Устройство для контроля интегральных микросхем

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик

<>708269 (61) Дополнительное к авт. саид-ву— (51) М. Кл.2 (22) Заявлено 260678 (21) 263 3413/24-21 с присоединением заявки IC (23) Приоритет —, G 01 R 31/28

Государственный комитет

СССР оо делам нзобретеннй н открытнй

Опубликовано 050180- Бюллетень Йо 1 (53) УДК 681.17 (088.8) Дата опубликования описания 08018 0 (72) Авторы

ИЗОбрЕтЕНИя Е. И. Николаев, Е. 3. Храпко и A Â . Горохов (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ИНТЕГРАЛЬНЫХ

ИИК РОСХ EM

Изобретение относится к измерительной технике, может быть использовано в системах контроля и диагности" ки неисправностей элементов радиоэлектронной аппаратуры.

Известно устройство для обнаружения неисправностей в логических схемах, содержащее счетчик, выходы которого соединены с блокам регистрации, эталонньм блоком и контролируемык блоком, соединяемьм своими выходами с соответствующими входами блока регистрации и блока сравнения, вторые входы которого подключены к выходам эталонного блока, а выходы .— к блокам индикации и регистрации.

Устройство содержит генератор управ,ляющих сигналов, тактовые выходы которого подключены к управляющим входам эталонного и контролируемого блоков, к соответствующим входам блока сравнения, блоков индикации и регистрации и к счетному выходу счетчика выход установки нуля генератора управляющих сигналов соединен с соответствующими входами счетчика, блока регистрации, эталонного и контроли. руемого блоков, а его входы — с выходами блока сравнения (1). 30

Это устройство не может быть использовано при диагностике цифровых узлов °

Наиболее близко к предлагаемому устройство для контроля интегральных микросхем, содержащее одноконтактный зонд, соединяемый с выводси контролируемой микросхемы, эталонную микросхему, блок сравнения и индикатор,,исправ ности (2 j., У этого устройства ограниченные функциональные воэможности.

Цель изобретения — РасшиРение функциональных возможностей — достигается благодаря тсиу, что в устройство для контроля интегральных микросхем, содержащее одноконтактный зонд, соединяемый с выводом контролируемой микросхемы, эталонную микросхему,. блок сравнения и индикатор исправности, введены блок памяти и коммутатор, причем. вход коммутатора соединен с одноконтактньм зондсм, а его выходы соединены со входами блока памяти, выходы которого соединены с соответствующими входами блока сравнения и эталонной микросхемы, выходы которой соединены с соответствующими входами блока сравнения, а выходы последнего

708269

Формула изобретения связаны со входом индикатора исправности.

На чертеже прив едена структурная электрическая схема устройства.

Установка тестового контроля 1 задает входные воздействия в виде двоичных кодов на входы контролируемого цифрового узла 2 и производит пока» нальное сравнение ответных реакций узла 2 с заранее известными наборами двоичных кодов.

Сигналы, поступающие. на входы контролируемой микросхемы 3 и снимаемые с ее выходов, при помощи одноконтактного зонда и коммутатора 4 записываются последовательно в блок памяти 5.

Запись информации в блок памяти 5 происходит в процессе прохождения тестовой программы для контроля цифроаого узла 2. За каждый полный цикл прохождения программы в блок памяти записывается информация с одного вывода контролируемой микросхемы 3.

После записи всех двоичных последовательностей со входов и выходов контролируемой микросхемы 3 происходит считывание информации из блока памяти 5, причем информация, соответствующая выходным каналам интегральной микросхемы 3, подается на входы эталонной микросхемы 6 и блока сравнения 7. Ответнйе сигналы с эталонной микросхемы 6 поступают на соответствующие входы блока сравнения

7. По результатам сравнения выходных сигналов эталонной микросхемы 6 и сигналов, записанных в блок памяти 5 с выходов контролируемой микросхемы

3, делается вывод о правильности функционирования контролируемой микросхемы 3.

Результаты поканального сравнения выводятся на индикатор исправности 8.

Предлагаемое устройство обеспечивает возможность диагностики интегральных микросхем путем записи информации в блок памяти через одноконтактный игольчатый зонд со всех

5 ее выводов в трудно .оступных местах и в узлах, покрытых защитным слоем лака.

Положительным эффектом предлагаемого устройства является возможность диагностирования интегральных мик росхем в условиях, где применение группового контактного зонда исключено1 при этом не требуется привлечения

15 высококвалифицированного персонала.

Устройство для контроля интеграль«

20 ных микросхем, содержащее одноконтактный зонд, соединяемый с выводом контролируемой микросхемы, эталонную микросхему, блок сравнения и индикатор исправности, о т л и ч а ю щ е е 5 с я тем, что, с целью расширения функциональных возможностей, в него введены блок памяти и коммутатор, причем вход коммутатора соединен с одноконтактным зондом, а его выходы соединены со входами блока памяти, выходы которого соединены с соответствующими входами блока сравнения и эталонной микросхемы, выходы которой соединены со входом индикатора исЗ5 пРав ности.

Источники информации,. принятые во внимание при экспертизе

1. Авторское свидетельство СССР

Р 441532, кл, G 01 R 31/28, 1974.

40 2. Авторское свидетельство СССР

Р 483633, кл. G 01 R 31/28, 1975.

ЦНИИПИ Заказ 8478/40

Тираж 1019 Подписное

Филиал ППП Патент ; г. Ужгород, ул. Проектная, 4