Способ отработки биполярных транзисторов

 

Способ отбраковки биполярных транзисторов, включающий подачу на биполярный транзистор тока эмиттера и напряжения база-коллектор, определение информативных параметров биполярных транзисторов и сравнение их с эталоном, отличающийся тем, что, с целью повышения точности способа, напряжение база-коллектор устанавливают равным его предельно допустимому значению, изменяют ток в диапазоне его допустимых значений, устанавливают его значение, при котором статический дифференциальный коэффициент прямой передачи тока при котором замыкании на выходе при включении биполярного транзистора по схеме с общей базой достигает максимального значения, измеряют при этой величине тока эмиттера значение статического дифференциального коэффициента прямой передачи тока при коротком замыкании на выходе при включении биполярного транзистора по схеме с общей базой и значение его выходной проводимости при холостом токе на входе при включении по схеме с общей базой, устанавливают величину тока эмиттера равной нулю, измеряют значение выходной проводимости при холостом токе на входе при включении биполярного транзистора по схеме с общей базой и определяют информативный параметр биполярного транзистора по формуле где П - информационный параметр биполярного транзистора; h21Б - статический дифференциальный коэффициент прямой передачи тока при коротком замыкании на входе при включении по схеме с общей базой; IЭ - ток эмиттера, при котором величина h21Б достигает максимума; h22Б - выходная проводимость при холостом токе на входе при включении по схеме с общей базой, измерения при эмиттерном токе IЭi; ho2 - выходная проводимость при холостом токе на входе при включении по схеме с общей базой, измеренная при эмиттерном токе IЭ = 0.



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к устройствам контроля полупроводниковых приборов - диодов и биполярных транзисторов

Изобретение относится к радиоэлектронике и может быть использовано при неразрушающем контроле качества и надежности электронных компонентов

Изобретение относится к метрологии многоэлементных фотоприемников (МФП) и может быть использовано для измерения коэффициента фотоэлектрической связи между чувствительными элементами МФП

Изобретение относится к способам измерения электрических параметров электрически репрограммируемых запоминающих устройств на основе структуры проводник - нитрид кремния - оксид кремния - полупроводник и может быть использовано для контроля напряжения программирования на этапах разработки и серийного производства

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может найти применение в электронной технике для измерения напряжений на диэлектрике и полупроводнике, а также их временного изменения в МДПДМ-структурах

Изобретение относится к технике контроля параметров полупроводников и предназначено для локального контроля параметров глубоких центров (уровней)

Изобретение относится к электронике и при использовании позволяет повысить точность контроля заданной величины отрицательного дифференциального сопротивления за счет изменения соотношения глубины положительных и отрицательных обратных связей в элементе с регулируемыми напряжениями и токами включения и выключения

Изобретение относится к области электротехники и может быть использовано при конструировании и производстве тиристоров

Изобретение относится к радиационной испытательной технике и может быть использовано при проведении испытаний полупроводниковых приборов (ППП) и интегральных схем (ИС) на стойкость к воздействию импульсного ионизирующего излучения (ИИИ)

Изобретение относится к области измерения и контроля электрофизических параметров и может быть использовано для оценки качества технологического процесса при производстве твердотельных микросхем и приборов на основе МДП-структур

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения электрофизических параметров материалов, и может быть использовано для контроля качества полупроводниковых материалов, в частности полупроводниковых пластин

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для контроля полярности выводов светодиодов

Изобретение относится к области теплового неразрушающего контроля силовой электротехники, в частности тиристоров тиристорных преобразователей, и предназначено для своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода изделия в целом в специальный контрольный режим
Наверх