Устройство для магнитного контроля

 

Изобретение относится к области магнитной дефектоскопии. Целью изобретения является повышение достоверности контроля за счет использования электронной техники и оптопары. Для достижения цели устройство имеет оптопару с массой, снабженной округлыми отверстиями, диаметры которых не превышают диаметров шариков, закрепленных на концах нитей, и на поверхность которых закреплен ферромагнитный материал. 1 ил.

СО!ОЭ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (st)s G 01 N 27/85

ГОСУДАРСТВЕННОЕ ПАТЕНТНОЕ

ВЕДОМСТВО СССР (ГОСПАТЕНТ СССР) ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4859222/28 (22) 28.05,90 (46) 30.11,92. Бюл. N. 44 (71) Могилевский машиностроительный институт (72) А.М. Шарова, Г.И. Скрябина, С,В. Москалев и С.И. Выборненко (56) Патент Японии М 53-2596, кл. G 01 N 27/85, 1978.

Авторское свидетельство СССР

М 1608777, кл, G 01 N 27/85, 1988.

Изобретение относится к области магнитной дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества изделий, изготовленных из ферромагнитных материалов.

Известно устройство для магнитного контроля, представляющее собой магнитный дефектоскоп, содержащий П-образный электромагнит, сканирующий по поверхности исследуемого объекта, в котором расположена вращающаяся токовая рамка, находящаяся в поле собственного электромагнита и имеющая рычаг, размещающийся вблизи исследуемой поверхности. В местах пучности силовых линий, соответствующих наличию дефектов, рычаг отклоняется, чтс вызывает появление тока в обмотке собственного электромагнита токовой рамки.

Недостатком указанного устройства является то, что оно обладает низкой достоверностью контроля при выявлении дефектов небольшой величины в связи с тем, что на, личие вращающейся рамки и рычага увеличивает вес подвижной части устройства, а следовательно, магнитные поля небольших

„„ЯХ„„17786б9 А1 (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ МАГНИТНОГО

КОНТРОЛЯ (57) Изобретение относится к области магнитной дефектоскопии. Целью изобретения является повышение достоверности контроля за счет использования электронной техники и оптопары. Для достижения цели устройство имеет оптопару с массой, снабженной округлыми отверстиями, диаметры которых не превышают диаметров шариков, закрепленных на концах нитей, и на поверхность которых закреплен ферромагнитный материал. 1 ил. дефектов не смогут осуществить поворот вращающейся рамки, Наиболее близким по технической сущности и достигаемому результату к изобретению является устройство магнитного контроля, содержащее корпус, к которому крепятся нити-индикаторы с ферромагнитным материалом на концах.

Недостатком устройства является невозможность осуществления контроля изделий, находящихся вне зоны непосредственного визуального наблюдения оператора и низкая достоверность контроля на труднодоступных для осмотра участка изделия.

Целью изобретения является повышение достоверности контроля.

Цель достигается тем, что устройство для магнитного контроля, содержащее немагнитный корпус, закрепленные в нем нити-индикаторы, ферромагнитный материал и источник магнитного поля, снабжено шариками, закрепленными на концах нитей, на поверхность которых нанесен ферромагнитный материал, и открытой оптопарой, 1778669 имеющей маску с круглыми отверстиями, диаметры которых не превышают диаметров шариков, причем нити расположены не менее, чем в два ряда таким образом, что оси шариков и отверстий маски совпадают, 5 источник поля выполнен в виде П-образного магнита, а корпус размещен в межполюсном пространстве.

На фиг. 1 представлена функциональная схема устройства; на фиг. 2 — общий вид 10 устройства.

Устройство состоит из П-образного магнита 1, сканирующего по поверхности иэделия 2, в межполюсном пространстве магнита, расположен корпус 3 из немагнитного мате- 15 риала с расположенными в нем не менее, чем в два ряда нитями с закрепленными на них шариками 4, на поверхность которых нанесен ферромагнитный материал, Устройство содержит также открытую оптопа- 20 ру, содержащую источник 5 света, маску 6 с круглыми отверстиями, диаметры которых не превышают диаметров шариков, и фотоприемники 7. Причем источник 5 света и маска 6 расположены с одной стороны от 25 шариков 4, а фотоприемники? — с другой таким образом, что в случае отсутствия дефектов в изделии 2 оси шариков и оси отверстий маски совпадают. Выходные сигналы фотоприемников 7, появляющиеся из-за от- 30 клонения шариков от исходного положения при прохождении над дефектом, через усилитель 8 подаются на расположенные на любом расстоянии световой 10 или звуковой 9 индикаторы, 35

Устройство работает следующим образом. При сканировании магнитом 1, создающим равномерное магнитное поле W< на поверхности изделия 2; закрепленные на корпусе 3 нити-индикаторы с ферромагнит- 40 ными шариками 4 расположены при отсутствии дефектов вертикально вследствие равномерности магнитного поля. Создаваемый источником света 5 поток Ф преобра) эуемый маской 6 в равное числу отверстий маски число световых потоков Ф, Фг, ... Ф, не попадает на фотоприемники (фотодиоды)

7, так как шарики закрывают находящиеся с ними на одной оси отверстия маски, На выходе фотоприемников сигнал отсутствует.

При наличии дефекта магнитное поле искажается, поэтому ферромагнитные шарики 4 отклоняются, притягиваясь к месту пучности магнитных силовых линий над дефектом, световые потоки при этом достигают фотоприемников 7, их выходной сигнал i через усилитель 8 подается на расположенные на произвольном расстоянии звуковой

9 и световой 10 индикаторы, Применение предлагаемого устройства позволяет повысить достоверность магнитного поля в труднодоступных для визуального наблюдения местах.

Формула изобретения

Устройство для магнитного контроля, содержащее немагнитный корпус, закрепленные в нем нити-индикаторы, ферромагнитный материал и источник магнитного поля, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения достоверности контроля, оно снабжено шариками, закрепленными на концах нитей, на поверхности которых нанесен ферромагнитный материал, и открытой оптопарой, имеющей маску с округлыми отверстиями, диаметры которых не превышают диаметров шариков, нити расположены не менее, чем в два ряда таким образом, что оси шариков и отверстий маски совпадают, источник поля выполнен в виде П-образного магнита, а корпус размещен в его межполюсном пространстве.

1778669

Составител ь С. B ы бор нен ко

Техред М.Моргентал Корректор Е. Папп

Редактор

Заказ 4189 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГК (Т СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101

Устройство для магнитного контроля Устройство для магнитного контроля Устройство для магнитного контроля 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к неразрушающему контролю магнитографическим методом и может быть использовано при контроле качества соединений, выполненных сваркой плавлением, изделий, содержащих технологические выступы в зоне сварного соединения и другие детали, ограничивающие доступ к сварному шву и исключающие симметричное расположение намагничивающего устройства относительно продольной оси шва

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано при контроле качества сварных соединений

Изобретение относится к магнитной дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества сварных швов

Изобретение относится к неразрушающему контролю магнитопорошковым методом дефектоскопии

Изобретение относится к дефектоскопии магнитографическим методом и может быть использовано при контроле стыковых сварных соединений изделия из ферромагнитных материалов Целью изобретения является повышение чувствительности контроля

Изобретение относится к электромашиностроению , в частности к электрическим машинам и аппаратам, у которых требуется проводить контроль материала магнитопровода после термической обработки

Изобретение относится к магнитографической дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества сварных швов

Изобретение относится к магнитной дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества сварных соединений изделий из ферромагнитных материалов

Изобретение относится к области магнитографической дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества изделий из ферромагнитных материалов, например гибов труб, шеек коленчатых валов, фасонных изделий, несущих конструкций и т.д

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля и может быть использовано для дефектоскопии ферромагнитных лент и пластин

Изобретение относится к области неразрушающего магнитографического контроля труб и изделий трубчатой формы, в частности литых чугунных заготовок гильз цилиндров автомобилей

Изобретение относится к дефектоскопии магнитографическим методом и может быть использовано при контроле качества изделий из ферромагнитных материалов

Изобретение относится к магнитографическому методу неразрушающего контроля стыковых сварных соединений
Изобретение относится к магнитографическому методу неразрушающего контроля

Изобретение относится к магнитографическому методу неразрушающего контроля стыковых сварных швов

Изобретение относится к магнитографическому методу неразрушающего контроля

Изобретение относится к магнитографическому контролю изделий с поверхностью малой кривизны и сварных швов со снятым усилением из магнитомягких сталей (с коэрцитивной силой меньше 10 А/см)
Наверх