Способ определения сортности слюдяного мусковитного сырья

 

Способ определения сортности слюдяного мусковитного сырья, включающий определение толщины кристалла слюды и измерение физических характеристик, по которым судят о сортности кристалла слюды, отличающийся тем, что, с целью повышения достоверности оценки благодаря учету микронеоднородностей структуры, на кристалл слюды воздействуют коллимированным монохроматическим пучком рентгеновского излучения и измеряют интенсивность малоуглового рассеяния рентгеновского излучения при двух углах рассеяния 1 и 2 из диапазона

(8/1,54) - (19/1,54) ,

где - длина волны используемого рентгеновского излучения, а в качестве характеристик, по которым судят о сортности, выбирают нормированную интенсивность малоуглового рассеяния для одного из указанных углов I(1), приведенную к толщине кристалла по формуле

exp[-(dст-dизм)],

где I() - нормированная интенсивность, приведенная к стандартной толщине кристалла;

Iизм() - измеренная относительная интенсивность;

dст - стандартная толщина кристалла;

dизм - толщина кристалла слюды;

- коэффициент поглощения и отношение интенсивностей, соответствующих указанным углам, =I(2)/I(1) и относят слюдяное мусковитное сырье к телевизионной слюде, если параметры I(1) и находятся соответственно в пределах (16,3 - 17,4) и (0,48 - 0,55), к конденсаторной слюде, если в пределах (17,4 - 19,2) и (0,42 - 0,48) и к щипаной слюде, если в пределах (16,3 - 17,4) и (0,42 - 0,48).



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к материаловедению и может использоваться при контроле производства композиционных материалов

Изобретение относится к способам контроля качества целлюлозы и ее эфиров путем определения химической неоднородности эфиров целлюлозы

Изобретение относится к приборостроению, в частности к оборудованию для контроля текстур металлов и сплавов

Изобретение относится к технической физике и может применяться при рентгеноструктурных исследованиях поликристаллических материалов

Изобретение относится к области рентгеноструктурного анализа и может быть использовано для рентгеноструктурных и рентгенофазовых исследований микроколичеств веществ

Изобретение относится к области средств контроля материалов с помощью рентгеновских лучей и может быть использовано при контроле качества катализаторов , содержащих дисперсные металлы и окислы металлов

Изобретение относится к научному приборостроению, в частности к камерам для получения рентгеновско го топографического изображения деОектов структуры монокристаллов.Паль изобретения - повышение контраста топограЛического изображения

Изобретение относится к рентгеновской оптике

Изобретение относится к области исследования реальной структуры монокристаллов методом рентгеновской топографии

Изобретение относится к области медицины, а именно к гемостазиологическим аспектам акушерства и гинекологии, и может быть использовано врачами других специальностей

Изобретение относится к области ядерной энергетики для космических аппаратов и, в частности, к теневым радиационным защитам (РЗ), выполненным из гидрида лития, и касается технологии изготовления в части проведения контроля их геометрии, определяющей контур теневой защищаемой зоны, создаваемой защитой на космическом аппарате

Изобретение относится к технике рентгеноструктурного анализа и касается методов настройки и юстировки гониометрических устройств рентгеновских дифрактометров типа "ДРОН"

Изобретение относится к технологии анализа биологических материалов, а именно к способам определения фракционного состава (ФС) липопротеинов (ЛП) в плазме крови методом малоуглового рентгеновского рассеяния (МУРР) для последующей диагностики состояния организма человека

Изобретение относится к устройствам для рентгеновской типографии и может быть использовано для определения структуры сложного неоднородного объекта и идентификации веществ, его составляющих

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для оценки качества деталей при их изготовлении и ремонте, а конкретно - дефектоскопии с использованием радиоактивных источников ионизирующего излучения и коллимированных блоков детекторов
Наверх