Устройство для измерения зависимости емкости конденсатора со структурой металл-диэлектрик-полупроводник от велечины поверхностного электростатического потенциала
Авторы патента:
Похожие патенты:
Зондовая головка // 669430
Устройство для испытания транзисторов // 693271
Изобретение относится к полупроводниковой технике к области твердотельных преобразователей изображения
Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может найти применение в электронной технике для измерения напряжений на диэлектрике и полупроводнике, а также их временного изменения в МДПДМ-структурах
