Зеркально-оптический способ исследования деформированного состояния моделей пластинок
Класс 421, 34в>
42k, 45м ссср
ОПИСАНИЕ @3OBPETEHI4R
К АВТОРСНОтМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Подписная грип.па Л н 172
А. П. Малов
ЗЕРКАЛЬНО-ОПТИЧЕСКИЙ СПОСОБ ИССЛЕДОВАНИЯ
ДЕФОРМИРОВАН НОГО СОСТОЯНИЯ МОДЕЛЕЙ ПЛАСТИ НОК
Заявлено 10 апреля 1961 г. за Л 726485/в5- -8 в Комитет ио делам изобретений и еткрвтии ири озстс инис.ров с . ". з- в
Опубликовано в «Бюл leTcl(c изобретений ."в <;1 l96! г.
Известны зеркально-оптические способы исследования деформированного состояния моделей пластинок, основанные rra фотографировании линий экрана, отраженных в зеркальной поверхности модели (см. статью Вожеп G, Shatter Jonznal АСГ1» № б,за 1955 г.). Однако известные способы нс обеспечивают треоусмой точности при исследовании. Кроме того, они трудоемки прп своем осуществлении. Предлагаемый способ указанного недостатка нс имеет. Зто достигается тем, что д,IF. осуществления способа применяется оптический кривизномер, на экранной насадке которого нанесена базовая окружность с фиксированными диаметрами. Кривизна в каждой точке определяется по замерам отраженной и сфотографированной окружности экранной насадки в положениях до и после дсформирования. На фиг. 1 изображена схема осуществления предлагаемого способа нг фпг. 2 — оптический кривизномер в общем впдс. K ere llêå 1 кре7 пится оамка 2, в которой устанавливается исследуемая модель 8. пзгоl товленная из упругого материала и имеющая с одной стороны I;Iaät óê) полированную поверхность. Параллельно зеркальной поверхности модели устанавливается координатная рамка 4 с кареткой о, Каретка перемещается по направляющим рамки и фиксируется винтами 6. По каретке о перемещается малая каретка 7, аналогичной конструкции. В каретке 7 крепится кривизномер 8, Так как на рамке 4 и каретке 5 имеются миллиметровые шкалы 9 то положение кривизномера 8 внутри контура координатнои 1 рамки каждый раз известно. Кривизномер 8 состоит из длиннофокусного объектива 10 с установочным кольцом 11 диафрагмы. Объектив при помощи раздвижного ¹ 143580 C тубуса 12 крестится к зеркальной узкопленочной фотокамере И, имеющей пентапризму 14,. позволяющую видеть прямое изображение объекта через окуляр 15. На объектив надевается экранная насадка 1б, на которой нанесена окружность с двумя :. зафиксированными взаимно-перпендикулярными диаметрами. В центре экранной головки — отверстие. Так как при работе объектив диафрагмируется до относительного отверстия 1/32 и 1/64, отверстие в экранной насадке делается меньше диаметра линз объектива. Плоскость экранной насадки подсвечивается лампами. Если модель пластинки не нагружена и ее отражающая поверхность не имеет искривлений, то линии экранной насадки без искажений отразятся в модели и могут быть сфотографированы. После приложения нагрузки произойдет деформация модели и отражающая ее поверхность известным образом искривится. Это повлечет за собой искажение отраженных линий экранной насадки. В таком положении производится вторичное фотографирование. По имеющемуся заключению предлагаемый способ прост в обращении и позволяет определять кривизну в любой точке модели с погрешностью, значительно меньшей, чем в существующих способах. Предмет изобретения Зеркально-оптический способ исследования деформированного сотояния моделей пластинок, основанный на фотографировании линий экрана, отраженных в зеркальной поверхности модели, о т л и ч а ющ н и с я тем, что, с целью повышения точности и уменьшения трудоемкости, используется оптический кривизномер, на экранной насадке которого нанесена базовая окружность с фиксированными диаметрами, а кривизна в каждой точке определяется по замерам отраженной и сфотографированной в положении до и после деформирования окружности экранной насадки, юг «« Составитель Е. И. Кривенко Текред Т. П. Курилко Корректор Ю. М. Федулова Редактор Е. Г. Манежева Объем 0,26 нзд. л. Цена 4 кон. Формат бум. 70 108>/ 6 Тираж 850 ЦБТИ при Комитете по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР Москва, Центр, М. Черкасский пер., д. 2/6 Поди. к и сч. l i. l l 1-62 Зак 2701 Типографи| ЦБТИ Комитета по делам изобрегений и открытий при Совете Министров СССР. Москва, Петровка, 14.
