Устройство для определения индикатрисс спектрального коэффициента отражения полупрозрачных материалов

 

квсесс с чмав В т И иЕ T ° ян - икбкбФ

Союз Советскнх

Соцналнстнческнх

Рес ублнк (ti>765672

О П И С A""Í Ì k

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 19.0578 (21) 2616112/18-25 с присоединением заявки ¹â€” (51)М. Кл.з

G 01 J 5/12

Государственный комитет

СССР по делам изобретений и открытий (23) Приоритет

Опубликовано 23,0980. Бюллетень ¹ 35 (53) УДК535. 853 (088.8) Дата опубликования описания 250980

В. Г. Вдовин, Ю. П. Менчев, И. С. Белевич, Г. Е. Островский и В. Т. Евтехов (72) Авторы изобретения (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ИНДИКАТРИСС

СПЕКТРАЛЬНОГО КОЭФФИЦИЕНТА ОТРАЖЕНИЯ

ПОЛУПРОЗРАЧНОГО ОБРАЗЦА

Изобретение относится к области теплофизических измерений и может быть использовано при изучении оптических свойств полупрозрачных матери- 5 алов и их индикатрисс рассеяния при высоких температурах.

При определении индикатрисс отражения материалов используется обычно 1р способ сравнения с эталоном.

Примерами устройств для определения индикатрисс спектрального отражения являются устройства, включающие источник излучения, образец, эталон и вращающийся столик, на котором крепятся эталон и образец. Все известные устройства подобного типа предназначены, как правило, для решения частных задач: измерения индикатрисс отражения, индикатрисс рассеяния в малых углах, в воздушной среде при комнатной температуре (1), Ближайшим техническим решением к предлагаемому является устройство для определения индикатрисс спектрального коэффициента отражения полупрозрачного образца, включающее в себя оптическую систему, эталон, источник излучения Е 23

ЗО

Конструкция приставки позволяет использовать ее со спектрометром

ИКС-12 и др. и производить запись отражения под разными углами (от 10 до

80о).при определенном угле падения светового потока, при этом столик с образцом (эталоном) и кронштейн с источником излучения должны поворачи" ваться с одинаковой скоростью.

Однако в этом устройстве измерения индикатрисс отражения возможны в.малых углах от 10 до 80 о и их можно проводить только на воздухе. Кроме того, отсутствует возможность снятия индикатрисс отражения при высоких температурах.

Целью изобретения является расши= рение температурного интервала измерений.

Поставленная цель достигается тем, что устройство снабжено водоохлаждаемым замкнутым экраном прямоугольной формы, внутри которого закреплен нагреватель с отверстием под образец, причем по контуру экрана выполнена прорезь,. обеспечивающая обзор поверх-. ности образца под углом «+90, при этом нагреватель и эталон размещены на приводном устройстве с возможностью

765672 поочередно устанавливать их на оптической оси и поворачивать на угол

+90 от среднего положения.

Кроме того, с целью упрощения про" цесса замены образца и нагревателя, водоохлаждаемый замкнутый экран выполнен из двух частей,- входящих одна в другую.

Экран в собранном виде имитирует . черное тело и улучшает изотермичноств образца.

На фиг. 1 схематично изображено устройство, общий вид, разрез на фиг. 2 схематично показана конструкциМ экрана по сечению A-A (см. фиг. 3); на фиг. 3 — расположение эталона и нагревателя с отверстием под образец; 15 на фиг.,4 — расположение зеркала и образца (эталона).

В вакуумной камере 1 (см;фиг. 1) через уплотнение крепится вращающаяся плата 2, на которой устанавливается каретка 3, имеющая возвратно-посту пательное движение. На каретке 3 крепится прямоугольный замкнутый водоох. лаждаеьый экран 4, внутри которого находится нагреватель 5 с отверстием под образец 6. Для удобства эксплуатации, т.е. смены образца или нагревателя, водоохлаждаемый экран 4 выполнен из двух частей, -входящих одна в другую (см. фиг. 2}. На одной .половине водоохлаждаемого экрана (см. фиг. 3) в верхней центральной части через изоляторы 7 крепится нагреватель 5 с токоподводами 8, а сбоку— эталон сравнения 9. Эталон 9 и образец

6 находятся на одной оси и поочередно,,з5 с помощью каретки 3, устанавливаются на оптической оси перед выходным окном вакуумной камеры 1.

Для обеспечения воэможности снятия индикатрисс отражения от образца и 40 эталона в пределах от 0 до 90 вторая половина водоохлаждаемого экрана имеет по контуру прорезь, которая по сво-, им размерам не превыиает рабочей поверхности исследуемого образца. Такая . конструкция экрана позволяет расширить температурный диапазон исследования, защищить эталон от нагрева и уменьшить запыление зеркал .и линз оптичес" кой системы, находящейся в вакуумной камере.

Световой поток от источника 10, прерываемый модулятором 11, с помощью оптической системы проецируется на поверхность образца (эталона). Отраженный от образцд (эталона) световой, 55 поток с помощью линзы 12 собирается на входную цель монохроматора 13.

Угловое разрешение установки при ширине щели 0,5-1,0 мм составляет

2О. Так как зеркало 14 и линза 12 имеют определенные линейные разме то угол 2 составляет примерно 14 .

Таким образом, угол падения света на рассеивающий образец не превышает

Оптическая система и нагреватель с образцом и водоохлаждаемым экраном жестко связаны между собой, что позволяет производить снятие индикатрисс отражения путем поворота платы 2 от-. носительно входной щели монохроматора. Как показали результаты измерений, погрешность определения спектрального коэффициента отражения по углам при высоких температурах для полупрозрачных материалов, например окиси алюминия, составляет +4-5%. Ввиду отсутствия экспериментальных данных по индикатриссам отражения полупрозрачных материалов, была произведена оценка погрешности измерений при комнатной температуре на известном и предлагаемом устройствах. В качестве образца служиа эталон ГОИ вЂ” молочное стекло МС-14, индикатрисса отражения которого известна. Погрешность определения индикатриссы отражения на устройстве составила 2%, а на устройстве, являющемся прототипом,5%. формула изобретения

1, Устройство для определения индикатрисс спектрального коэффициента отражения полупрозрачного образца, включающее в себя оптическую систему, эталон, источник излучения, о т— л и ч а ю щ е е,с я тем, что, с целью расширения температурного диапазона, оно снабжено водоохлаждаемым замкнутым экраном прямоугольной формы, внутри которого закреплен нагреватель с отверстием под образец, причем о контуру экрана выполнена прорезь, обеспечивающая обзор поверхности образца под углом +90, при этом нагреватель и эталон размещены на при водном устройстве, с возможностью поочередно устанавливать их на опической оси и поворачивать на угол «+90 от среднего положения.

2. Устройство по п. 1, о т л ич а ю щ е е с я тем, что, с целью упрощения процесса замены образца и нагревателя, водоохлаждаемый замкнутый экран выполнен из двух частей, входящих одна в другую.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Топорец A С. Оптико-механическая промышленность, Р 4, 1961, с. 20.

2 Приставка для измерения отраже. ния ИП0-12. Инструкция к пользованию

ЛОМО ° 1968.

765672

Составитель В. Рябин

Редактор. Т. Зубкова Техред Н.Граб.

Корректор О. Ковинская

Зайаз 6494/39 Тираж 713 Подписное

ВННИПН Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, ж-35 ° Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Устройство для определения индикатрисс спектрального коэффициента отражения полупрозрачных материалов Устройство для определения индикатрисс спектрального коэффициента отражения полупрозрачных материалов Устройство для определения индикатрисс спектрального коэффициента отражения полупрозрачных материалов Устройство для определения индикатрисс спектрального коэффициента отражения полупрозрачных материалов Устройство для определения индикатрисс спектрального коэффициента отражения полупрозрачных материалов 

 

Похожие патенты:

Радиометр // 386271

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может быть использовано для измерения температуры радиационно-разогреваемых объектов контактным способом

Изобретение относится к области измерительной техники

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области учета энергии, получаемой от источника энергии

Изобретение относится к измерительной технике и используется для измерения потоков инфракрасного излучения

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к области оптоэлектроники

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к области измерительной техники
Наверх