Функциональные испытания (G01R31/3181)

G01 Измерение (счет G06M); испытание (233827)

G01R Измерение электрических и магнитных величин (измерение физических величин любого вида путем преобразования их в электрические величины см. примечание 4 к кл. G01; измерение диффузии ионов в электрическом поле, например электрофорез, электроосмос G01N; исследование неэлектрических и немагнитных свойств материалов с помощью электрических и магнитных методов G01N; индикация точности настройки резонансных контуров H03J3/12; контроль электрических счетчиков H03K21/40; контроль работы системы связи H04) (35008)

G01R31 Устройства для определения электрических свойств; устройства для определения местоположения электрических повреждений; устройства для электрических испытаний, характеризующихся объектом, подлежащим испытанию, не предусмотренным в других подклассах (измерительные провода, измерительные зонды G01R1/06; индикация электрических режимов в распределительных устройствах или в защитной аппаратуре H01H71/04,H01H73/12, H02B11/10,H02H3/04; испытание или измерение полупроводниковых или твердотельных приборов в процессе их изготовления H01L21/66; испытание линий передачи энергии H04B3/46) (6575)

G01R31/3181 Функциональные испытания ( G01R31/3177 имеет преимущество)(14)

Способ постоянного поэлементного дублирования в цифровых транзисторных микросхемах // 2677359

Изобретение относится к способам поэлементного дублирования в нано- и микроцифровых транзисторных микросхемах, подвергающихся воздействию радиации. Технический результат: существенное повышение отказоустойчивости микросхем по сравнению со способом дублирования без использования четырехкратного резервирования одиночных транзисторов.

Устройство для контроля логических блоков // 2047870

Изобретение относится к технике налаживания блоков электрической аппаратуры, в частности к устройствам для контроля логических блоков, и может найти применение для программного контроля печатных плат. .

Устройство контроля интегральных схем // 1479899

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля интегральных схем (ИС). .

Устройство для функционального контроля цифровых узлов // 1465836

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при функциональном контроле больших интегральных схем. .

Устройство для функционального контроля цифровых интегральных схем // 1430915

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в устройствах контроля динамического функционирования цифровых интегральных схем. .