Способ рентгеноструктурного анализа сплавов

 

Изобретение относится к исследованию или анализу материалов, в частности к способам ренгтеновского определения химического состава. Цель изобретения - упрощение анализа и повышение его экспрессное™ при относительно большой концентрации определяемого компонента. Способ включает облучение образца рентгеновскими лучами, регистрацию интенсивности а и/ -линий, отраженных одной и той же кристаллографической плоскостью, определение соотношения а/($ и вычисление в функции этого отношения - содержание компонентов, соответствующего скачку поглощения рентгеновских лучей. 1 табл.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (5!)5 G 01 N 23/20

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4483012/25 (22) 19.09,88 (46) 15,03.91. Бюл. N. 10 (71) Государственный научно-исследовательский, проектный и конструкторский институт сплавов и обработки цветных металлов "Гипроцветметобработка" (72) С.Г.Хаютин (53) 621.386(088,8) (56) Вольдсет P. Прикладная спектроскопия рентгеновского излучения, M„1977, с,124127.

Авторское свидетельство СССР

N 890177,,кл, G 01 N 23/20, 1980. (54) СПОСОБ РЕНТГЕНОСТРУКТУРНОГО

АНАЛИЗА СПЛАВОВ

Изобретение относится к исследованию материалов, в частности к способам рентгенофазового анализа и анализа элементного состава.

Цель изобретения — осуществление воэможности определения количественного содержания компонента в определенной фазе.

Сущность изобретения состоит в том, что ввиду различия длин волн Ка и КР линий коэффициенты их поглощенияp (C) материлом различны и зависят от концентрации С компонента, соответствующего скачку поглощения. Это сильно сказывается на интенсивности отраженных лучей.

Можно показать, что отношение интенсивности Каи Kj3 линий на рентгенограмме А = Icz IP = К,ир(С)фа(С), где К— константа для данного излучения и металлаосновы. Если выбрать излучение, для кото„„5U „„1635091 А1 (57) Изобретение относится к исследованию или анализу материалов, в частности к способам ренгтеновского определения химического состава. Цель изобретения упрощение анализа и повышение его экспрессности при относительно большой концентрации определяемого компонента.

Способ включает облучение образца рентгеновскими лучами, регистрацию интенсивности а и j3 -линий, отраженных одной и той же кристаллографической плоскостью, определение соотношения I IP и вычисление в функции этого отношения содержание компонентов, соответствующего скачку поглощения рентгеновских лучей.

1 табл. рого один из компонентов данного сплава лежит в районе скачка поглощения. то величина !а/IP будет зависеть от состава. Поскольку в районе скачка р меняется очень сильно (в 5-7 раз), отношение интенсивности сильно зависит от состава. а именно от отношения концентраций упомянутых компонентов, Так, у двойных сплавов медь-никель на дифрактограмме в медном излучении,и 3lра меняется от 0,75 у меди до 6,1 у никеля, а отношение интенсивностей а й)3 -линий — соответственно от 5:1 до 40.1. Это позволяет быстро определить содержание никеля с точностью до 1-37( при любом составе. То же касается анализа сплавов железо — кобальт или никель — кобальт в никелевом излучении. Ограничение компонентов, подлежащих анализу, определяется различием коэффициентов поглощения Ка и К 3линий. Определяют отношение интенсивности:

1635091

Относительная интенсивность la/IP при содержании компонента, вес.

Легирующий компонент

20 50 90 99

100

Ме ь

32 24 9 1

5,8

5,5

Составитель В.Воронов

Техред М.Моргентал Корректор Т.Малец

Редактор M.ÏåòðoBà

Заказ 752 Тираж 400 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101 бальтовое излучение, можно опредегить состав сплава, содержащего никель, кобальт и железо. Метод может быть эффективно использован при рентгеноструктурном фазовом анализе для разделения фаз на основе разных элементов, например меди и никеля. В этом случае результат достигается при использовании одного прибора (дифрактометра) вместо двух (дифрактометр и спектрометр), Формула изобретения

Способ рентгеноструктурного анализа сплавов, включа ощий облучение образца излучением анода рентгеновской трубки, атомный номер материала которого на единицу больше атомного номера определяемого компонента сплава, о т л и ч а ю щ и й5 с я тем, что, с целью осуществления возможности определения количественного содержания компонента, регистрируют интенсивности lgz и КР линий одного и того же отражения от исследуемой фазы, нахо10 дят их отношение и по нему вычисляют содержание исследуемого компонента.