Устройство для измерения координат термостабильной точки полевых транзисторов

 

rii> 714317

Союз Советскмх

Социалистических

Республик

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИ ИТВЛЬСТВУ

Я ф(1

- " ч- -- (51) М. Кл.

*,!,У

C ф (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено: 210977 (21) 2525795/18-25 с присоединением заявки HP— (23) Приоритет—

Опубликовано 0502.80. Бюллетень )49 5

G 01 R 31/26

Государственный комитет

СССР ио делам изобретений и открытий, (533 УФЖ 621.382.3 (088. 8) Дата опубликования описания 08.0280.

/ (72) Автор

" изобретения

В.л. Свирид

Минский радиотевснический институт (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ КООРДИНАТ

ТЕРМОСТАБИЛЬНОЙ ТОЧКИ

ИОЛЕВЫХ ТРАНЗИСТОРОВ

Изобретение относится К иэмврительной технике, предназначено для измерения координат термостабилЬной точки характеристик управления Поле» вых транзисторов с повьхаениой точностью и быстродействием и может быть использовано при технологичес-.. ком контроле тепловых и других пара метров полевых транзисторов различ ных типов, Известны устройстза для опредеЛе ния координат термостабйлъиой тоЧКй полевых транзисторов, ск=иованные йа исследовании точки пересечения харак теристик управления, снятых при двух значениях температуры окружающей среды.

Одно иэ таких устройств, поэво- лякщее измерять параметры и характе» ристики управления полевых транзис торов, содержит регистрирующий при- бор, преобраэоватепь параметр-напря; жение, генератор импульсов, два сии хронных детектора, два аттенюатора, сравнивающее н вычитающее устройства, пропорциональный модулятор и блок напряжений смещения (1) .

Это устройство при определении координат термостабильной точки не

2 обеспечивает соответствующей точиос- ти,измерений вследствие субъективного характера отсчета с графического иэображения точки пересечЕния харак теристик управления, полученных при двух значениях температур окружающеЮ среды.. Так как местоположение термо стабильной точки зависит от типа характеристик уйравления (сток-затворная или характеристики крутизны или проводимости канала), необходимо каФдую из них снимать в отдельности, при этом иэ-за отсутствия автоматиэа ции резко снижается производитель- ность измерений °

Известно также устройство для из мерения координат термостабильной точки полевых транзисторов, содержащее.двухкамерный термостат с системой транспортировки исследуемого прибора из одной камеры в другую, преобразователь параметр-напряжение, соединенный с исследуемьм прибором, генератор импульсов, шесть синхронных детекторов, два сравнивающих и три вычитающих устройств, два аттенЮатора, пропорциональный модулятор, источник напряжений смещения и гене1 ратор-формирователь запускающих им 7143 17 пульсов, соединенный с логическим элементом ИЛИ, а также делительное устройство и регистрирующий прибор, йодключенный к выходу логического элемента ИЛИ, при этом генератор импульсов подключен к первому и второ.

I му синхронным детекторам и пропорциональному модулятору, выход преобразователя параметр-напряжение соединен со входами первого и второго синхрбнных детекторов, выход первого

:детек тора подключ ен непосредстн енно к одному из входов, а выход второго детектора" через первый аттенюатор— ко второму входу первого сравниваю щего устройства, выход которого соединен с пропорциональным модулятором„, 5 подключенным к клемме затвора поле вого транзистора, перными входами третьего и четвертого синхронных детекторов и первым .вычитающим устройством, выход которого соединен с пер) 20 ными входами пятого и шестого синхронных детекторов, а второй вход †чер второй аттенюатор подключен к клейме истока полевого транзистора, которая соединена с выходом второго . 25 сравнивающего устройства, соответствующие входы которого подключены к йыходам второго синхронного детектора и блока напряжений смещения, вто-

"рые йхбды третьего и пятого синхрон- ЭО ных детекторон подключены к выходу генератора — ф ормирон ателя импульсов, а четвертого и шестого — к выходу лсигического элемента ИЛИ, выходы пятогр и шестого синхронных детекторов сое- динены с состветствующими входами второго вычитающего устройства (2).

Данное устройство также не обеспе чинает высокой точности и"йроизноди/: тельности измерений, вследствие от-. меченных выше причин. 40

Цель предлагаемого изобретен ия повышение точности и автоматизации измерений.

Поставленная цель достигается тем1, что в устройство введены третий и четвертый аттенюаторы, третье сравни вающее устройство, RS-триггер, функциональный преобразователь и масштабный усйлитель, причем выход третьего синхронного детектора соедйнен не- 5() посредственно с одним из входов, а выход четвертого детектора черЕз третий аттенюатор — со вторым входом третьего сравнивающего устройства, соединенного с R-axozcm RS-триггера, S-вход которого подключен к выходу генератора — формирователя импульсов;. а выход — ко второму входу логическа го элемента ИЛИ и системе транспортировки исследуемого элемента, выход пятого синхронного детектора соеди- 50 нен непосредственно с одним из входов, а выход шестого детектора через четвертый аттенюатор — со вторым входом третьего вычитающего устройстна, подключенного к регистрирующему при- 5 бору, выход третьего синхронного детектора соединен непосредственно с одним из входов, а выход второго нычитающего устройства через функциональный преобразователь — со вторым входом делительного устройства, выход которого через масштабный усилит ель, сопряженный с преобразователем параметр-напряжение, подключен к регистрирующему прибору, который соединен с функциональным преобразователем,-третьим вычитающим устройством и четвертым аттенюаторсм.

Известно, что:

"эиОЮ "зим

",.Тг . ув, 1 Я р эи 7р 1 )()зи

ЭИ Зи

М

11зиотс "зиота (г) !

\( зи

3s зио (UU ) "эи

1. (знаке "

"«--<«-» > о,.,, 1 < >

Й 9(l3„,1 (4-k) 1 1 „ гдеОзи -напряжение затвор-исток полевого транзистора соответствующее термостабильной точке исследуемой характеристикиз — степень аппроксимирующего полинома характеристик управления полевого транзистора - 1 — для характеристик крутизны S=f(Ци)в усилительном режиме и проводимости канала

G=f(Uqu) в режиме упранляемого сопротивления и а — 2 — для сток-затворных характеристик; (азиата (4ас и ац,„(()зи ) нU (() ) — напРЯЗБ а8 жения отсечки и Ироизвбдйые крутизны по напряжению затвор-исток 0зи в одной из точек характеристики крутизны йри двух значениях температуры ок- ружающей среды, соответственно, и .t

P(UQ — ордината термостабильной точки в соответствующих единицах . измерения исследуемых характеристик полевого -транзистора.

Переходя к конечнык приращениям и выполняя в процессе измерений услов ие

ЬЯ =аЯ, (3) выражения (1) и (2) представляем в .общем виде:

714317 где

b U(„ (6)

Прн изменение температуры окружающей среды в относительно не широких пределах этот коэффициент (6) может врыть принят равным 1,25;

S (Uq„) — одна из отсчетных точек характеристики крутизны при определении производной, соответствуищая, например, пределу измерения. крутиз-ны;

"(= — — коэффициент связи межS(U )

hS транзистора. Второй аттенюа:ор 9, соединенный с клеммой истока полево» го транзистора 1 и имеющий коэффициент затухания, равный двум, и первое вычитающее устройство 10 обеспе-. чивают непосредственный отсчет напряжения отсечки. Источник 11 напряжений смещения и второе сравнивающее устройство"12, соединенное с клеммой эатвора транзистора 1, образуют сис" тему стабилизации крутизны в одной иэ точек исследуемой характеристики йезависимо от влияния температуры окружающей ореды, которая позволяет автоматически выполнить условие (3) .

Двухкамерный термостат 13 с системой транспортировки 14 исследуемого элемента нэ одной камеры s другую, третий и- четвертый синхронные детекторы 1 5 н 16, третий аттенюатор 17, третье сравнивакв(ее устройство 18 и

RS-триггер 19, входящие в состав системы модуляции по температуре параметров полевога транзистора, позволяют при измерениях автоматически устанавливать. заданное соотношение производных (6), например К - 1,25.

Пятый и шестбй синхронные детекторы

20 и 21, второе вычитающее устройст во 22, функциональный преобразователь 23, делительное устройство 24 и масштабный Усилитель 25 представляют собой канал измерения ордина „ а четвертый аттенюатор 26 и третье вычитакщее устройство 27 — канал из мерения напряжений затвор-исток, соответствующих термостабильной точке исследуемых характеристик полевого транзистора 1, которые в соответствии с уравнениями (4) и (5) произво дят обработку поступающей информации об измеряемых величинах с поСледующей передачей для индикации на регйстрирующий прибор 28. ду крУТизной и приращением крутизны (при измерениях может быть принят, равным двум) °

Таким образсм, для измеряемых координат, соответственно, характеристик крутизны, проводимости канала и сток-затворной можно записать:

5Р- — () ), (.7)

Ов(щ q зиняс 8 зиотс

9(0 0 ) (8) зим а зиотс 9 зи(лс

s(u,„

В(О,,1= (и,„, ()=2 „ " Ьзизте "зиад

36 г аози

Для синхронного йзменения козффи" цнента передачи четвертого аттенюатора 26 и третьего вычитающего устройства 27 в соответствии с выражениями (7) и (8), а также режима рабо" ты функционального преобразователя

23, представляющего в одном случае линейный повторитель, а во втором— квадратор напряжений, и размерности индицируемых величин регистрирующего прибора 28 в соответствии с уравнениями (9) и (10), управляющие органы укаэанных структурных блоков сопря- жены. для автоматической коррекции показаний регистрирующего прибора 28, связанных с пределом измерения крутизны (множитель S(П „ ) в фоРмУлах (9) и (10}, управляющие органы преобразователя 2 параметр-напряжение и масштабного усилителя 25, о уществ ляющие изменение их коэффициентов пе редачи, также сопряжены между собой.

Управление всеми системами устройства производится с помощью генерато-

Предлагаемое устройство в автоматическом режиме производит измерение напряжения отсечки и приращения напр яжени я, пропорцион альн ого производной при двух значениях температуры, 4Q при которых автоматически выполняются условия (3) и (6) и, в соответствии с (4) и (5), определяет исксмь1е координаты, обеспечивая выигрыш в точности и быстродействии измерений. 45

На фиг. 1 представлена (",труктур" ная схема предлагаемого устройства для измерения координат термостабильной точки полевых транзисторов; йа фиг. 2 — характеристики крутизны при двух значениях температуры окружаю-. щей среды, поясняющие принцип измерений; на фиг. 3 — диаграммы, поясняющие принцип работы устройства.

Устройство (фиг. 1) содержит ряд функциональных систем. Исследуемый транзистор 1, преобразователь 2 параметр-напряжение, первый и второй синхронные детекторы 3 и 4 и пропорциональный модулятор 5, управляемые генератором 6 импульсов, а также пер- 60 вый аттенюатор 7 с коэффициентсм затухания, равный двум, и первое сравнивающее устройство 8 образуют систему измерения производной крутизны по напряжению затвор-исток полевого 65

714317 ра-формирователя 29 запускающих импульсов и логического элемента

ИЛИ 30.

При подключении к измерительным клеммам устройства полевого транзистора l, егО рабочая точка оказывается смещенной в. область максимума крутизны исследуемой характеристики под влиянием большого рйзностного сигна "ла»", "вознйкающего в сравнивающем устройстве 12 за счет опорного напряжения источника 11 и отсутствующего в данйый момент напряжения синхронного детектора 4, что способствует образованию напряжений на выходах преоб« разователя 2 параметр-напряжение и синхронных детекторов 3 и 4 в результате непрерывной работы генератора 6.

Выходкой напряжение детектора 4, преодолевая в сравнивающем устройстве

12 опорное напряжение источника ll; переводит рабочую точку полевого трайзйстора 1 на участок характеристики, определяемый начальными условиями, с последующей афтаб»илиэицз изей в установившемся режиме крутизны S (UzÄ ) (фиг. 2) с заданной точностью, независимо от влияния различных факторов, за счет изменения напряжения смещения Ugy, Одновременно с этим выходное напряжение детектора 4, ослаблен ное аттенюатором 7 в соответствующее †чис раэ, сравнивается с полным напряжением детектора 3 в устройстве 8.

Результат сравнения, усиленный в этом же устройстве, а затем преобразованный в пропорциональном модуляторе 5 в импульсное напряжение прямоугольной формы ЬПщ, воздействуя на затвор, вызйвает модуляцию крутизны полевого транзистора, при этом на выходе преобразователя 2 образуется

"напряжение, пропорциональное глубине модуляции крутизны ЬS (фиг. 2). В дальнейшем это напряжение с помощью

:синхронных детекторов 3 и 4 разде .ляется по"временнсму принципу с последующим иакоплением информации в

"виде напряжений, соответствующих максимальному S(()щ ) и минимальнсму значенизм ирутнзнм транзиои(и»» ) тора в пределах модулируиието воздействия. Таким образом, при выборе необходимых начальных условий работй детекторов 3, 4 и модулятора 5, син* хрониэм которых обеспечивается гене+ ратором 6 импульсов, данйая система авторегулировки приходит в равновес йое" сж тояние, непрерЬ1в»н»о поддерживая постоянной, с заданной степенью точности, и в соответствии с уровнем затухания аттенюатора 7, глубину мо дуляции крутизны транзистора 1, независимо от действия различных факторов, эа счет изменения входного воздействия 40щ несущего информацию о производной крутизны исследуемой характеристики. Напряжение смещения

U определенной полярности, поступающее с выхода сравнивающего устройства 12 и ослабленное в два раза аттенюатором 9, вычитается в устройстве 10 с выходным напряжением сравнивающего устройства 8, а затем усиливается в два раза, образуя напряжение отсечки U исследуемого транзистора (фиг . 2), которое поступает для дальнейшей обработки на синхронные детекторы 20 и 21. Одновременно с ним выходное напряжение сравнивающего устройства 8, соответ.— ствующее производной крутизны 6U>„, воздействует на информационные вхо(IS ды синхронных детекторов 15 и,lб. К рассматриваемому моменту времени полевой транзистор 1, находясь в одной

Йэ камер термостата 13, определяемой состоянием RS-триггера 19 при началь2О ных условиях, приобрел температуру кристалла t (фиг. За), и под влиянием управляющего импульса {фиг/ Зб) ген»ератора-.формирователя 29, воздействующего на управляющие входы синхронных детекторов 15 и 20 непосредственно, а 16 и 21 — через логический элемент ИЛИ 30, в детекторах 15 и 16 накопилась информация о производной проводимости h,U>«а в детекторах 2 0 и 2 2 — о на пр яж енин отс ечк и

ЗО

Пзиота, соответствующих характеристике крутизны полевого транзистора при температуре t (фиг. 2) . При этом полное выходное напряжение детектора 15 и ослабленное и K раэ (6), напряжение детектора 16 полностью определяют начальное состояние сравнивающего устройства 28. По окончанию управляющего импульса (фиг. Зб), длительность которого за4Q висит от: времени установления переходных процессов в рассмотренных системах авторегулировок, синхронные детекторы 15 и 20 переходят в режим хранения информации, а ВЯ-триггер 19, 45 получая по Б-входу перепад напряжения — в единичное состояние и формирует импульс (фиг. Зв), который, воэдействуя на систему транспортировки

14 и логический элемент ИЛИ 30, negg ремещает исследуемый транзистор 1 в, другую камеру термостата 13 с температурой t и продолжает сохранять прежний режим работы синхронных детекторов 16 и 21 (управляющие импульсы на фиг. Зг) . По,мере прогрева транэистора 1 (фиг. 3a) изменяется йаклЬн исследуемой характеристики (фиг. 2), при этом системы стабилизации крутизны S(Uz„ ) и глубины моду1 ляции крутизны ьЯ, стремясь воспре о пятствовать изменению этих параметров, вызывают изменения напряжения смещения и модулирующего воздействия ьО „, что приводит к непрерывному на накоплению информаций о производной

71431 7

10 крутиэны и напряжении отсечки раздела>но в синхронных детекторах 16 и 21.

Изменяющееся напряжение детектора 21 обрабатывается в соответствии с выражением (4) в канале измерения напряжений затвор-исток, соответствующих тесмостабильной точке исследуемых характеристик, т,е. ослабляется в заданное число раз в аттенюаторе 26 и вычитается в устройстве 27 с хранимым напряжением детектора 20 с последующим необходимым усилием. Одновременно с этим в канале измерения ординат в соответствии с формулой (5) выходные напряжения детекторов 20 и 21 вычитаются в устройстве 22, а полученная разность после обработки в функциональном преобразователе 24 подв ерга етс я делению на напряжение детектора 15 в устройстве 24 и преобразованию в масштабнси усилителе

25; Спустя некоторое время изменяю- Я щееся напряжение детектора 16 достигает такой величины, при которой на выходе аттенюатора 17 образуется напряжение s точности соответствующее значению напряжения, хранимому в де- р текторе 15 (соотношение напряжений

1,25, показанное на фиг. За) . При данных условиях срав нивающее устрой-. . ство 18 формирует на своем выходе перепад напряжения и воздействует им на R-вход RS-триггера 19„ который, возвращаясь в исходное состояние, заканчивает формирование управляющего импульса (фиг. Зв), переводя пОсредством логического элемента ИЛИ 30 синхронные детекторы 16 и 21 в режим хранения накопленной ийформации о производной Ы1 д„и напряжении отсечt ки Бзщ, соответствующим температуре t (фиг. 2), и,, воздействуя на систему 14 транспортировки, возвра- 4О щает ее в исходное состояние, при этом изымается старый и подключается к измерительным клеммам устройства новый транзистор, находящийся в первой камере термостата и успевший за- 45 благовременно прогреться до темпера-. туры, и измерительное устройство подготавливается к новому циклу измерений. Отрицательный перепад напряжения, образовавшийся на выходе ло - 5О гического элемента ИЛИ 30, разрешает регистрирующему прибору 28 индикацию выходных напряжений вычитающего устройства 27 и масштабного усилителя

25, которое к данному моменту време ни оказываются точно соответствующими координатами измеряемым характеристик. Для получения отсчета координат других характеристик изменяют одновременно коэффициенты передачи аттенюатора 26 и устройства 27 в соответствии с выражениями (7) или(8), а также режим работы функционального преобразователя 23 и размерность инцицируемых величин регистрирующего прибора 28 в соответствии с формулами 65 (9) или (10) (эта операция может выполняться автоматически), при этом не требуется заново производить цикл измерений параметров одного и того же транзистора. Выбор предела измерения крутизны S (О и ) при исследовании одного и того же транзистора, на показаниях регистрирующего прибора

28 не должен оказаться так как при изменении коэффициента передачи преобразователя автоматически подстраивается величина аU входящая в выражения (9) и (10), и одновременно корректируется коэффициент передачи масштабного усилителя так, что соотнесение остается Ностояннни. ((13и )

4 1)ьи

Спустя нек оторое предель но к оротк ое, но достаточное для установления показаний регистрирующего прибора 28. в ремя (индикация измеряемых координат предыдущего транзистора может производиться во время измерения параметров последующего транзистора) ,снова срабатывает генератор-формирователь 29 и процессы в измерительном устройстве периодически повторяются описанным выше способом, производя измерения координат термостабильной точки характеристик управления все новых и новых транзисторов.

Предлагаемое устройство выгодно отличается от известных повышенной точностью и быстродействием. Выигрыш в точности измерений заключен, прежде всего, в методе определения координат. Существующая функциональная связь между характеристиками крутизны и сток-затворной позволило перей ти от нелинейных (сток-затворных) к линейным (крутизны, проводимости канала) характеристикам полевого транзистора и с их помощью достаточно точно измерить напряжение отсечки и производную крутизны, а затем по установленным связям (4) и (5) определить координаты как линейных, так и нелинейных характеристик. Количественной оценкой выигрыша в даннсм случае будет являться отношение угловых коэффициентов относительного изменения соответствующих параметров полевого транзистора в термостабильной точке, которые можно представить в общем виде:

М t о А ь

d Зио аСР и,. где 4, и — температурные коэффициенты составляющих дрейфа параметров полевых транзисторов, обусловленных, ссответственно, относительной подвижностью носителей заряда в канале и контактной разностью потенциалов между затвором и каналсм.

71 Прйменяя данное соотношение для собНЙФстФ9йМих" ха рак т ерйс тик," ис=тйЖз зуемьы при определении кЬординат "-йбйучаем выигрыш в точности измерений

4317 12 ствами, может составлять, как минимум, несколько десятков раз, а время измерения не превышать, по меньшей мере, тепловой. постоянной переход-среда бескорпусного транзистора

М9а айтеке ц arras /QU Вмау аи аи

В действительности же, учитывая 30 субъективный характер отсчета координат с графического изображения, получаемого известными методами с по ,моаью характериографа, и возможность получения отсчета измеряемых парамет 5 ров "предложенным методом с помощью цифрового табло; выигрыш в точности измерений будет значительно выше.

Проведенный нами анализ погрешностей показывает-, что среднеквадратическая погрешность измерения координат может быть получена в пределах

+ (0,1 - 0,5) Ъ в эавйсимости от вида

Исследуемых характеристик. Количественную оценку выигрыша в быстродейст. вии измерений можно получить, анализируя фиг. За. Для того, чтобы определить координаты с помощью. известного устройства, необходимо время для изМенения температуры кристалла полЬвого транзистора, равное, как ми- 30 нимум, 3-4 тепловым постоянным переход-среда „, так как только после такого промежутка времени можно утверждать, что температура кристалла устанбвилась и параметры транзистора 35 не изменяются. следует также иметь ввиду, то тепловая постоянная транзистора, даже не заключенного в кор "пус", составляет десятки секунд, Для того, чтобы определить координаты с помощью предлагаемого устройства необходимо гораздо мевьше времени, чем тепловая постоянная ... транзистора . Это обусловлено тем, что нет необходимости ждать пока 45 кристалл транзистора достигнет температуры второй камеры термостата.

Здесь важуо то, чтобы параметры транзистора изменились под влиянием температуры на необходимую величину(на- пример, угловой коэффициент, так как 50 производная, характеристики крутизны должны измениться на 25%). Повышая разность температур в камерах термостата, необходимое изменение параметров может быть достигнуто за весьма 55 короткое время, однако, его минимальное значение должно быть согласовано с мйерциснностью систем авторегулировки измерительного устройства, вре— " " мя установления которых не трудно по- щ лучить менее одной секунды.

Таким образом, выигрыш в быстродействии, который обеспечивает предлага емое ус тройс тв о и о с рав н ен ию с лучшими автоматизированными устрой- 65

Формула изобретения

Устройство для измерения координат термостабильной точки полевых транзисторов, содержащее двухкамерный термостат с системой транспортировки исследуемого прибора из одной камеры в другую, преобразователь параметр-напряжение, соединенный с исследуемым прибором, генератор импульсов, шесть" синхронных детекторов, два сравнивающих и три вычитающих устройств, два аттенюатора, пропорциональный модулятор, источник напряжений смещения и генератор-формирователь запускающих импульсов, соединенный с логическим элементом

ИЛИ, а также делительное устройство и регистрирующий прибор, подключенный к выходу логического элемента

ИЛИ, при этом генератор импульсов подключен к первому и второму синхронным детекторам и пропорциональному модулятору, выход преобразова теля параметр- напряжение соединен со входами первого и второго синхронных детекторов, выход первого детектора подключен непосредственно к одному из входоз, а выход второго детектора через первый аттенюатор ко второму входу первого сравнивакяиего устройСтва, выход которого соединен с пропорциональным модулятором, подключенным к клемме затвора полевого транзистора; первыми входами третьего и четвертого синхронных детек ropos и первым вычитаюцим устройствам, выход которого соединен с первым входами пятого и шестого синхронных детекторов, а второй вход — через второй аттенюатор подключен к клемме истока полевого транзистора, которая соединена с выходом втор ого сравнивающего устройства, входы которого подключены соответственно к выходам второго синхронного детектора и источника напряжений смещения, вторые входы третьего и пятого синхронных детекторов подключены к выходу генератора-формирователя импульсов, а четвертого и шестого — к выходу ло гического элемента ИЛИ, выходы пятого и шестого синхронных детекторов соединены с соответствующими входами второгб вычитающего устройства, о тличающеес ятем, что, сцелью повышения точности и автсматиэации измерений, в него введены третий и четвертый аттенюаторы, третье сравнивающее устройство, RS-триггер, функциональный преобразователь и масштаб-ный усилитель, при ем выход третьего

714317

49ис. 1

4 (и„,, 2

sf

Put. 2

Фиг 3

ЦНИИПИ Заказ 9279/42 Тираж 1019 Подписное

Заказ ППП Патент, r. Ужгород, ул. Проектная, 4 синхронного детектора соединен непосредственно с одним из входов, а выход четвертого детектора через тре тий аттенюатор —. co вторым входом третьего сравнивающего устройства, соединенного с R-входом RS-триггера

S-вход которого подключен к выходу генератора, — формирователя импульсов, а выход — ко второму входу логик ческого элемента ИЛИ и системе транспортировки исследуемого элемента, вы ход пятого синхронного детектора сое динен непосредственно с одним из вхо дов„ а выход шестого детектора через четвертый аттенюатор — со вторым вхо дом третьего вычитающего устройства, подключенного к регистрирующему при- . бору, выход третьего синхронного детектора соединен непосредственно с одним из входов, а в ыход второго вичнтающего устройств а через функ циональный преобразователь — со вторим входом делительного устройства, выход которого через масштабный усилитель, сопряженный с преобразователем параметр-напряжение, подключен к регистрирующему прибору, который соединен с функциональным преобразова- . телем, третьим вычитающим устройствоМ и четвертым аттенюатором.

Источники информации, принятые во внимание нри экспертизе

1. Авторское свидетельство СССР

9 543894, кл. G 01 R 31/26, 1975.

2. Заявка 9 2523991/25, 5 кл. 6 01 R 31/26, 1977, по которой принято решение о выдаче авторского св идетельс.тва .

Устройство для измерения координат термостабильной точки полевых транзисторов Устройство для измерения координат термостабильной точки полевых транзисторов Устройство для измерения координат термостабильной точки полевых транзисторов Устройство для измерения координат термостабильной точки полевых транзисторов Устройство для измерения координат термостабильной точки полевых транзисторов Устройство для измерения координат термостабильной точки полевых транзисторов Устройство для измерения координат термостабильной точки полевых транзисторов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может найти применение в электронной технике для измерения напряжений на диэлектрике и полупроводнике, а также их временного изменения в МДПДМ-структурах

Изобретение относится к технике контроля параметров полупроводников и предназначено для локального контроля параметров глубоких центров (уровней)

Изобретение относится к электронике и при использовании позволяет повысить точность контроля заданной величины отрицательного дифференциального сопротивления за счет изменения соотношения глубины положительных и отрицательных обратных связей в элементе с регулируемыми напряжениями и токами включения и выключения

Изобретение относится к области электротехники и может быть использовано при конструировании и производстве тиристоров

Изобретение относится к радиационной испытательной технике и может быть использовано при проведении испытаний полупроводниковых приборов (ППП) и интегральных схем (ИС) на стойкость к воздействию импульсного ионизирующего излучения (ИИИ)

Изобретение относится к области измерения и контроля электрофизических параметров и может быть использовано для оценки качества технологического процесса при производстве твердотельных микросхем и приборов на основе МДП-структур

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения электрофизических параметров материалов, и может быть использовано для контроля качества полупроводниковых материалов, в частности полупроводниковых пластин

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для контроля полярности выводов светодиодов

Изобретение относится к области теплового неразрушающего контроля силовой электротехники, в частности тиристоров тиристорных преобразователей, и предназначено для своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода изделия в целом в специальный контрольный режим
Наверх