Способ измерения перемещений интерференционных полос оптически чувствительных датчиков с линейной замороженной деформацией

 

2910 92

ОП ИСАН И Е

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 29.Х.1969 (¹ 1375602/25-28) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 061.1971. Бюллетень № 3

Дата опубликования описания 17.П.1971

МПК G Olb 11/18

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

УДК 531.781.2(088.8) Автор изобретения

Г. Д. Радченко

Научно-исследовательский институт строительных конструкций

Заявитель

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПЕРЕМЕЩЕНИЙ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫХ ПОЛОС ОПТИЧЕСКИ ЧУВСТВИТЕЛЬНЫХ ДАТЧИКОВ

С ЛИНЕЙНОЙ ЗАМОРОЖЕННОЙ ДЕФОРМАЦИЕЙ

Предмет изобретения

Изобретение относится к области измерения относительных деформаций при исследовании деталей машин или строительных конструкций.

Известен способ измерения перемещений интер ференционных полос оптически чувствительных датчиков с линейной замороженной деформацией и применением фотографирования картины интерференционных полос на каждом этапе нагружения.

Предлагаемый способ отличается от известного тем, что негативы фотографируют и по микрофотограммам определяют величины перемещений максимумов, соответствующих центрам и нтерференционных полос. Это значительно увеличивает точность измерения.

Негативы, сфотографированные на каждом этапе нагружения датчиков с картиной полос, фотометрируют, например на микронометрах

МФ-2 и МФ-4. Режимы фотометрирования выбирают такими, чтобы максимумы фототока, соответствующие полосам интерференции, имели острые пики, а вся микрофотограмма — максимальную длину. На каждой из получен ных таким образом микрограмм выполняют с помощью миллиметровой линейки два измерения: а) общую длину L микрофотограммы; б) расстояние от какого-либо фиксированноr0 конца микрофотограммы до максимума, соответствующего наблюдаемой полосе l.

Перемещение полосы определяют по формуле: где Й вЂ” длина оптически чувствительного датчика, 1т+т, l — расстояния от конца микрофотограммы до центра наблюдаемой полосы соответственно на

i+1 и i этапах нагружения, ,+ь L; — общая длина микрофотограммы, соответственно на i+1 и т этапах нагружения.

20 Способ измерения перемещений интерференционных полос оптически чувствительных датчиков с линейной замороженной деформацией с применением фотографирования картины интерференционных полос на каждом этапе на25 гружения, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения, негативы фотографируют и по микрофотограммам определяют величины перемещений максимумов, соответствующих центрам интерференционных п030 лос,

Способ измерения перемещений интерференционных полос оптически чувствительных датчиков с линейной замороженной деформацией 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к определению деформаций деталей и образцов оптическими методами
Изобретение относится к устройствам, используемым в электронной технике, при действии сильных электрических полей
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к области измерения деформации объектов

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может быть использовано для обнаружения неплоскостности свободной поверхности жидкости

Изобретение относится к области определения координат точек и ориентации участков поверхности тела сложной формы

Изобретение относится к горному и строительному делу и может использоваться при измерениях параметров напряженно-деформированного состояния горных пород и массивных строительных конструкций с использованием скважинных упругих датчиков, а также при оценке контактных условий в технических системах, содержащих соосные цилиндрические элементы

Изобретение относится к способам исследования и контроля напряженно-деформируемых состояний, дефектоскопии и механических испытаний материалов

Изобретение относится к средствам измерения сил и деформаций тел
Наверх