Измерением фотоэлектрического эффекта, например оже-электронов (G01N23/227)
G Физика(403185)
G01 Измерение (счет G06M); испытание
(233827)
G01N Исследование или анализ материалов путем определения их химических или физических свойств (разделение материалов вообще B01D,B01J,B03,B07; аппараты, полностью охватываемые каким-либо подклассом, см. в соответствующем подклассе, например B01L; измерение или испытание с помощью ферментов или микроорганизмов C12M,C12Q; исследование грунта основания на стройплощадке E02D1;мониторинговые или диагностические устройства для оборудования для обработки выхлопных газов F01N11; определение изменений влажности при компенсационных измерениях других переменных величин или для коррекции показаний приборов при изменении влажности, см. G01D или соответствующий подкласс, относящийся к измеряемой величине; испытание
(85240)
G01N23 Исследование или анализ материалов радиационными методами, не отнесенными к группе G01N21 или G01N22, например с помощью рентгеновского излучения, нейтронного излучения (G01N3-G01N17 имеют преимущество; измерение силы вообще G01L1; измерение ядерного или рентгеновского излучения G01T; введение объектов или материалов в ядерные реакторы, извлечение их из ядерных реакторов или хранение их после обработки в ядерных реакторах G21C; конструкция или принцип действия рентгеновских аппаратов или схемы для них H05G)
(2752)
G01N23/227 Измерением фотоэлектрического эффекта, например оже-электронов(27)
Способ определения тяжелых металлов в почве // 2670898
Изобретение относится к области спектроскопических измерений и касается способа определения тяжелых металлов в почве. При осуществлении способа исследуемый образец почвы наносят слоем толщиной 5-10 микрон на атомно-гладкую поверхность кристалла меди, отжигают при температуре 150°С в течение 5 минут и помещают в вакуумную камеру с давлением остаточных газов на уровне 10-8 миллибар.
Способ количественного определения химического состава вещества и энергий связи остовных электронов // 2170421
Изобретение относится к области анализа материалов с помощью рентгеновского излучения и может быть использовано для неразрушающего анализа химического состава многокомпонентных материалов и определения энергии связи остовного уровня атома, находящегося в определенном химическом состоянии.
Устройство для определения зависимости работы выхода электрона металлов и сплавов от температуры // 2008659
Изобретение относится к устройствам для исследования физико-химических свойств металлов и сплавов, а именно для определения температурной зависимости работы выхода электрона (РВЭ) металлов и сплавов в широкой области температур и составов.
Изобретение относится к методам исследования поверхности твердых тел с использованием электронных пучков и может быть использовано для проведения количественных измерений элементного состава поверхности методами оже-спектроскопии, фотоэлектронной спектроскопии, рентгеновского микроанализа.
Изобретение относится к технике исследования физических свойств приповерхностного слоя твердых тел (ТТ) и может использоваться при измерениях плотности уровней электронов вблизи поверхности Ферми и работы их выхода из ТТ.
Изобретение относится к области анализа элементного состава оксидных высокотемпературных сверхпроводников (ВТСП) и предназначено для установления содержания кислорода с помощью физических методов . .
Изобретение относится к способам определения химического состояния поверхности твердых тел и может быть использовано в физико-аналитическом пш оорзстооении, а также для исследованмй I, контооля в полупроводниковой техника , металловедении и ядерной физике.
Способ послойного анализа тонких пленок // 1651174
Изобретение относится к физическим методам анализа материалов электронной техники и может применяться для анализа тонких пленок методом Оже-спектроскопии Цель изобретения - повышение разрешения по глубине Для этого исследуемый образец облучают электронами с энергией 10-15 кэВ и одновременно со спектром Ожеэлектронов регистрируют характеристическое рентгеновское излучение исследуемого образца .
Изобретение относится к физическим методам исследования поверхностей твердых тел, покрытых адсорбированными пленками. .
Изобретение относится к измерению и контролю электрофизических параметров материалов электронной техники, в частности контролю химического состава твердых тел как на его поверхности, так и в глубинных слоях.
Изобретение относится к области физических методов исследования поверхности твердых тел и может использоваться для определения доли графитовой фазы в адсорбированной на металле углеродной пленке. .
Способ определения концентрации фосфора на поверхности изломов в сплавах, содержащих молибден // 1562809
Изобретение относится к электронной оже-спектроскопии и может быть использовано при исследовании инструментальных сталей и их сплавов. .
Способ исследования поверхности твердых тел // 1550389
Способ количественного электронно-зондового микроанализа образцов с шероховатой поверхностью // 1502990
Изобретение относится к электронно-зондовому микроанализу твердых тел. .
Изобретение относится к аппаратуре для физических исследований твердых тел методами вторичной эмиссии и может применяться для исследования диэлектриков методом фотоэлектронной эмиссии. .
Изобретение относится к области энергетического анализа заряженных частиц. .
Изобретение относится к физичес КИМ методам исследования состава.материалов , а более конкретно к способам анализа твердых тел методом электронной оже-спектроскопии. .
Изобретение относится к геологии и предназначено для минералогии. .
Спектрометр оже-электронов // 783661
