Способ измерения толщины стенок труб

 

С П И С А Н И Е I64435

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик

Кл. 42b !2оз

Заявлено 28.П1.1963 г. (¹ 827403/26-10) МПК б Olb

Государственный комитет ло делам изобретений и открытий СССР

Опубликовано 13Л 111.1964 г. Бюллетеггь ¹ 15

Дата опубликования описания 18Х111.1964

Лвторы изобрегегпгя

H. А. Докунина, Н. И. Поденков и Г. П. Васильев

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛ1ЦИНЬ! СТЕНОК ТРУБ

Подписная групгга 114

Известны способы измерения толщины стенок труб, выполненных нз немагнитных матсриалов. Известны также способы измерения толщины изделий с помощью оптических устройств, служащих для отсчетов измеряемои величины.

Описываемый способ более совершенен, чем известные, так как позволяет производить измерение толщины стенок труб независимо от магнитных свойств материалов и повысить точность измерений.

Сущность способа заключается в том, что толщина стенок трубы измеряется по положению и|арика, используемого в качестве марки для визирования оптического отсчетного устройства. Шарик закатывается внутрь трубы и удер>кивается в контакте с нижней образуюшей внутренней стенки трубы с помощью электрохгапгита. Труба опирается на ролик, являющийc51 частью сердечника магнита.

Толщина стенки трубы определяется как разность отсчетов положения шарика (его высшей точки), положения опорного ролика и д:гаметра шарика.

В качестве отсчетного устройства используется, например, катетометр КМ-5.

Предмет изобретения

Способ измерения толщины стенок труб с

10 помощью оптико-механического отсчетного устройства, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и осуществления контроля толщины стенок труб, выполненных как из магнитных, так и немагнитных материа15 лов, измерения производят по положению шарика, используемого в качестве марки для визирования, который перемещают внутри трубы и удерживают в фокальной плоскости опти;еского отсчетного устройства с помощью

20 электромагнита.

Способ измерения толщины стенок труб 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного измерения толщины и показателя преломления прозрачных слоев

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного автоматического измерения толщины прозрачных материалов, например листового стекла, в непрерывном производственном процессе

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к оптическим интерферометрам, и может быть использовано для непрерывного бесконтактного измерения геометрической толщины прозрачных и непрозрачных объектов, например листовых материалов (металлопроката, полимерных пленок), деталей сложной формы из мягких материалов, не допускающих контактных измерений (например, поршневых вкладышей для двигателей внутреннего сгорания), эталонных пластин и подложек в оптической и полупроводниковой промышленности и т.д

Изобретение относится к оптическим способам измерения толщин слоев прозрачных жидкостей и может быть использован для бесконтактного определения толщин слоев прозрачных жидкостей в лакокрасочной, химической и электронной промышленности, а также в физических и химических приборах

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к интерференционным способам измерения оптической толщины плоскопараллельных объектов и слоев

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в черной и цветной металлургии для измерения толщины проката в условиях горячего производства без остановки технологического процесса

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для неразрушающего контроля толщины пленок, в частности в устройствах для измерения и контроля толщины пленок фоторезиста, наносимых на вращающуюся полупроводниковую подложку в процессе центрифугирования в операциях фотолитографии

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для неразрушающего контроля толщины и измерения разнотолщинности пленок, в частности в устройствах для нанесения фоторезиста в операциях фотолитографии

Изобретение относится к оптическим способам измерения толщины слоя прозрачной жидкости
Наверх