию на объект, сфокусированного зонда, расфокусированного зонда и модулированного сигнала (фиг.3), фаза которого опрокидывается при смене знака разности между сигналами, соответствующими воздействию на объект сфокусированного и расфокусированного зонда. Сигнал с объекта 3, вызванный воздействием на него периодически расфокусируемого электронного зонда, регистрируется детектором 9 и подается одновременно на входы резонанс- ного усилителя 10 и фильтра 11. После фильтрации сигнала с объекта фильт«

661

Г-Р . 2

ФоРмула изобретения ром 11 сигнал будет представлять собой (эпюра в фиг.2)

Г- R

&1=. Г

2 где 8 — сигнал на выходе фильтра 11;, - сигнал с объекта при воздействии на него сфокусированным зондом;

R — сигнал с объекта при воздействии на него расфокусированным зондом ю

Резонансный усилитель 10 выделяет из поступающего на него вход сигнала с объекта модулированную соСтавляющую частота которой вдвое больше частоты переменного поля, формируемого устройством 8, поскольку электронный зонд за период воздействия этого поля дважды пройдет через плоскость наилучшей фокусировки (совпадающей с абциссой эпюры а фиг.2) .

Другой особенностью этого сигнала является то, что фаза модулирующего колебания опрокидывается при переходе от отрицательной части модулированной разности (см. фиг.3, разность P-× является знакопеременной) к положительной, т.е. сигнал является фазо- манипулированным (эпюра r фиг.2, где знаки + и— .обозначают положительные и отрицательные участки укаэанной разности) . 30

С выхода резонансного усилителя

10 сигнал одновременно поступает на входы двух фазовых детекторов 12, 13, на другие входы которых одновременно поступают противофазные 35 опорные сигналы от синхрогенератора

5. Каждый из фазовых детекторов выделяет из поступающего сигнала соответственно синфазные или противофазные по отношению к сигналу рас- 40 фокусировки участки. Фиксирующие устройства 14, 15 располагают выделенные участки по разные стороны одного и того же уровня и затем сумматор 16 формирует из сигналов с выхода каждого из детекторов новый сиг- нал, представляющий собой модулированную разность Р— Р (эпюра дфиг.2) . Фильтр 17 выделяет из этого сигнала немодулированную разность

F --З (штрих-пунктирная линия д ( фиг.2).

Полученный сигнал поступает на вход сумматора 18, на другой вход которого поступает сигнал Gl с фильтра ll полученный после подавления 55 в исходном сигнале с объекта модулированной составляющей. В результате

648 6 суммирования формируется новый сигнал т.е. сигнал с объекта при воздействии на него сфокусированного зонда сло" женный со своей второй производной, что соответствует проведению в сигнале одновременно полной апертур-. ной коррекции. Полученный сигнал Б подается на вход видеоконтрольного устройства 19 для получения иэображения на его экране.

Способ формирования изображения объекта в растровом электронном микроскопе, заключающийся в сканировании исследуемого участка объекта периодически расфокусируемым электронным зондом, регистрации сигнала с объекта и подаче результирующего .сигнала на видеоконтрольное устройство микроскопа, отличающийся тем, что, с целью повышения качества изображения при обеспечении его автоматической фокусировки, расфокусировку зонда осуществляют переменныь сигналом с периодом, меньшим времени развертки одного элемента изображения, после регистрации сигнала с объекта выделяют из него составляющую модулированную удвоенной по отношению. к сигналу расфокусировки частотой, разделяют полученный сигнал на участки,, на границах которых происходит скачкообразное изменение фазы, формируют из выпеленных участков новый сигнал путем фиксации участков синфазных и противофазных по отношению к сигналу расфокусировки по разные стороны одного и того же уровня, и суммирования соответствующих им сигналов, после фильтрации суммируют этот сигнал с сигналом, полученным после подавления в исходном сигнале с объекта модулированной составляющей и результирующий сигнал подают на видеоконтрольное устройство для получения изображейия.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1. Патент CQJa Р 353516, кл. 250-49.5, 20.10.70.

2. Патент Великобритании, кл. Н 4 Г, 1435143, 12,05.76.

Способ формирования изображения объекта в растровом электронном микроскопе Способ формирования изображения объекта в растровом электронном микроскопе Способ формирования изображения объекта в растровом электронном микроскопе Способ формирования изображения объекта в растровом электронном микроскопе 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к электронным вакуумным приборам, в частности к эмиссионным микроскопам и видеоусилителям, и раскрывает способ визуализации и увеличения изображений исследуемых объектов

Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию, а более конкретно к устройствам, обеспечивающим наблюдение, измерение и модификацию поверхности объектов в туннельном и атомно-силовом режимах

Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию, а именно к устройствам, обеспечивающим наблюдение, измерение и модификацию поверхности объектов в туннельном и атомно-силовом режимах

Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию, к устройствам, обеспечивающим наблюдение, измерение и модификацию поверхности в многоигольчатом комплексном режиме работы

Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию, к устройствам, обеспечивающим наблюдение, измерение и модификацию поверхности объектов в туннельном и атомно-силовом режимах в условиях сверхвысокого вакуума и в широком диапазоне температур

Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию, а именно к устройствам, обеспечивающим наблюдение, изменение и модификацию поверхности объектов в туннельном и атомно-силовом режимах

Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию, к устройствам, обеспечивающим наблюдение, измерение и модификацию поверхности объектов в режиме сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) или атомно-силового микроскопа (АСМ)
Наверх