Способ выращивания монокристаллов y @ в @ с @ о @

 

Изобретение относится к области технологии выращивания монокристаллов со сверхпроводимостью. Обеспечивает увеличение размеров монокристаллов, повышение их выхода, облегчение их извлечения. Способ включает нагрев исходного соединения и эвтектической смеси ВаО и СиО в тигле, выдержку, последующее охлаждение и извлечение кристаллов. Используют алундовый тигель, нагрев ведут в зоне шириной, равной ширине тигля, до 970-990°С, выдержку проводят в течение 24-30 ч, после чего тигель перемещают через градиент температуры 1,5°С/мм со скоростью 1-2 мм/ч в зону охлаждения с температурой 870- 880°С, прекращают перемещение и охлаждение ведут со скоростью 190-200°С/ч, а в области 700-600°С - со скоростью 15- 20°С/ч. Получены кристаллы размером 3,5 х 2,5 х 0,15 мм с температурой перехода в сверхпроводящее состояние Тс. 85 К. 2 ил

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (я)л С 30 В 9/12, 29/22

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4844314/26 (22) 15.05.90 (46) 07.06.92. Бюл. М 21 (71) Институт кибернетики АН ГССР (72) В,P.Êàðàñèê, Г,Г,Качарава, Т.Г.Тогонидзе и Г.А.Цинцадзе (53) 621.315.592 (088.81 (56) А Gryst. Growth.94, р. 577-578. (54) СПОСОБ ВЫРАЩИВАНИЯ МОНОКРИСТАЛЛОВ т 1Ва2Сиз07-х (57) Изобретение относится к области технологии выращивания монокристаллов со сверхпроводимостью. Обеспечивает увеличение размеров монокристаллов, повышение их выхода, облегчение их извлечения.

Способ включает нагрев исходного соединеИзобретение относится к технологии выращивания монокристаллов, в частности монокристаллов, обладающих сверхпроводимостью, и может применяться в технологии других материалов, где необходимо выделить выращиваемые кристаллы из шихты.

Из известных способов получения монокристаллов У ВагСиз07-х самое широкое применение нашли методы выращивания из раствор-расплавов, где в качестве растворителя используется расплав смеси ВаО и

СиО. Рост проводится в вертикальных трубчатых печах. В качестве контейнерного материала используются Pt, ЛГ02, Тп02, А!20з, Mg0, Аи, Однако высокотемпературные растворы, применяемые для получения монокристаллов ВТСП, химически взаимодействуют практически со всеми. Тем не менее, если

„„Ы „,; 1738876 А1 ния и эвтектической смеси ВаО и СиО в тигле, выдержку, последующее охлаждение и извлечение кристаллов. Используют алундовый тигель, нагрев ведут в зоне шириной, равной ширине тигля, до 970 — 9900С, выдержку проводят в течение 24 — 30 ч, после чего тигель перемещают через градиент температуры 1,5 С/мм со скоростью 1 — 2 мм/ч в зону охлаждения с температурой 870—

880 С, прекращают перемещение и охлаждение ведут со скоростью 190 — 200 С/ч, а в области 700-600 С вЂ” со скоростью 15—

20 С/ч. Получены кристаллы размером 3,5 х

2,5 х 0,15 мм с температурой перехода в сверхпроводящее состояние Т . = 85 К. 2 ил. влияние Pt как примеси практически не отражается на сверхпроводящих свойствах получаемых монокристаллов, то А! понижает температуру перехода в сверхпроводящее состояние в зависимости от его количества в монокристалле.

Известен способ, где в качестве растворителя используется расплав смеси ВаО и

СиО. Эту смесь смешивают с заранее приготОВЛЕННЫМ СОСтаВОМ Y1832CU307-х В ВИДЕ порошка. Рост производят при помощи вертикально направленного охлаждения.

Недостатком способа является сложность технологии, кроме того, требуется изготовление специальных тиглей из AI20g, что представляет определенные трудности.

Большую проблему представляет выделение монокристаллов из затвердевшей шихты. Так как селективных травителей для этой цели подобрать не удалось, извлечение

1738876

55 кристаллов из шихты осуществляется механическим путем. Эта операция ввиду хрупкости образцов весьма трудоемка и может быть применена к монокристаллам, имеющим малую площадь контакта с шихтой, что исключает растрескивание кристаллов за счет разности температурных коэффициентов расширения, Целью изобретения является увеличение размеров, повышение выхода кристаллов и облегчение их извлечения из шихты.

Поставленная цель достигается тем, что приготовленную смесь из ВаО, СиО и

У ВагСиз07-> нагревают в алундовом тигле до 970 — 990 С и выдерживают в течение 24—

30 ч, после чего тигель перемещают через градиент температуры 1,5 С/мм со скоростью 1 — 2 мм/ч, при этом в температурной области 700 — 600 С охлаждение производят со скоростью 15 — 20 С. Весь процесс роста происходит в атмосфере воздуха.

На фиг. 1 дача установка зонной плавки; на фиг. 2 — температурный профиль установки.

Сущность изобретения заключается в том, что, охлаждая шихту в горизонтальном направлении, оасплавленная масса ползет в сторону более низкой температуры, вы свобождая почти одну треть площади дна тигля, где и располагаются образованные кристаллы, сросшиеся с шихтой всего лишь одним ребром, и извлечение их из тигля не представляет никакой трудности.

Рост осуществляется в установке зонной плавки. Из нихромовой спирали 1 намотаны две параллельно соединенные фоновые печи 2, между которыми располагается зонный нагреватель из силитовых стержней 3. Температуры регулируются раздельно програмными регуляторами

РТП-ЗМ, в которых обратная связь осуществляется с помощью термопар 4, Для тигля 5 функцию стола выполняют два горизонтально закрепленных керамических стержня 6.

Предварительно синтезированную керамику Y1BazCua07-Х, размельченную в по5

45 рошок, замешивают с эвтектической смесью 28 ф, ВаΠ— 727 СиО, засыпают в алундовый тигель и ставят в установку для зонной плавки, так, чтобы тигель находился в центре зоны. Поднимают температуру зоны до 970 — 990 С, а на фоновых печках задают такую температуру, что градиент не превышает 1,5 С/мм. Выдержав тигель с расплавом в зоне в течение 24 — 30 ч, включают передвижение зоны со скоростью 1-2 мм/ч. Охладив расплав до 870 — 880 С, отключаютдвижение зоны и по заданной программе регуляторами РТП-3М понижают температуру до комнатной со скоростью, не превышающей 200 С/ч, но при этом область температуры перехода из тетрагональной в орторомбическую фазу

700 — 600 С проходят со скоростью 15 — 20 С.

Весь процесс роста происходит в атмосфере воздуха, Максимальный размер кристалла, выращенного этим методом, 3,5 х 2,5 х 15 мм, с температурой перехода в сверхпроводящее состояние 55 К без отжига и 85 К после отжига в кислородной камере высокого давления в течение суток под давлением 45 атм при 600 С.

Формула изобретения

Способ выращивания монокристаллов

У1 ВагСиз07-х, включающий нагРев исходного соединения и эвтектической смеси ВаО и

СиО в тигле, выдержку, последующее охлаждение и извлечение кристаллов, о т л ич а ю шийся тем, что, с целью увеличения размеров, повышения выхода кристаллов и облегчения их извлечения, используют алундовый тигель, нагрев ведут в зоне шириной, равной ширине тигля до 970 — 990 С, выдержку проводят в течение 24 — 30 ч, после чего тигель перемещают через градиент температуры 1,5ОС/мм со скоростью 1 — 2 мм/ч в зону охлаждения с температурой

870 — 880 С, прекращают перемещение и охлаждение ведут со скоростью 190-200 С/ч„ а в области 700 — 600 С вЂ” со скоростью 1520 С/ч.

1738876

12 16 3У, сру

pacYmOSeue om цВИщЯИ ЗОщд

50

Составитель Г.Качарава

Техред М.Моргентал Корректор Q.Êóíäðèê

Редактор Н.Гунько

Заказ 1979 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб„4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101

Способ выращивания монокристаллов y @ в @ с @ о @ Способ выращивания монокристаллов y @ в @ с @ о @ Способ выращивания монокристаллов y @ в @ с @ о @ 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к получению высокотемпературных сверхпроводников - ВТСП на основе металлооксидов и может быть использовано в микроэлектронике

Изобретение относится к получению ферромагнитных монокристаллических материалов с гексагональной структурой, применяемых в электронике

Изобретение относится к монокристаллическим ферритовым материалам, используемым для создания твердотельных СВЧ-приборов, работающих в диапазоне сантиметровых длин волн 9 30 ГГц

Изобретение относится к технологии получения кристаллов оксидных высокотемпературных сверхпроводников (ВТСП), содержащих достаточно крупные моноблоки, пригодные для комплексных прецезионных физических исследований в области физики ВТСП, и обеспечивает получение в кристаллах моноблоков размером более 1x1x0,1 мм°

Изобретение относится к технологии обработки нового класса материалов, обладающих сверхпроводимостью при высоких температурах-ВТСП, более конкретно к их высокотемпературной обработке в активной атмосфере

Изобретение относится к получению монокристаллов высокотемпературных сверхпроводников ВТСП, которые могут быть использованы в микроэлектронике и технике низких температур

Изобретение относится к получению высокотемпературных сверхпроводников - ВТСП на основе металлооксидов и может быть использовано в микроэлектронике

Изобретение относится к монокристаллам на основе диоксида циркония ^гО2) и может быть использовано при изготовлении инструмента для обработки металлов (волок, плавающих оправок и др.)

Изобретение относится к способам получения монокристаллов нефелина и позволяет получать крупные однородные монокристаллы нефелина состава (Na4-xKxXA S 04)4, где х 0-1

Изобретение относится к монокристаллическим ферритовым материалам, используемым для создания твердотельных СВЧ-приборов, работающих в диапазоне сантиметровых длин волн 9 30 ГГц

Изобретение относится к физике твердого тела, геофизике и геохимии и может быть использовано для окрашивания низкосортных кристаллов природного кальцита с последующим их использованием в травильной , художественно-декоративной и ювелирной промышленности, а также в качестве фильтров в оптике

Изобретение относится к технике выращивания профилированных кристаллов сложных окислов из расплава и может быть использовано для получения кристаллов LiNbOs и Gda(Mo04)3

Изобретение относится к технологии получения кристаллов оксидных высокотемпературных сверхпроводников (ВТСП), содержащих достаточно крупные моноблоки, пригодные для комплексных прецезионных физических исследований в области физики ВТСП, и обеспечивает получение в кристаллах моноблоков размером более 1x1x0,1 мм°
Наверх