Способ выращивания профилированных кристаллов сложных оксидов

 

Изобретение относится к технике выращивания профилированных кристаллов сложных окислов из расплава и может быть использовано для получения кристаллов LiNbOs и Gda(Mo04)3. используемых в акустооптоэлектронике. Способ позволяет повысить качество монолитных кристаллов за счет уменьшения влияния поверхности формообразователя. Способ включает затравливание и вытягивание кристалла на затравку-пластину из столба расплава на торце формообразователя, погруженного в тигель. Затравливание ведут по всему периметру трубчатого формообразователя с образованием полого замкнутого объема под пластиной. При подъеме затравки начинает расти полый кристалл и возникает перепад между давлением в ростовой камере и давлением в замкнутом объеме. Дальнейшее вытягивание приводит к тому, что расплав, поднявшись к торцу формообразователя, схлопывается с расплавом, поступающим по капилляру формообразователя и начинает кристаллизоваться по всему объему, что приводит к росту монолитного кристалла с улучшенным качеством. Для того, чтобы переходный участок с момента затравливания до момента схлопывания был короткий, давление в ростовой камере должно быть не менее 0.2 атм. 5 ил. сл с

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4662730/26 (22) 14.03,89 (46) 15.11,91. Бюл. N. 42 (71) Институт физики твердого тела АН

СССР (72) В.Н. Курлов и Б,С. Редькин (53) 621,315.592(088.8) (56) Аракелов О,А., Белабаев К.Г„Саркисов

В Х. Исследование условий выращивания кристаллов ниобата лития методом Степанова. Материалы II-й Всес. конф, по акустоэлектрон. и квант. акуст„ч. 2, Душанбе, 1981, с. 156, (54) СПОСОБ ВЫРАЩИВАНИЯ ПРОФИЛИРОВАННЫХ КРИСТАЛЛОВ СЛОЖНЫХ ОКСИДОВ (57) Изобретение относится к технике выращивания профилированных кристаллов сложных окислов из расплава и может быть использовано для получения кристаллов

LiNb03 и Gdz(Mo04)a, используемых в экусто- оптоэлектронике. Способ позволяет повысить качество монолитных кристаллов

Изобретение относится к технике выращивания профилированных кристаллов сложных окислов из расплава и может быть использовано для получения кристаллов ниобата и танталата лития, молибдата гадолиния, сапфира и других кристаллов, используемых в акусто-, оптоэлектронике.

Цель изобретения — повышение качества монолитных кристаллов за счет уменьшения влияния поверхности формообразователя, На фиг. 1 изображено устройство для осуществления данного способа до момента затрэвливания, вид в изометрии; на фиг...Ы) 1691433 А1 (я)з С 30 В 15/34, 29/22, 29/30, 29/32 за счет уменьшения влияния поверхности формообразователя, Способ включает затравливание и вытягивание кристалла на затравку-пластину из столба расплава на торце формообразователя, погруженного в тигель, Затравливание ведут по всему периметру трубчатого формообраэователя с об разованием полого замкнутого объема под пластиной. При подъеме затравки начинает расти полый кристалл и возникает перепад между давлением в ростовой камере и давлением в замкнутом объеме. Дальнейшее вытягивание приводит к тому, что расплав, поднявшись к торцу формообраэователя, схлопывается с расплавом, поступающим по капилляру формообразователя и начинает кристаллизоваться по всему объему, что приводит к росту монолитного кристалла с улучшенным качеством. Для того, чтобы переходный участок с момента затрэвливания до момента схлопывания был короткий, давление в ростовой камере должно быть не менее 0,2 атм. 5 ил.

2 — то же, момент затравливания; на фиг. 3 — то же, момент выращивания полого замкнутого профиля перед его схлопыванием; на фиг. 4 — то же, момент схлопывания полого кристалла; на фиг. 5 — то же, момент выращивания профилированного монолитного кристалла.

Способ реализуют следующим образом в ростовой камере.

В тигле 1 с расплавом 2 установлен трубчатый формообразователь 3 с капиллярным зазором 4 для выращивания кристаллов. По капиллярному зазору 4 поступает расплав 2 к торцу формообразо I 691433 вателя 3. Для затравливания используют пластину 5, размеры которой соответствуют наружным размерам формообразователя 3 (фиг. 1), При затравливании пластина-затравка 5 опускается на торец формообразователя 3 и взаимодействует с расплавом 2, поступающим по капиллярному зазору 4. Между пластиной 5 и формообразователем 3 образуется кольцевой мениск, который замыкает полый обьем псд пластиной 5(фиг. 2). До начала вытягивания кристалла давление внутри этого объема равно давлению в камере, При подъеме пластины-затравки 5 начинает расти замкнутый (полый) профиль кристалла 6 (фиг. 3), в котором наблюдаются дефекты, связанные с взаимодействием расплава в мениске с материалом формообразоватега. При подъеме пластины-затравки 5 закрытый объем под ней начинает увеличиваться, а давление, ссответственно, падать согласно закону Бойля-Мариотта. Возникает перепад между давлением в ростовой камере и давлением в закрытом объеме под пластиной 5, что в свою очередь приводит к поднятию расплава 2 под ней (фиг. 3). Дальнейшее вытягивание приводит к тому, что расплав 2, поднявшись к торцу формообраэователя 3, соединяется с мениском (с расплавом, поступающим по капилляру), схлопывается (фиг, 4) и начинает кристаллизоваться на уровне торца по всему обьему, что приводит к росту монолитного кристалла 7, Отсутствие прямого контакта с торцом формообразователя позволяет получить кристалл лучшего качества, аналогичного качеству кристаллов, выращенных методом

Чохральского, т.е. со свободной поверхности формообразователя. Включение материала формообразоватег>я и дефекты, связанные контактом с формообразователем, наблюдаются только на поверхностной части кристалла, Измерить давление в замкнутом объеме не представляется возмо>кным. Но онолегко рассчитывается из следующих условий:

pV = const(çýKoH Бойля-Мариотта) и P—

-P.= pgIi, где Є— давление в замкнутом объеме;

Р— давление в камере;

Р— плотность расплава;

g — ускорение свободного падения;

I1 — высота поднятия расплава в замкнутом обьеме относигельно уровня распг ава.

I In в данном случаe наиболее ва>кной характеристикой является расстояние I от пластины затравки до места схлопывания (фиг. 4), в зависимости гп Р— давления в

5Г камере. Зто расстояние рассчитывают по формуле

Н

1 — -- Н+ Нф, Ну р ц

P где Н вЂ” высота от уровня расплава в тигле до торца формообразователя;

Нф -- высота от уровня расплава в тигле до фронта кристаллизации;

Нф является суммой двух величин; Н и

Н вЂ” высоты мениска.

Н определяется иэ количества расплава и геометрических размеров тигля и формообраэователя, высотумениска Н можноопределить для различных типов формообразователей. Для замкнутых профилей высота мениска не превышает 1 мм практически для всех типов кристаллов и вносит малый вклад при определении i, так как в реальных условиях величина Н составляет не менее 5 — 10 мм, т,е. нет необходимости такой точности определения величины

Н, достаточно оценочных значений.

Из выражения следует, что для того, чтобы переходный участок ) с момента затравливания до момента схлопывания был коротким (не более (1,5 — 2)Н), давление в камере должно быть не менее 0,2 атм.

Возможна реализация способа при вытягивании кристалла вниз.

Пример 1. Данным способом выращивают кристаллы ниобата лития на воздухе иэ платинового тигля 50 х 50 х 3 мм с применением трубчатого платинового формообразователя, который изготовлен для выращивания кристаллов замкнутого профиля в виде труб диаметром 12 мм. Формообразователь изготовлен из листовой платины толщиной 1 мм, капиллярный зазор для подачи расплава к верхним кромкам формообразователя составляет 0,5 мм. Затравливание проводят на затравочную пластину 14 х 14 мм ниобата лития толщиной 5 мм при температуре расплава 1270 С. При затравливании пластина полностью покрывает торец формообразователя, что приводит к замыканию обьема воздуха под пластиной. Подъем затравки осуществляют со скоростью 10 мм/ч. На начальном этапе выращивают трубу, которая после поднятия расплава под пластиной-затравкой (подъем расплава происходит за счет перепада между атмосферным давлением и давлением под пластиной) до его верхних кромок схлопывается в стержень. Дальнейшее вытягивание приводит к росту монолитного стержня. Длина начального участка в виде трубы составляет 10 — 12 мм. Выращено 7 стержней длиной 40 — 80 мм хорошего качества (внутренняя часть кристаллов свободна от пузырей и включений второй фазы).

Пример 2. Аналогично примеру 1 выращивают кристаллы молибдата гадолиния на воздухе из платинового тигля диаметром 50 мм, высотой 50 мм и толщиной стенки 3 мм с применением платинового формообразователя. Формообразователь изготовлен иэ листовой платины толщиной

1 мм, капиллярный зазор для подачи расплава к верхним кромкам формообразователя составляет 0,4 — 0,6 мм. Сечение формообразователя представляет собой прямоугольник 10х14 мм с закругленными углами. Затравливание проводят на затравочную пластину 14х12 мм молибдата гадолиния толщиной 4 мм при температуре расплава 1170 С. Затравочная пластина при эатравливании полностью покрывает торец формообразователя, что приводит к замыканию объема воздуха под пластиной.

Скорость вытягивания составляет

8-10 мм/ч. Длина полойчастикристалла от затравки до места схлопывания составляет 6 — 10 мм. Выращено 5 кристаллов молибдата гадолиния 90 -ориентации длиной до

70 мм хорошего качества (внутренняя часть кристаллов свободна от пор и включения второй фазы).

Данным способом можно выращивать

5 профилированные монолитные кристаллы сечением в виде круга, квадрата, многогранника и др. хорошего качества при одновременной экономии материала формообразователя.

Формула изобретения

Способ выращивания профилированных кристаллов сложных оксидов, включающий затравливание и вытягивание на

15 затравку из столба расплава на торце формообразователя, погруженного в тигель, в ростовой камере, отличающийся тем, что, с целью повышения качества монолитных кристаллов за счет уменьшения

20 влияния поверхности формообразователя, затравку берут в виде пластины и затравливание ведут по всему периметру трубчатого формообразователя с образованием полого замкнутого объема под пластиной

25 при давлении в камере не менее 0,2 атм.

Z . "Г

7 .Т

1f . !I I, 1 <, Ь(г. 2! — и23

1691433

Составитель Е, Писарева

Техред М.Моргентал Корректор М. Демчик

Редактор М. Петрова

Производственно"издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101

Заказ 3909 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж 35; Раушская наб., 4/5

Способ выращивания профилированных кристаллов сложных оксидов Способ выращивания профилированных кристаллов сложных оксидов Способ выращивания профилированных кристаллов сложных оксидов Способ выращивания профилированных кристаллов сложных оксидов Способ выращивания профилированных кристаллов сложных оксидов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к способу получения монокристаллов молибдата свинца и позволяет увеличить размеры и улучшить качество монокристаллов

Изобретение относится к термообрабс |Тке сцинтилляционных кристаллов , которые могут быть использованы лл гаммарегистрации и спектрометрии квантов

Изобретение относится к способу получения монокристаллов германата висмута со структурой эвлитина и позволяет сократить длительность процесса и уменьшить загрязнение расплава и кристаллов и коррозию тигля

Изобретение относится к технологии получения монокристаллов соединений со структурой эвлитина, в частности монокристаллов ортогерманата висмута Bi4Ge3O12, которые широко используются в качестве сцинтилляционных детекторов гамма-излучения, электронов, мезонов и других элементарных частиц в ядерной физике, гамма-астрономии, космических исследованиях, геофизике (гамма-каротаж скважин при разведке месторождений полезных ископаемых), в ядерной медицине (рентгеновская и позитронная компьютерная томография)

Изобретение относится к получению монокристаллов (SB<SB POS="POST">1-X</SB>BI<SB POS="POST">X</SB>) NBO<SB POS="POST">4</SB>, где X = 0,1 - 0,3, и может быть использовано в пьезоэлектрической, пироэлектрической технике, а также в химической технологии для создания композиционных материалов

Изобретение относится к электронной технике, а именно к полупроводниковой технологии, и может быть использовано для стравливания слоев сегнетоэлектриков, конкретно ниобата бария-стронция

Изобретение относится к технологии получения монокристаллов стибио-танталата калия и может быть использовано в пъезотехнике

Изобретение относится к области электроники, в частности к методам изготовления приборов на твердом теле с использованием ниобата лития

Изобретение относится к неорганической химии и может быть использовано для химической обработки подложек ниобата и танталата лития

Изобретение относится к исследованию доменной структуры ниобата лития путем химического травления, может быть использовано при изучении реальной структуры монокристаллов

Изобретение относится к обработке кристаллов танталата лития методом травления, в частности к исследованию реальной и доменной структуры кристаллов методам оптической и электронной микроскопии

Изобретение относится к технологии получения сегнетоэлектрических монокристаллов, которые могут быть использованы в пьезотехнике

Изобретение относится к технологии получения кристаллов оксидных высокотемпературных сверхпроводников (ВТСП), содержащих достаточно крупные моноблоки, пригодные для комплексных прецезионных физических исследований в области физики ВТСП, и обеспечивает получение в кристаллах моноблоков размером более 1x1x0,1 мм&deg;
Наверх