Устройство для испытания полупроводниковых приборов

 

Изобретение относится к электронике и может быть использовано для испытания изделий электронной техники. Целью изобретения является повышение температурной стабильности и надежности. Устройство содержит резервуар 1, фиксатор 2, планку 3, камеру 4, контактные площадки, эластичную мембрану 6, диэлектрическую планку 7, прибор 8, вывод 9 прибора, посадочные отверстия, разъем, линия разводки. Цель изобретения достигается тем, что прижим выводов приборов осуществляется с помощью печатной платы и камеры с эластичными стенками, соединенными с резервуаром с жидкостью, пропорциональное давление которой при рабочей температуре электротермотоковой тренировки больше давления, необходимого для изгиба вывода прибора. 2 ил.

СООЭ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК. (51) 5 G 01 R 31/26

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

H Д ВТОРСИОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

1 (21) 4314988/24-21 (22) 23.07.87 (46) 23.02.90. Бюл. Р 7 (72)Г.Х.Аракелян, P.Г.Мартиросян и 3.А.Петросян. (53) 621.317/791 (088,8) (56) Ефимов И.Е., Горбунов 10.И., Козырь Н.Я. Микроэлектроника. - М.:

Высшая школа, 1977, устройство ТТМ

2.620.022ПС ..

Описание устройства 12 ТИС 40-016. (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИСПЫТАНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ (57) Изобретение относится к электронике и может быть использовано для испытания изделий электронной техники. Целью изобретения является по,Л0„, .1545) 74 А1

2 вышение температурной стабильности и надежности, Устройство содержит резервуар 1, фиксатор 2, планку 3, камеру 4, контактные площадки, эластичную мембрану 6, диэлектрическую планку 7, прибор 8, вывод 9 прибора, посадочные отверстия, разъем, линию разводки. Цель изобретения достигается тем, что прижим выводов приборов осуществляется с помощью печатной платы и камеры с эластичиыми стенками, соединенными с резервуаром с жидкостью„ парциальное давление. которой при рабочей температуре:электротермотоковой тренировки больше давления, наеобходимого для изгиба вывода прибора, 2 ил.

15ч5174

Изобретение относится к электронике и может быть использовано для испытания изделий электроники как в процессе производства, так и при входном контроле.

Цель изобретения " повьппение температурной стабильности и надежности .

Указанная цель достигается гем, что зажим выводов приборов осуществляется с помощью печатной платы и ,камеры с эластичными стенками, в которую залита жидкость, парциаль- . ,ное давление которой при рабочей тем,пературе ЭТТ больше, чем давление, ! необходимое для изгиба вывода прибо ра.

На фиг. 1 показана конструкция устройства для ЭТТ микросхем в корпусах типа Di« ; на фиг. 2 — конструк- -„, ция печатной платы со схематической .разводкой для приборов с. планарным расположением выводов.

Устройство содержит резервуар 1, фиксатор 2, плату 3,камеру 4, контактную площадку 5, эластичную мембрану б, диэлектрическую планку 7, прйбор 8, вывод 9 прибора.

Устройство работает следующим образом. 30

Приборы устанавливаются на диэлектрической планке и зажимаются между двумя печатными платами 3 с рисунком контактных площадок 5 и разводки от них к разъемам. Далее эти зажатые платы вставляются межцу камерами 4 с

35 эластичными стенками 6 и вся конструкция зажимается боковыми жесткими фик;саторами 2. После этого включается нагреватель, кот орый подогревает жидкость в резервуаре 1. >жидкость испа1 ряется и создает давление внутри камеры, равное парциальному давлению . жидкости при данной температуре. Это давление через эластичную мембрану б равномерно сжимает печатные платы

3 и прижимает выводы 9 приборов K контактным площадкам 5. Одновременно с этим пар подогревает прибор. Поддерживая постоянным давление в закрытом

50 объеме (камеры вместе с резервуарами) с помощью управления нагревателем поддерживается постоянной и температура по всему рабочему сбъему. Таким образ ом, предлагаемая конструк«в«я позволяет обходиться бе.-: контактиру55 ющих устройств «I вентиляторов, умень- шить габариты установк-:: за счет выс-вобождения рабочего объема от .«их и

«

4 пространств, . необходимьи для свободного потока воздуха и обеспечения равномерности распределения температуры, 8. также уменьшить .расход сырья, материалов и электроэнергии.

Испыта«гие конкретного устройства на предполагаемое изобретение осуществлено на макете для про:ведения ЭТТ при б ор ов с пла нар ным р ас положе нием выводов °

Устройство работает следукнцим образом.

При помощи нагревательных элементов осуществляется нагрев жидкости в резервуаре. В качестве жидкости используется вода. Образовавшийся пар заполняет камеры, герметично соединенные с резервуаром. Боковые стенки камер изготовлены из эластичной резины и при повьппении парциального давленияв замкнутомобъеме резервуар- камеры резиновые стенки начинают расширяться. Между резиновыми стенками камер установлены кассеты с испытываемыми приборами. Кассеты представляют собой две платы из стеклотекстолита, на одной из которых осуществлена литография рисунка разводки от контактHbIx площадок к разъемам, расположенным по краям платы. На обоих платах штамповкой изготовлены посадочные места под корпуса приборов таким образом, чтобы корпус прибора утопал в посадочном месте и резиновые мембраны ие соприкасались и не оказывали бы давления на корпус прибора.

Печатная плата со схематической разводкой для приборов с планарным расположением выводов (фиг. 2) содержит посадочные отверстия 10, разъем

11, контактные площадки 12, линию 13 раэводки.С увеличением давления пара резиновые стенки камер, расширяясь, создают равномерное давление с обеих сторон касеты, и сжимают платы с приборами, осуществляя контактирование выводов приборов с контактными площадками на печатной плате. Зависимость давления пара воды от температуры известна, и по показанию манометра определяется температура. Для диапазона темепратур 120-130 С (рабочая зона темеператур ЭТТ для приборов с планарным расположением выводов) давление пара воды соответсвует 2,02452, 7544 атм.

Формула изобретения

Таким образом, объем, занимаемый специальным технологическим оборудованием для контактирования, при исСоставитель )R.Ïîëÿêoâà

Редактор Е.Папп Техред Л, Кравчук Корректор Л,Бескид

Заказ 489 Тираж 558 П одпис H ое

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

HpoH3BojicTBpHHo-нздательскпй KQMGHHBT "Патент", T.ужгopop, QJi... VB BDHHB, 101

5 154

Для испытания приборов с планарным расположением выводов на плате размером 396 х 286 мм в базовом варианте размещается 48 контактирующих устройств, в каждом из которых помещается три прибора. Объем занимаемой одной такой платой равен 3 10 мм при количестве контактируемых приборов 144 err.

В том же объеме на платах того же размера по предлагаемому способу размещается в 24 раза больше приборов (конкретно 3564 прибора по 396 штук на каждой плате).

5174 пытаниях приборов уменьшается в 24 раза, что приводит к значительному высвобождению производственных пло5 щадей.

Устройство для испьп ания полупроводниковых приборов, содержащее задатчик злектрического режима, нагреватель, печатные платы, о т л и ч аю щ е е с я тем, что, с цельш повышения температурной стабильности и надежности, печатные плагы вставлены между камерами с эластпчньмн стенками, соединеннымн с резервуаром с жндкостьв, в которой помещен нагреватель °

Устройство для испытания полупроводниковых приборов Устройство для испытания полупроводниковых приборов Устройство для испытания полупроводниковых приборов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано для контроля качества полупроводниковых приборов с лавинным пробоем, в частности для ограничительных диодов

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения активной составляющей проводимости, емкости и добротности варикапов в параллельной схеме замещения, например, при технологическом контроле параметров полупроводниковых приборов и других как нелинейных, так и линейных объектов, а также в подсистемах технической диагностики радиотехнических элементов автоматизированных систем контроля различной радиоэлектронной аппаратуры

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для технологического контроля в широкой полосе частот полевых транзисторов непосредственно на пластине

Изобретение относится к электроизмерительной технике и предназначено для контроля транзисторов

Изобретение относится к области полупроводникового приборостроения и может быть использовано для измерения коэффициентов усиления высоковольтных транзисторов

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может найти применение в электронной технике для измерения напряжений на диэлектрике и полупроводнике, а также их временного изменения в МДПДМ-структурах

Изобретение относится к технике контроля параметров полупроводников и предназначено для локального контроля параметров глубоких центров (уровней)

Изобретение относится к электронике и при использовании позволяет повысить точность контроля заданной величины отрицательного дифференциального сопротивления за счет изменения соотношения глубины положительных и отрицательных обратных связей в элементе с регулируемыми напряжениями и токами включения и выключения

Изобретение относится к области электротехники и может быть использовано при конструировании и производстве тиристоров

Изобретение относится к радиационной испытательной технике и может быть использовано при проведении испытаний полупроводниковых приборов (ППП) и интегральных схем (ИС) на стойкость к воздействию импульсного ионизирующего излучения (ИИИ)

Изобретение относится к области измерения и контроля электрофизических параметров и может быть использовано для оценки качества технологического процесса при производстве твердотельных микросхем и приборов на основе МДП-структур

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения электрофизических параметров материалов, и может быть использовано для контроля качества полупроводниковых материалов, в частности полупроводниковых пластин

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для контроля полярности выводов светодиодов

Изобретение относится к области теплового неразрушающего контроля силовой электротехники, в частности тиристоров тиристорных преобразователей, и предназначено для своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода изделия в целом в специальный контрольный режим
Наверх