Шихта для выращивания монокристаллов на основе бариевого гексаферрита

 

Изобретение относится к получению ферромагнитных монокристаллических материалов с гексагональной структурой, применяемых в электронике. -MFe12O19 , где М = Ba, Sr, Ba-Sr, которые используют в качестве высокодобротных резонаторов в СВЧ-приборах миллиметрового диапазона. Обеспечивает ускорение процесса и повышение выхода годных сфер для резонаторов за счет снижения анизотропии механических свойств в кристаллах. Шихта для выращивания из раствора в расплаве имеет следующий состав, мас.%: Fe2O3 - 36,52-40,66, BaCO3 - 7,54-8,40, CaCO3 - 2,83-3,11, MnCO3 - 0,94-1,04, NaBiO3 - остальное. Получены монокристаллы Ba0.88, Bi0.05 , Na0.04 , Ca0.07 , Mn0.25 , Fe11.80 , O19 . Выход годных сфер с магнитной добротностью H 35 Э составил 40-55%, а с отклонением от округлости 5 % выход - 90-95%. 2 табл.

Изобретение относится к получению ферромагнитных магнитокристаллических материалов с гексагональной структурой, применяемых в электронной технике. Объемные монокристаллы данного класса материалов с общей формулой MFe12O19 (где M = Ba,Sr,Ba-Sr) используют в качестве высокодобротных резонаторов в СВЧ приборах миллиметрового диапазона. Резонаторы представляют собой полированные сферы, характеризуемые добротностью и отклонением от круглости не более 5%. Основным методом получения монокристаллов гексаферритов является метод высокотемпературной кристаллизации, при этом шихта для выращивания монокристаллов содержит в качестве легкоплавкого растворителя эвтектическую смесь BaO-B2O3. При выращивании направленной кристаллизацией на затравках шихта содержит 35-40 мас.% кристаллообразующих окислов. В случае спонтанной кристаллизации содержание кристаллообразующих окислов в шихте достигает 45-50 мас.%. За прототип выбран состав шихты, позволяющий оценить влияние исходного состава шихты на качество кристаллов в условиях одного и того же метода получения, а именно, метода спонтанной кристаллизации при снижении температуры. Исходные компоненты по прототипу берутся в следующих соотношениях, мас. % : Барий углекислый 51,74-55,25 Оксид железа 33,56-38,10 Оксид бора 10,16-11,19 Эта шихта имеет существенные недостатки: 1) кристаллизация из нее, из-за физико-химических особенностей раствор-расплава (большая вязкость, узость метастабильной зоны), проходит при низких скоростях охлаждения последнего (0,1-0,5о/ч), что делает процесс кристаллизации очень длительным ( 60 суток) и приводит к повышению требований стабильности и прецизионности работы кристаллизационного оборудования; 2) монокристаллы гексаферритов, выращенные из бор-бариевого растворителя, имеют выраженную анизотропию механических свойств (микротвердость грани (0001) по направлению [1120] - 1000 кг/мм2, а по направлению [1100] - 900 кг/мм2), которая проявляется в скалывании монокристаллических заготовок по плоскостям спайности в процессе абразивной обработки, что приводит к значительным потерям монокристаллического материала; 3) кроме того, по этой же причине снижается и процент выхода годных сфер по геометрии: требованию по отклонению от круглости 5% отвечает только 23% от общего числа полученных сфер. Отклонение от круглости сферического резонатора, т.е. в этом случае речь идет уже о эллипсоиде, малая ось которого совпадает с направлением [0001] , может привести к возбуждению магнитостатических типов колебаний, которые ухудшают избирательность СВЧ приборов. Последние два обстоятельства обусловлены, во-первых, особенностями структуры кристалла гексаферрита, а, во-вторых, большим содержанием в нем бора (n10-2 мас.%). Можно предположить и существование плоскостных кластеров [BO3]3-, которые могут создавать условия сильнейших напряжений между плоскостями (0001) решетки и являться одной из причин усиления анизотропии механических свойств монокристаллов гексаферрита. Цель изобретения - ускорение процесса и повышение выхода годных сфер для резонаторов за счет снижения анизотропии механических свойств в кристаллах. Цель достигается изменением состава шихты, а именно, исключением из состава шихты оксида бора и использованием в качестве растворителя висмутата натрия NaBiO3. Дополнительно в состав шихты вводятся карбонаты кальция CaCO3 и марганца MnCO3. Использование в качестве растворителя висмутата натрия вместо бор-бариевого растворителя за счет изменения характера концентрационной зависимости раствор-расплава от температуры позволяет в 2 раза повысить скорость охлаждения (0,5-1,0о/ч) и, как следствие, в 2 раза сократить цикл выращивания и значительно снизить требования прецизионности работы кристаллизационного оборудования. Кроме того, исключение бора из примесного состава выращиваемого монокристалла гексаферрита обусловливает снижение анизотропии механических свойств последнего за счет уменьшения дефектности плоскостей скольжения (0001), в результате чего существенно уменьшается вероятность скалывания монокристалла во время абразивной обработки и увеличивается выход годных сфер. Однако при использовании в качестве растворителя висмутата натрия естественное вхождение в кристалл ионов висмута Bi3+ и натрия Na1+, что, в свою очередь, приводит к нарушению электронейтральности кристаллической решетки и образованию ионов двухвалентного железа Fe2+. Последние относятся к быстрорелаксирующим ионам и существенно ухудшают магнитную добротность материала ( Н) наряду с ионами Bi3+ и Na1+. Присутствие в шихте углекислого кальция в значительной степени препятствует этому за счет снижения содержания висмута и натрия в кристалле в среднем в два раза. Снижению содержания ионов Fe2+ в растущем кристалле способствует и углекислый марганец MnCO3 за счет протекания в раствор-расплаве окислительно-восстановительной реакции Fe2+ + Mn3+ Fe3+ + Mn2+. Что касается количественного содержания в шихте перечисленных соединений, то оно обусловлено следующим. При содержании в шихте висмутата натрия более 51,79 мас.% кристаллизация выходит из области гексаферрита (см.табл.2, пример 5). При выходе за нижний предел содержания NaBiO3 возрастет температура выращивания (более 1300оС) и за счет повышения растворимости материала тигля в расплаве и ухудшения микроструктуры кристалла снижается магнитная добротность материала. При введении углекислого кальция в количестве менее 2,83 мас.% содержание в кристалле примесных ионов висмута и натрия снижается незначительно и, как следствие, кристаллы имеют низкую магнитную добротность. Увеличение в составе шихты содержания углекислого кальция сверх предлагаемого, не приводя к дальнейшему ограничению висмута и натрия в растущем кристалле, снижает общий весовой выход кристаллов в опыте. При содержании углекислого марганца за пределами указанных количеств неполностью стабилизируется состояние электронейтральности кристаллической решетки, в результате чего снижается магнитная добротность материала. П р и м е р ы. Шихту готовили из исходных компонентов BaCO3, Fe2O3, NaBiO3, CaCO3и MnCO3. После вибропомола навески в платиновом тигле емкостью 100 мл помещали в печь для выращивания. Печи нагревали до 1300-1350оС со скоростью 30о/ч, время выдержки при максимальной температуре составляло 10 ч. Охлаждение раствор-расплава проводили со скоростью 1о/ч до 1000оС, затем 50о/ч до 800оС, после чего печь отключали. Из застывшего раствор-расплава монокристаллы извлекали выплавлением при 1000оС и последующим кипячением в разбавленной азотной кислоте. Полученные кристаллы имели гексагональную форму. Из монокристаллических заготовок кубической формы механической обработкой изготовляли сферы диаметром 0,4-0,5 мм. Полированные сферы контролировались по геометрическому размеру и отклонению от круглости. Магнитную добротность сфер контролировали изменением ширины кривой ферромагнитного резонанса ( Нэ) на частоте f - 50-54 ГГц. В табл. 1 представлены состав шихты и параметры процесса, а в табл.2 - составы полученных кристаллов. Из данных, представленных в табл.1, видно, что предлагаемая шихта для выращивания монокристаллов гексаферритов позволяет существенно упростить процесс выращивания монокристаллов состава BaFe12O19 за счет возможности проведения процесса при скорости снижения температуры 0,5-1о/ч против 0,1-0,5о/ч, что сокращает время выращивания в 2 раза и снижает требования прецизионности и надежности используемого кристаллизационного оборудования. Кроме того, исключение из примесного состава кристалла бора позволяет снизить анизотропию механических свойств, проявляющуюся при изготовлении сферических резонаторов. Так, ранее выход годных сфер с отклонением от круглости 5% из монокристаллов гексаферритов не превышал 25%, в то время, как из монокристаллов, полученных из предлагаемого состава шихты, выход сфер с минимальным отклонением от круглости в 3-3,5 раза больше. Несмотря на то, что по сравнению с прототипом выход сфер с требуемой магнитной добротностью ( Н 35 Э) падает, общий выход годных сфер, т.е. с учетом и магнитной добротности, и степени отклонения от сферичности, увеличивается в 1,5-2 раза.

Формула изобретения

ШИХТА ДЛЯ ВЫРАЩИВАНИЯ МОНОКРИСТАЛЛОВ НА ОСНОВЕ БАРИЕВОГО ГЕКСАФЕРРИТА, BaFe12O19, из раствора в расплаве, содержащая BaCO3 и Fe2O3 отличающаяся тем, что, с целью ускорения процесса и повышения выходных годных сфер для резонаторов за счет снижения анизотропии механических свойств в кристаллах, шихта дополнительно содержит NaBiO3, CaCO3 и MnCO3 при следующем соотношении компонентов, мас.%: Fe2O3 36,52 - 40,66 BaCO3 7,54 - 8,40 CaCO3 2,83 - 3,11 MnCO3 0,94 - 1,04
NaBiO3 Остальное

РИСУНКИ

Рисунок 1, Рисунок 2



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к монокристаллическим ферритовым материалам, используемым для создания твердотельных СВЧ-приборов, работающих в диапазоне сантиметровых длин волн 9 30 ГГц

Изобретение относится к технологии получения кристаллов оксидных высокотемпературных сверхпроводников (ВТСП), содержащих достаточно крупные моноблоки, пригодные для комплексных прецезионных физических исследований в области физики ВТСП, и обеспечивает получение в кристаллах моноблоков размером более 1x1x0,1 мм°

Изобретение относится к области получения щелочно-галоидных кристаллов высокой степени чистоты, широко используемых в фундаментальных исследованиях в качестве термолюминесцентных дозиметров ядерных излучений, лазерных сред, сред для записи информации

Изобретение относится к физике твердого тела, геофизике и геохимии и может быть использовано для облагораживания кристаллов природного флюорита с последующим их использованием в гравильноювелирной и ювелирно-декоративной промышленности, а также в качестве фильтров в оптике

Изобретение относится к химии и касается способа получения просветляющих фторидных покрытий, имеющих чрезвычайно высокую границу прозрачности, что позволяет их использовать в оптических приборах одновременно в УФ- и ИК-областях, обеспечивает улучшение качества покрытий и увеличение скорости процесса

Изобретение относится к способам спонтанного получения мелкокристаллического монойодида меди и может быть использовано в различных областях неорганической химии, например как исходное сырье для создания композиционных материалов, в состав которых входил бы Cul, в акустооптике, пьезотехнике, в лазерной и сверхпроводниковой технике

Изобретение относится к электронной технике и позволяет улучшить оптическое качество кристаллов, увеличить производительность и повысить выход годных элементов

Изобретение относится к области выращивания кристаллов, конкретно щелочногалоидных кристаллов йодистого цезия, и позволяет уменьшить пластичность кристаллов

Изобретение относится к технологии получения кристаллического , который может быть использован в неорганической химии, акустооптике , пьезотехнике

Изобретение относится к сцинтилляционному материалу на основе монокристалла Csl и позволяет расширить диапазон регистрируемых излучении, температурный интервал использования и повысить световой выход Материал содержит CsCO при следующем соотношении компонентов, мас.%: CsC03 i.6«10 2M8 10 2); Csl остальное

Изобретение относится к области выращивания активированных монокристаллов и может быть использовано при производстве сцинтилляторов, применяемых в приборостроении для ядерных, космических, геофизических исследований, для медицинской и промышленной компьютерной томографии
Наверх