Устройство для эмиссионного спектрального анализа

 

(19) (111

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СО@ЕЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИН

3(58 01 N 21 72 ( 1

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К ABTOPCHOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

IlO ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21) 3485916/18-25 (22) 26.08.82 (46) 15.01.84. Бюл. Р 2 (72) М.A.Карабегов, Г.Я.Брагин, Ю.М,Садагов, С.А.Хуршудян и Д.A.Êîäàëàøâèëè (71) Тбилисское научно-производственное объединение "Аналитприбор" (53) 543.42(088.8) (56) 1. Авторское свидетельство СССР

Р 469060, кл. G 01 J 3/00, 1972.

2. Матвеев O.È., Толстикова Н.A.

Черемухин Е.П. Двухлучевая эмиссионная схема элементного анализа с селективной поглощающей ячейкой.

Заводская лаборатория. 1979, Р 8, с. .24-725 (прототип). (54)(57) 1. УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЭМИССИОННОГО СПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА, содержа— щее источник излучения, обтюратор, светофильтр, фотоприемник, измерительную систему, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью упрощения схемы и уменьшения погрешности измерений, между источником излучения и обтюратором установлен непрозрачный экран с двумя отверстиями, одно из отверстий расположено на уровне эоны источника с максимальным излучением определяемого элемента, а другое сме- щено по вертикали относительно этой зоны, 2.устройство по п.1, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что непрозрачный экран выполнен в виде двух наложенных друг на друга экранов: первого— .неподвижного, имеющего вертикальную прорезь по высоте, второго — подвиж. ного, имеющего горизонтальнуюпрорезь <р

;и прорезь, расположенную под углом

45 к горизонтальной, причем oTBepc- f+ тия образованы при пересечении верти кальной и горизонтальной прорезей.

5 5

@ 4

10б 7417 (О ь40

60! (e <з<>роток>ле относится к методам

cë=ê .,Tpa.H.iiого анализа вещестн и може ка - .: пр -;:::.-.,.!!ие Л !H a!}a л::за -!!".J-.ичнf.:1> . не ..Iеств.

Б зми;с((окном спектральном акали"с 1=! !(а e . ". : э атоми э BTopa и исте>чк и1< !

>п-б, .::., fe!:.:.я атомов >пробы наиболее ч -jcто .;---о.:}:уютcH г(.(аме (а. Горение

ЯВ: ).Е "..:.- >С".КЫМ ПРОЦЕССО.Л С ВЫСОКИМ уi>oj к";.", jii}J!;(>!3 Обусловлен ((ых нсста— билькс>стям:- Ifламени. Для г овыщения 0".3>ос (и - ис)-i o!Hloãc анализа приме:33 ((>т «.. у«тройства стабилизации пламе

:(и и схе(<сь(компенсации шума пламени про(.:,е..-.с с и=мерения.

".:а-(более эффектинко коглпечсация

iaлкякия "угла пламени ка результат и:;мерен(!H ос;:"=(ествляется в днухканал 3(;1:(;.Г«;.юie!i (ь х фотометрах.

Н-!,:. с - c !i --ту.<к<-,31:-„ль кьй I! Jla(ле 3нО фОтei.1,>> . -;>.с к и!! >тете!<тор сОстОящий .;з:)., .-(с.c.! у> с>гтс ;!÷ñ>с;". .>(какалОв с фотОГ(риpM .ii.. i<:"1:(И < !i> >(. < CHJI!ITCJ(e if! фОТОТGI(B <

> „з;:::, сл>1 кап:.«s>i

i()a .. (зс:тка" H=,ченкый для измерения

3 О ) О e!.> ." Bill le „I cep(>3, ><3 (и<<е скин

«:). :«.;i.": «с:< Г)1;з:(о (13>о!(ускают свет эс . 52б км B первом канале ., д> и (сгй вс>.1:.(з 39 3 !(м во втором как j >f (3,j . .. 5. Гоп; (TOÜÅ(уС Tpa!! ИТЬ

;!..;-:H(:(if с- .: .:.1>3 от серосодержащих не— щс(т н к .Орв и канале, к (зыходу уси— : ГГ - )Вl Л>О ОТ(: .:= . >3 ТО ОС ГС i< BH<1>lа ГIОД зз . (Гс:. ь,кап яжския, выход KO гс I c (rc>i ;H = к с одним из входов б i<»(а " " .-!(. (с iilf Й i!,. И>))3)! )! 1>< —,-; i » )ка io fi(JI(.)fi :„. Ã(!

". 1Х О З .10 (.1:::.".11(=Л(К ИЯ (1 ОДI(>)Ю (ЕН р(-.3 .:.с 3>. 1>;."г,:.,(.;: -ig>1 бор. Коэффициент (е, ie il! i !:.!" c > я (! (1! ряж(. Ни я Выбира е T

3 ст: !! i: О<> (3 э )к!;<Ин cia E г(а

o" 0cc.3,.- рт<ащегo 1<(зм.тонекта (. 3,:».> . ::! «f>«>.,f к; калах, 1. т .

<»д ° . ° 1 к:" (а.<;ах .Iэ яеcт!!0 ...це х 01< Г?:) : .,1(<,>:. " »ю c j! !за э EI!Iч кые IieKT р» 3- .1 . :. ".; : "!f,. -.(г Не 1 ОзнОляст ис. (- 13(> 3 и >" ь;>- .:: 3- e .»;!! а. и (сум;! Пл ам<э ни .

Нзв "j : .: .: От(>i!c ((30 для э((и(>cHoH ног > c. е:: ра> нного «калиэа, содержа-1„-с, с . (: . -:, ..: 3лу-(c (!:(я, Обт}оратор< (г-,::- т(;(): г;,, фс>топр(лем((ик „Hç .(ери:>. -,.О -.; < !: 7 ан Г(0 0 У<З Г 3>ойСТГ}а

;!»J.я(3.: О, аii,г(e ii!H,й;<руг ре:ae!jf;.(> ((а. . ит if:: < .. 1< - ".. .Ядач, -ITÎ Определя с т

c,T (J3o; < «;,(3 г -. (я,:Oa JIB I I H <3 сс Jie><т и нк Jõ

j. c) ÃJ!(>««-". i!i i: . Я ее HB большое ко ((ив .(е<)тнe:3«--емэ)}то(3. 0(;Pe>leляе((ь(х с I(0

<ощ . --;Я.с: (онкого анализа. ! (ел: к:>о.>ре",; ия — упроще}(ие с;<е— у.,(; ьщек =-. погрещностей.

i(<: "::-.еккая цель достигается г> уст()ойст}зе. содержащем и:)то. Н..<;>з г(у<(<зкия, обтюратар, сне> 1i>, . 0: PИ(:МНИ К *:3. (Р "т (Ь— ную систему, между источником излучения и прерывателем устаковлен непрозрачный экран с двумя QT33epcтиями, одно из которых расположено 13а уронке зоны источника с максимальным излучением определяемого элемент(1, а другое смещено по вертикали отHocHтелы3о этой зоны.

Кроме того, непрозрачный экра(3 может быт(выполнен в виде двух наложенных друг на друга экранов: первого — неподвижного, и(леющего вертикальную прорезь, второго — подвижного, имеющего горизонтальную прорезь и вторую прорезь, расположенную псд углом 45 к горизонтальной, Гричем отверстия образованы при пересечении вертикальной и горизонтальной прорезей.

На фиг.1 изобра>кена функциональная cхема предлагаемогo устройства, ((а фиг.2 — схе".:(а непрозрачного экрана.

Устройство содержит источник излучения 1 (пт(амеккая горелка), непрозрачный экран 2, обтюратор 3, линзу

4, снетофигьтр 5, фотоприемник б, измерительную систему 7, а также эк— ран 8 с вертикальной прорезью, экран

9 с горизонтальной и наклонной порез}т(»и и отверстия 1С и 11. устройство работает следующим обра=ом.

7!(!a:!изируемая проба вводится в пламенную горелку, где ока атомизируется и возбуждается. H резуль ат эмиссии возникает световой поток, который последовательно проходит непрозрачный экран ?, обторатор 3, ::ин;:у 4,. с:ветофиль;-р 5 и попадает на фо Гоприемкик б. Непрозрачный экран

2 вы;!Ол}(е}1 н виде наложенкь(х друг на друга двух экранон: экрана 8 с вертикалькoi прорезью If экрана 9 с ropu:30Hi 1>(ь-(Ой -<рОрезью и наклОннОй и - 0 зью >(угол 45н), т.е. непрозрачч(:й э. ра. :.мест за отнерстия 10 и 11, образуемые пересечением прорезей.

Эт(3 лна отверстия из светового потопаг(аю(цего от источн f!

3 .. Ia выходе обтюратора 3 формиру—

«т - последовательности световых импульсов, которые линзой 4 напран>тяют Я ка фотог(р исмник б . Перед (I о-топриемником 6 .становлен светоф!Jl(I ð 5, пр >зиазкачекный для выделения спектральной ликии определяемо о эпеме((та. На выходе фотоприемника б возникают импульсы электрических си — íàëîâ с)т и С(, соот— ветствующие снетовьгл пучкам, прощедшим Oтвс}рстия 10 и 11 соответственно= Так как интексHBHocTE эмиссионногс излучения определяемого элемента зависит от высоты зоны измерения, 1067417 где кр (2 сх

Ч,f, Составитель О.Матвеев

Редактор М.Келемеш Техред О.Неце Корректор A.Ïîâõ

Заказ 11202/48 Тираж 828 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, E-35, Раушская наб ., д.4/5

Филиал ППП "Патент", г.ужгород, ул.Проектная, 4 то сигналы 01 и 02 можно представить в виде

0 =К К f(h„) ((jK С +Ч+Е -, К Х(Ь ) (A ) k Cx Ч Р коэффициент, характеризующий эффективность горелки и зависящий от состава горючего газа, геометрии горелки и т.д., коэффициенты, характеризующие зоны, расположенные, на высоте h и й2 от основания горелки; функция, описывающая зависимость интенсивности эмиссионного излучения от высоты зоны измерения, коэффициент пропускания светофильтра, коэффициент пропорциональности) измеряемая концентрация определяемого элемента, сигналы, характеризующие фон и шум пламени соответственно.

Сигналы У,(и 02 поступают на вход измерительной системы 7, осуществляющий вычитание сигналов ли=о„-и =к, (л (к,f(t,(-к,e(h,Ц (К С КС

Коэффициент К4 остается постоянным в процессе измерения и опре5 деляется в процессе градуировки, поэтому измерительная система 7 регистрирует результат измерения по алгоритму сх- (/х4 который исключает влияние фона и шума пламени на результат измерения.

Для оптимизации измерений различных элементов экран 9 сделан подвиж15 ным, что позволяет регулировать высоту Ь1 отверстия 10.

По сравнению с базовым объектом двухлучевйм атомно-абсорбционным спектрофотометром С-112 в эмиссионногл режиме измерения — предлагаемое изобретение обеспечивает снижение погрешности измерения в 1,5 раза.

Экономический эффект обеспечивается за счет псвышения точности анализов и зависит от области применения и конкретной аналитической задачи. Применение изобретения в агрохимических лабораториях позволяет точнее определить состав почвы .и правильно регулировать внесение удобрений, что повышает урожайность полей.