Способ контроля процесса сушки сыпучих материалов

 

Изобретение относится к автоматизации процессов сушки. Цель изобретения - повышение качества контроля. Для этого предварительно определяют максимальную гигроскопическую влажность W<SB POS="POST">мг</SB> сыпучего материала (например, динамическим методом получения изотерм сорбции), измеряют температуры T<SB POS="POST">мто</SB> и T<SB POS="POST">мтк</SB> теплоносителя по "мокрому" термометру на входе и выходе из барабана 1 посредством датчиков 2 и 3, температуру T<SB POS="POST">м</SB> материала после сушки посредством датчика 4 и его влажность W<SB POS="POST">0</SB> до сушки датчиком 5. Полученную информацию подают на вход вычислительного устройства 6, где рассчитывают конечной влажности W<SB POS="POST">к</SB> , которое затем сравнивают в блоке 8 сравнения с величиной заданной требуемой влажности W<SB POS="POST">з</SB> высушенного материала, задаваемой задатчиком 9. Сигнал с блока 8 сравнения используют в качестве информации о состоянии процесса сушки. 2 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИН ()9) (11) (504 F 26 В 21 1О 25 22

p g g nnr е q

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К А BTOPCKOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ

° Ю

° а

° ° сею

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И OTHPblTHRM

ПРИ П(НТ СССР (21) 4218641/24-06 (22) 08.01.87 (46) 30.10.89. Бюл. Р 40 (71) Московский лесотехнический институт (72) А.Г.Банников, А.В.Валовой и Е.Е.Багдатьев (53) 66 ° 047.45.012(088 ° 8) (56) Авторское свидетельство СССР

Р 1092345, кл. F 26 В 25/22, 1982. (54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ ПРОЦЕССА СУШКИ

СЫПУЧИХ МАТЕРИАЛОВ (57) Изобретение относится к автоматизации процессов сушки. Цель изобретения — повышение качества контроля. Дпя этого предварительно определяют максимальную гигроскопическую влажность W „сыпучего материала (на2 пример, динамическим методом получения иэотерм сорбции), измеряют тем" пературы T„„ T „ теплоносителя по

"мокрому" термометру на входе и выходе из барабана 1 посредством датчиков 2 и 3, температуру Т материала после сушки посредством датчика 4 и

его влажность W до сушки датчиком

5. Полученную информацию подают на вход вычислительного устройства 6, где рассчитывают значение конечной влажности W, которое затем сравнивают в блоке 8 сравнения с величиной заданной требуемой влажности W высуФ шенного материала, задаваемой задатчиком 9, Сигнал с блока 8 сравнения используют в качестве информации о со стоянии процесс а сушки. 2 ил.

1518632 (2) T„p (И -И )+Ы .1п -ьл

0 к

Изобретение относится к способам контроля процесса сушки сыпучих материалов и может быть использовано в химической и других отраслях промышленности для создания систем управления сушкой сыпучих материалов.

Пель изобретения — повышение качества контроля.

На фиг. 1 представлена блок-схема 10 системы для реализации способа контроля процесса сушки сыпучих материалов; на фиг. 2 — алгоритм работы вычислительного устройства.

Система для реализации способа 15 контроля процесса сушки сыпучих материалов содержит сушильный барабан 1, датчики температуры теплоносителя по

"мокрому" термометру 2 и. 3 соответственно на входе и выходе из барабана 20

1, датчик 4 температуры высушенного материала, вычислительное устройство

6, задатчик 7 критической влажности, блок сравнения 8 и задатчик 9 требуемой влажности готового высушенного 25 материала.

Способ контроля процесса сушки сыпучих материалов (на примере сушки аммиачной селитры) реализуется следующим образом. 30

Измеряют параметры сушки: температуру теплоносителя по "мокрому" термометру на входе и выходе иэ барабана 1 Т„ и Т „посредством датчиков мт» мтк

2 и 3, температуру селитры после сушки Тм посредством датчика 4, влажность селитры до сушки W посредством датчика. 5, и полученную информацию подают на вход вычислительного устройства 6. Предварительно измеряют лабораторным путем максимальную гигроскопическую влажньсть М „селитры и это значение задают задатчиком 7, Было показано, что значения Ы „практи- 45 чески равны значениям критической влажности W p. Информация с выхода задатчика 7 поступает на вход вычислительного устройства 6, где в соответствии с алгоритмом, приведенным на фиг. 2, вычисляется значение конечной влажности селитры после сушки

W которое затем сравнивают на блоке сравнения 8 с величиной, заданной требуемой влажности высушенной селит55 ры Уз, задаваемой задатчиком 9, Сигнал с выхода блока сравнения 8 используют в качестве информации о состоянии процесса сушки.

Определение. максимальной гигроскопической влажности 11„рможно осуществить динамическим методом получения изотерм-сорбции, при этом для селитры в пределах одной партии величина

W оказывается постоянной. Поскольку динамический метод получения изотерм сорбции предусматривает определение влажности материала, средней по объему, при равновесии окружающего влажного газа фактически с поверхностью тела, т.е. в условиях, аналогичных динамическому равновесию между газом и материалом в реальных сушилках, то полученные значения W,,êàê указывалось выше, фактически равны значениям критической влажности 4 „».

Показано, что конечная влажность связана с критической влажностью

Укри критической температурой Т„р соотношением где С вЂ” коэффициент пропорциональности, зависящий от свойств материала (в частности, для аммиачной селитры C=0,015).

Для определения Т„ было получено выражение

Поскольку искомое значение 4 содержится в обоих выражениях (1) и (2), необходимо их совместное решение, которое осуществляют согласно приведенному на фиг. 2 алгоритму.

Алгоритм реализует метод численного решения уравнений, известный как метод деления отрезка пополам.

Для этого фиксируют параметры про"

>_#_ct а сушки Т Т;,„, T„, W, 1 кр . В связи с тем, что величина W имеет смысл только в пределах О < W < WÄ», к то начальным значениям промежуточных переменных М и W присваивается уменьшенная вдвое величина параметра 1!„р. При этом 4 — является проверяемой величиной параметра W а величина М, является корректирующей для проверяемой величины И . По присвоенному значению W и значениям параметт ров сушки T Tpt — å Т е ю W р H м р ответствии с зависимостями (1) и (2) вычисляют значения Т р и Wq По Вели чине Ы осуществляют проверку на сои

Фиг 7

Составитель С.Полянский

Р дактор В,Ковтун Техред Л.Сердюкова Корректор О.Ципле

Заказ 6593/44 Тираж .593 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", r Ужгород, ул. Гагарина,101

5 15)86 ответствие проверяемой величины W истинному значению Ы„, для чего величину коррекции уменьшают вдвое и присваивают еи значение h

W> сравнивается с Wz. В случае, если (М < Е, то новое значение Ы уменьшается по сравнению с 1. на величину

W

И увеличивают по сравнению с W на (( г величину V, после чего процесс вычисления повторяют. Та делают до тех пор, пока величина Иг не станет равной величине 1! . В этом случае вели П чине Ы„присваивается вычисленное зна-1 5 чение величины М„, которое затем срав-нивают в блоке сравнения 8 с заданной величиной требуемой конечной влажности селитры W .

32 6

Формул а изобретения

Способ контроля процесса сушки сыпучих материалов путем измерения температуры сушильного агента и влажности материала до и после сушки, отличающийся тем, что, с целью повышения качества контроля, предварительно определяют максимальную гигроскопическую влажность материала, измеряют температуру сушильного агента по "мокрому" термометру, измеряют температуру высушенного материала, определяют критическую температуру материала, рассчитывают значение текущей конечной влажности, сравнивают полученное значение с заданным и по результатам сравнения судят о состоянии процесса сушки.