Двухлучевой интерферометр

 

200226

1

Л

/ 1 /

11 12 Ф

Соста атель И. И. !!еоосклонова

Редактор И. С, Грузова Тсхред T. !1. Курилко Коррскто;: E. H. Гудзона

Заказ З074,18 Тирагк 335 Подии иое

Ц!!И! 1!1Ы Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Центр, пр. Серова, д. 4

Типографии, пр. Сапунова, 2 ки 8, и в результате этого возникает картина муаровых полос, по виду которой можно судить о величине деформации модели.

Таким образом, в приемной части 18 устройства одновременно наблюдаются муаровые и интерференционные полосы, что дает возможность одновременно определять взаимозависимые параметры обтекания и деформации модели.

Предмет изобретения

Двухлу чевой интерферометр, содержащий осветительную систему, ветвь сравнения, рабочую ветвь, в которой установлена камера с исследуемой газовой неоднородностью и прозрачной моделью, и регистрирующую систему, ОтггиЧагОЩийСЯ тЕМ, ЧтО, С ЦЕЛЬЮ ОДНОВРЕМЕНного исследования параметров газового потока и напряженного состояния модели путем совместного наблюдения муаровых и интерференционных полос, в осветительной системе в плоскости, сопряженной с плоскостью модели, установлена оптическая прозрачная решетка, создающая муаровую картину.

2ОО226

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

Кл. 42 и, 34!11 а явлено 21.Х.1966 (№ 1108515 26-25) с присоединением заявки №

МЛК б 02d

l) ÄK 535.411(ОЬ8.8) Приоритет

Опубликовано 29,Ъ Н.1967. Бюллетень ¹ 16

Дата опубликования описания 4.Х.1967

Комитет по делам изобретеиий и открытий при Совете Мииистров

СССР

Ф ° У

Авторы и .îáðåòåíèÿ

В. И. Константинов и А. И. Харитонов

Заявитель

ДВУХЛУЧЕВОЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР стройство относится к оптическим приборам для определения параметров обтекания и деформации модели, например, в аэродинамических установках.

Известны двухлучевые интерферометры (типа Маха-Цендера), содержащие осветительную систему, ветвь сравнения, рабочую ветвь, в которой установлена камера с исследуемой газовой неоднородностью, и регистрирующую систему.

Предложенное устройство отличается от известных тем, что в его осветительной системе в плоскости, сопряженной с плоскостью»одели, установлена оптическая прозрачная решетка, создающая муаровую картину.

Зто позволяет проводить одновременное исследование параметров газового потока и напряженного состояния модели путем совместного наблюдения муаровых и интерференционHbIx полос.

На чертеже изображена схема предложенного устройства.

Свет от источника света 1 с помощью конденсора 2 преобразуется в параллельный пучок, проходит оптическую прозрачную решетку 8, установленную в плоскости, сопряженной с плоскостью прозрачной модели 4, и через линзу 5, диафрагму б, конденсор 7 попадает на светоделительную пластину 8. После светоделительной пластины 8 свет раснространяется IlG двум оптическим ветвям ннтерферометра. Ветвь сравнения образуется оптическими элементами 8, 9, 10, а другая рабочая ветвь — оптическими элементами 8, 11, 10.

5 Световые пучки, распространяющиеся по двум ветвям интерферометра, проходят через полупрозрачную пластину 10 и интерферируют между собой. Интерференционная картина, локализованная в плоскости прозрачной мо10 дели 4, расположенной в камере 12 с исследуемой, неоднородностью, наблюдается в приемной части 13. При воздействии на модель 4 газового потока в приемной части 18 интерференционная картина изменяется вне

15 прозрачной модели 4. Внутри модели 4 интерференционная картина не наблюдается из-за большой разности хода между интерферирующими лучами, возникающей при прохождении света через прозрачную модель 4. По нз20 менению интерференционной картины определяются параметры газового потока впе модели.

Воздействие газового потока на модель 4 в камере 12 с газовой неоднородностью вызы25 вает ее деформацию и, следовательно, искажение одного из изображений оптической прозрачной решетки 8. В приемной части 18 устройства происходит наложение искаженного (в рабочей ветви) и неискаженного (в вет30 ви сравнения) изображений оптической решет

Двухлучевой интерферометр Двухлучевой интерферометр 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для измерения с высокой точностью показателей преломления изотропных и анизотропных материалов
Наверх