Устройство для испытания импульсных модуляторных ламп

 

0 l1 И С А H И Е 272443

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Соеетскиих

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

Кл. 21g, 13/50

Заявлено 29.Х1.1968 (№ 1286616/26-25) с присоединением заявки Ж

Приоритет

Комитет па делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР.ЧПК Н Olj

УД К 621.3.082.7 (088.8) Опубликовано 03.VI.1970. Бюллетень ¹ 19

Дата опубликования описания 11.1Х.1970

Автор изобретения

В. К. Попов

Заявитель

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИСПЫТАНИЯ ИМПУЛЬСНЫХ

МОДУЛЯТОРНЫХ ЛАМП

Изобретение относится,к устройствам для испытания импульсных модуляторных ламп с целью оценки их работоспособности и электропрочности в передатчиках с пробиваемой н а груз кой.

Известные устройства не обеспечивают проведения длительных испытаний модуляторных лам п.

Предлагаемое устройство отличается тем, что параллельно активному сопротивлению нагрузки подключен импульсный водородный тиратрон, закорачивающий нагрузку при пробоях модуляторных ламп при поступлении серии импульсов.

На чертеже приведена принципиальная схема предлагаемого устройства.

Устройство для испытания импульсных модуляторных ламп, выполненное по схеме модулятора с частичным разрядом накопительного конденсатора 1, содержит задающий генератор 2, подсоединенный к генератору 8 пачек импульсов и подмодулятору 4, записывающий осциллограф 5, счетчик пробоев б, клеммы для подключения испытуемой импульсной модуляторной лампы 7 (ИМЛ), используемой в устройспве в:качестве коммутирующего элемента модулятора, нагрузку 8 в виде активного сопротивления, параллельно которому подключен импульсный водородный тиратрон 9, закорачивающий нагрузку при пробоях модуляторных ламп при поступлении серии импульсов.

Принцип работы устройства следующий.

В случае полного пробоя испытуемой лам5 пы 7 падение напряжения на катодном сопротивлении 10 превышает напряжение компенсирующего источника 11. Напряжение сопротивления 10 через диод 12 подается на генератор 18,поджигающих импульсов, который.

10 поджигает тиратрон 9, включенный параллельно нагрузке 8. В результате нагрузка оказывается закороченной, и накопительный конденсатор 1 разряжается через лампу 7, ограничительное сопротивление 14 и тиратрон 9.

15 B случае частичного пробоя лампы на сопротивлении 15 выделяется положительное напряжение, которое через диод 1б также подается на вход генератора 18. Тпратрон поджигается и закорачивает нагрузку 8.

20 Необходимая величина тока пробоя может быть установлена подбором величины сопротивления 14 в цепи анода лампы 7. Так имитируются пробои магнетрона, вызванные IlpOбоями модуляторной лампы.

25 Для имитации затяжных самопроизвольных пробоев магнетрона в схеме имеется генератор 8 пачек импульсов, синхронизируемый от того же задающего генератора 2, что и подмодулятор 4 испытуемой лампы. Генератор 8

30 вырабатывает пачки с количеством импуль272443

Редактор Т. 3. Орловская

Тсхред Т. П. Еурилко Корректор В. И. Жолудева

Заказ 2513/13 Тираж 480 Подписное

LIHIIIIHI4 Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, К-35, Раушская аб., д. 4)5

Типография, пр. Сапунова, 2 сов, примерно соответствующим количеству импульсов пробоя при затяжном зпробое магнетрона ()5 — 25 импульсов). Частота следования пачек выбирается в соответствии с заданным количеством искрений (пропусков) импульсов на магнетроне (0,05 — 0,5о/о от количества рабочих импульсов). В результате лампа периодически работает на закороченную нагрузку.

Таким образом, режим испытаний ИМЛ в схеме максимально приближен к режиму работы пробиваемого магнетрона, в то же время заданная .периодичность пробоев нагрузки делает испытания однозначными во времени для любого экземпляра ламп.

В описываемом устройстве можно оценивать реальную электропрочность и долговечность

ИМЛ при заданном токе двустороннего пробоя и заданной интенсивности пробоев нагрузки.. Для регистрации количества пробоев в схему под ключен счетчик б пробоев (например, типа Л1-10), для измерения амплитуды тока при пробое предусмотрен осциллограф 5 с длительной памятью (например, типа С1-29).

Испытания могут проводиться либо кратковременно для оценки электропрочности (5—

15 лия):либо длительно — на срок службы, По результатам испытаний определяют допустимый ток двустороннего пробоя при заданной долговечности и электропрочности ИМЛ.

Результаты испытаний ИМЛ типа ГМИ-8319 показали, что при токе двустороннего пробоя

250 †3 а (в некоторых передатчиках РЛС) лампы дают большое количество пробоев (в среднем один пробой на лампу в минуту) и часть их быстро выходит из строя, проработав

10 — 30 час.

При токе пробоя 100 — 1500 а лампы работают более стабильно (0,08 пробоя на лампу

10 в минуту). Испытательная схема работает стабильно.

Предмет изобретения

Устройство для испытания импульсных мо15 дуляторных ламп, выполненное по схеме модулятора с частичным разрядом накопительной емкости, содержащее задающий генератор, подсоединенный к генератору, пачек импульсов и подмодулятору, записывающий ос20 циллограф, счетчик проооев, клеммы для подключения испытуемой импульсной модуляторной лампы, используемой в устройстве в качестве коммутирующего элемента модулятора, нагрузку в виде активного сопротивления, от25 —,тичаюгцееся тем, что, с целью оценки работоспособности импульсных модуляторных ламп с,пробиваемой нагрузкой, параллельно активному сопротивлению нагрузки подключен импульсный водородный тиратрон, закорачиваю30 щий нагрузку при пробоях модуляторных ламп при поступлении серии импульсов.